【摘要】電子探針X射線顯微分析一、引言?電子探針X射線顯微分析(簡稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicroanalysis,簡稱EPMA),它用一束聚焦得很細(xì)(50nm~1μm)的加速到5kV-30kV的電子束,轟擊用光學(xué)顯微鏡選定的待分析試樣上某個“點”(一般直徑為1-50um),利用試樣受到轟擊時發(fā)射的X射線的波
2025-06-17 01:47
【摘要】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子分辨率已達(dá)1n
2025-02-03 05:38
【摘要】電子衍射分析金蒸發(fā)膜的多晶衍射花樣Ni基高溫合金中M23C6碳化物的單晶衍射花樣Bragg定律:2dsin?=?電子衍射的衍射角很小,??1?電子衍射的相機常數(shù)R=Ltg2?,由于??1?,tg2??2sin?,由Bragg定律,可得:Rd=
2025-03-08 11:34
【摘要】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個主要附件,可以進行結(jié)構(gòu)分析對材料進行微觀分析,要看其形態(tài)如何,晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的,等等,可以用光學(xué)顯微鏡、SEM、TEM等來觀察;要研究其微區(qū)成分,可用SEM+EDS,用EPMA,用
2025-01-24 23:44
【摘要】?材料的固有性質(zhì)、材料的結(jié)構(gòu)與成分、材料的使用性能和材料的合成與加工構(gòu)成材料研究的四大要素。?任何一種材料的宏觀性能或行為,都是由其微觀組織結(jié)構(gòu)所決定的。第二章電子顯微分析緒論?現(xiàn)代材料科學(xué)的發(fā)展在很大程度上依賴于對材料性能和成分結(jié)構(gòu)及微觀組織關(guān)系的理解;對材料在微觀層次上的表征技術(shù),構(gòu)成了材料科學(xué)的一個重要組成部分
2025-05-09 05:59
【摘要】第十一章電子探針X射線顯微分析?概述?顯微分析特點?構(gòu)造與工作原理?樣品制備?分析方法一、概述?電子探針是電子探針X射線顯微分析儀的簡稱,英文縮寫為EPMA(ElectronprobeX-raymicroanalyser)。?電子探針儀是一種微區(qū)成分分析儀器,它利用
2025-02-04 22:41
【摘要】第七章電子顯微分析樣品入射電子Auger電子陰極發(fā)光背散射電子二次電子X射線透射電子1.透射電鏡的構(gòu)造2.透射電鏡的主要性能指標(biāo)3.透射電鏡的襯度形成原理4.透射電鏡研究用高分子樣品制備方法3.透射電鏡在高分子研究中的應(yīng)用Part1透
2025-06-29 12:34
【摘要】掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析1.掃描電子顯微鏡的工作原理及特點掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發(fā)射的能量為5~35keV的電子,以其交叉斑作為電子源,經(jīng)二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束
2025-02-03 05:37
【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-03-04 04:31
【摘要】?電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題?透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射?金屬薄膜成像?復(fù)型?掃描電子顯微分析第二篇電子顯微分析術(shù)電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題光學(xué)顯微鏡的局限性電子性質(zhì)電子透鏡的像差成像透鏡及性質(zhì)?分辨本領(lǐng):?指光學(xué)儀器所能區(qū)分的兩
2025-03-04 07:00
【摘要】電子顯微分析與應(yīng)用?1.透射電子顯微分析?2.掃描電子顯微分析?3.微區(qū)元素分析?4.微區(qū)物相分析?5.應(yīng)用舉例答疑地點:分析測試中心(校醫(yī)院斜對面)205答疑人:王超電話:13775988566電子顯微分析與應(yīng)用電子顯微分析的概念利用經(jīng)過聚焦的高能電子照射樣
2025-06-18 18:11
【摘要】在18900倍下對PVC糊樹脂近行觀測應(yīng)用實例在26000倍下觀測碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬倍,幾乎覆蓋
2025-06-29 18:43
【摘要】第三節(jié)透射電子顯微分析一、透射電子顯微鏡透射電鏡主要由光學(xué)成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)三部分組成。(1)光學(xué)成像系統(tǒng)?照明部分是產(chǎn)生具有一定能量、足夠亮度和適當(dāng)小孔徑角的穩(wěn)定電子束的裝置,包括:電子槍聚光鏡(2)成像放大系統(tǒng)–物鏡–中間鏡–投影鏡(3)
2025-06-15 00:21
【摘要】Dept.ofMSE,CQU1第十章掃描電子顯微分析材料現(xiàn)代測試方法掃描電子顯微分析Dept.ofMSE,CQU2本章主要內(nèi)容概述掃描電鏡的特點和工作原理掃描電鏡的主要性能
2025-03-04 06:53
【摘要】1第九章透射電子顯微分析第一節(jié)透射電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造第二節(jié)樣品制備第三節(jié)透射電鏡基本成像操作及像襯度第四節(jié)TEM的典型應(yīng)用及其它功能簡介2顯微鏡的發(fā)展17世紀(jì)中期制做的復(fù)式顯微鏡19世紀(jì)中期的顯微鏡20世紀(jì)初期的顯微鏡帶自動照相機的光學(xué)顯微鏡裝有場發(fā)射
2025-02-21 21:08