【摘要】X射線光電子譜(XPS)X-rayPhotoelectronSpectroscopyQing-YuZhangStateKeyLaboratoryforMaterialsModificationbyLaser,IonandElectronBeamsXPS??引言?X射線光電子譜是重要的表面分析技術(shù)之一。它不僅能探測表面的化
2025-03-11 03:37
【摘要】X射線光電子能譜學(xué)?射線誘發(fā)的光電子能譜技術(shù)通常分為兩類:紫外光電子能譜(UPS)和X射線光電子能譜(X-RayPhotoelectronSpectroscopy,簡稱XPS)。?XPS最早是在原子物理實(shí)驗(yàn)室用來系統(tǒng)測量各種元素原子的電子束縛能,70年代初超高真空技術(shù)開始與XPS相結(jié)合。如今XPS已成為材料表面分析
2025-07-14 01:17
【摘要】X射線光電子能譜分析X-rayPhotoelectronSpectroscopy表面分析技術(shù)(SurfaceAnalysis)是對(duì)材料外層(theOuter-MostLayersofMaterials(100nm))的研究的技術(shù)X-rayBeamX-rayperationdepth~1mm.Electronscanbe
2025-02-04 01:40
【摘要】Page?1XRD、XPS分析方法趙穎-2022021484材料試驗(yàn)方法Page?2X射線衍射儀Page?3X射線管Page?4X射線的產(chǎn)生與性質(zhì)在真空中當(dāng)高速運(yùn)動(dòng)的電子撞擊靶時(shí)產(chǎn)生X射線。Page?5X射線產(chǎn)生的條件:??加熱燈絲產(chǎn)生電子
2025-06-29 18:45
【摘要】X—射線光電子能譜(X-rayPhotoelectronSpectroscopy)?XPS的發(fā)展?基本概念?XPS的工作流程及原理?XPS譜線中伴峰的來源?XPS譜圖中伴峰的鑒別?利用XPS譜圖鑒別物質(zhì)?XPS的實(shí)驗(yàn)方法?XPS譜圖的解釋步驟?XPS的特點(diǎn)主要內(nèi)容:
2024-12-05 21:53
【摘要】X射線光電子譜(XPS)X-rayPhotoelectronSpectroscopy常用表面分析方法與用途?XPS、AES和SIMS是目前廣泛使用的三種表面分析技術(shù)。XPS的最大特色在于能獲取豐富的化學(xué)信息,對(duì)樣品表面的損傷最輕微,定量分析較好。SIMS的最大特色是檢測靈敏度非常高,并可分析H和He以及同位素,可
2025-03-08 01:30
【摘要】第七章電子能譜X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術(shù),主要用來表征材料表面元素及其化學(xué)狀態(tài)?;驹?使用X-射線與樣品表面相互作用,利用光電效應(yīng),激發(fā)樣品表面發(fā)射光電子,利用能量分析器,測量光電子動(dòng)能,根據(jù)=。我們就是為了得到樣品的結(jié)合能!§電
2025-02-06 05:53
2024-09-14 10:34
【摘要】第八章電子能譜根據(jù)激發(fā)源的不同,電子能譜又分為:X射線光電子能譜(簡稱XPS)(X-RayPhotoelectronSpectrometer)紫外光電子能譜(簡稱UPS)(UltravioletPhotoelectronSpectrometer)俄歇電子能譜(簡稱AES)(AugerElectronSp
2025-07-13 16:46
【摘要】X射線光電子能譜數(shù)據(jù)處理及分峰步驟中國科學(xué)院化學(xué)研究所劉芬Region120235301248102550XPSAlK-alpha00000FAT301E+3700000N1sN
【摘要】第五章X-射線光電子能譜(X-rayPhotoelectronSpectroscopy(XPS)ESCA)一概述n表面分析技術(shù)(SurfaceAnalysis)是對(duì)材料外層(theOuter-MostLayersofMaterials(100?))的研究的技術(shù)。包括:n1電子譜學(xué)(ElectronSpectr
2025-02-03 12:11
2024-12-03 21:08
【摘要】X射線光電子能譜分析X-rayPhotoelectronSpectroscopy表面分析技術(shù)(SurfaceAnalysis)是對(duì)材料外層(theOuter-MostLayersofMaterials(100nm))的研究的技術(shù)X-rayBeamX-rayperationdepth~1mm.Electron
2025-06-24 18:15
【摘要】第七章電子能譜X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術(shù),主要用來表征材料表面元素及其化學(xué)狀態(tài)。基本原理:使用X-射線與樣品表面相互作用,利用光電效應(yīng),激發(fā)樣品表面發(fā)射光電子,利用能量分析器,測量光電子動(dòng)能,根據(jù)=。我們就是為了得到樣品的結(jié)合能!§電
2025-02-06 06:20
2025-03-13 10:38