電子顯微分析ppt課件-在線瀏覽
2025-06-29 12:34本頁面
【正文】 達 放大率 ?電子圖像相對于試樣的線性放大倍數(shù) ?放大率可調(diào)節(jié) 襯度（ contrast） ? TEM圖像中亮和暗的區(qū)別 ?兩個相臨部分的電子束強度差。 ? 當電子逸出試樣下表面時，由于試樣對電子束的作用，使得透射到熒光屏上的強度是不均勻的，這種強度不均勻的電子象稱為襯度象。 ?衍射襯度 (Diffraction contrast)： 由于試樣各部分滿足布拉格條件的程度不同以及結(jié)構(gòu)振幅不同而產(chǎn)生的（主要用于晶體材料）。 質(zhì)厚襯度 ? 質(zhì)厚襯度的形成：由于試樣各部分對電子散射能力不同，使得透射電子數(shù)目不同，而引起強度差異，形成襯度。 衍射襯度 晶粒 A與入射束不成布拉格角，不產(chǎn)生衍射，透射束強度 IA=I0 晶粒 B與入射束滿足布拉格衍射，衍射束強度為 Ihkl，透射束強度 IB=I0Ihkl 如果讓透射束通過 物鏡光闌 ，擋住衍射束， A晶粒比 B晶粒亮 (明場象 )。 ?電子束的穿透能力較弱，不能觀察厚樣品。 TEM的樣品制備方法 : 支持膜法 復型法 超薄切片法 高分子材料必要時還要 : 染色 刻蝕 支持膜法 粉末試樣和膠凝物質(zhì)水化漿體多采用此法。 支持膜材料必須具備下列條件：①本身沒有結(jié)構(gòu)，對電子束的吸收不大；②本身有一定的力學強度和剛度，能忍受電子束的照射而不致畸變或破裂；③易確定厚度，易進行真空鍍膜。 上述材料除了單獨能做支持膜材料外，還可以在火棉膠等塑料支持膜上再鍍上一層碳膜，以提高其強度和耐熱性。 復型法 研究塊狀聚合物和纖維表面結(jié)構(gòu)， 對于在電鏡中易起變化的樣品和難以制成電子束可以透過的薄膜的試樣多采用復型法。 只能作為試樣形貌的觀察和研究，而不能用來觀察試樣的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。如果要用透射電鏡研究大塊聚合物樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可采用此法制樣。選擇不同的配方來調(diào)節(jié)介質(zhì)的硬度，使之與樣品的硬度相匹配。 染色和蝕刻 大多數(shù)聚合物在用質(zhì)厚襯度成象時圖象的反差很弱，因此，由超薄切片得到的試樣還不能直接用來進行透射電鏡的觀察，還需要通過染色或蝕刻來改善襯度。 通過選擇性的化學、物理作用，加大聚合物試樣表面的起伏程度。 化學試劑蝕刻 使試樣表面某一類微區(qū)容易發(fā)生氧化降解作用，使反應生成的小分子物更容易被清洗掉，從而顯露出聚合物體系的多相結(jié)構(gòu)來。 蝕刻 5. 透射電鏡在高分子研究中的應用 ?研究高分子的結(jié)
教學課件相關推薦
鄂ICP備17016276號-1