【正文】 (LCL) 控制圖是用于 分析和控制過程質(zhì)量的一種方法 。 μ =0， σ=1時正態(tài)分布稱為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布簡記為 N(0， 1)。3σ % % % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 7. 正態(tài)分布簡介 ? x為總體的取值 ? μ是總體的平均值，是位置參數(shù)，是改變正態(tài)分布曲線的位置，不改變形狀； ? σ是總體標(biāo)準(zhǔn)差，表示數(shù)據(jù)分散程度的統(tǒng)計量，是形狀參數(shù)，不改變正態(tài)曲線的位置，改變其形狀大（矮胖）?。ǜ呤荩?； ? 實際運用中 σ用 s（ 樣本標(biāo)準(zhǔn)差）、 μ用 x（ 樣本均值）代替，即 σ≈s、 μ≈x 。2σ % % μ177。1σ % % μ177。kσ 在內(nèi)的概率 在外的概率 μ177。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定 4. 普通原因和特殊原因 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 但它們形成一個模型 ,若穩(wěn)定 ,可以描述為一個分布 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 或這些因素的組合 位置 分布寬度 形狀 4. 普通原因和特殊原因 目標(biāo)值線 預(yù)測 時間 范圍 范圍 時間 目標(biāo)值線 如果僅存在變差的普通原因， 隨著時間的推移，過程的輸出 形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測 如果存在變差的特殊原因， 隨著時間的推移，過程的 輸出不穩(wěn)定 4. 普通原因舉例 ? 合格原料的微小變化 ? 機械的微小震動 ? 刀具的正常磨損 ? 氣候、環(huán)境的微小變化等 4. 特殊原因舉例 ? 使用不合格原料 ? 設(shè)備調(diào)整不當(dāng) ? 新手作業(yè) ? 違背操作規(guī)程 ? 刀具過量磨損等 4. 普通原因、特殊原因示意圖 普通原因 的波動范圍 特殊原因?qū)е? 的波動范圍 特殊原因?qū)е? 的波動范圍 UCL LCL CL 5. 局部措施 ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實施 ? 大約可糾正 15%的過程問題 5. 系統(tǒng)措施 ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 5. 局部措施、系統(tǒng)措施示意圖 解決普通原因 的系統(tǒng)措施 解決特殊原因 的局部措施 解決特殊原因 的局部措施 UCL LCL ? 假定過程是處于受控狀態(tài)，一旦顯示偏離這一狀態(tài)，極大可能是過程失控，需要及時調(diào)整 ? 產(chǎn)品質(zhì)量波動原因是由普通原因和特殊原因引起的，產(chǎn)品質(zhì)量總是變化的 ? 受控狀態(tài)：指僅由普通原因引起的質(zhì)量波動，受控狀態(tài)的產(chǎn)品質(zhì)量也應(yīng)該是波動的 ? SPC應(yīng)用概率論基本原理： 1) 小概率事件在一次試驗當(dāng)中是不可能發(fā)生的 (指發(fā)生機會非常小的事件 )； 2) 過程分布是呈現(xiàn)正態(tài)分布 6. 統(tǒng)計過程控制思想 直方圖中對稱型的形狀是“中間高，兩邊低，左右基本對稱”。只有變差的普通原因存在且不改變時，過程的輸出才可以預(yù)測 ? 特殊原因： 指的是造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成 (整個 )過程的分布改變。如原材料不合格，設(shè)備出現(xiàn)故障，工夾具不良，操作者不熟練等。正常波動引起工序質(zhì)量微小變化，難以查明或難以消除。 5. SPC常用術(shù)語解釋 第二部分 : SPC統(tǒng)計過程控制原理 18 目 錄 ? 1. SPC解決問題思路 ? 2. 預(yù)防與檢驗 ? 3. 波動的概念理解 ? 4. 普通原因和特殊原因 ? 5. 局部措施和系統(tǒng)措施 ? 6. 統(tǒng)計過程控制思想 ? 7. 正態(tài)分布簡介 ? 8. 統(tǒng)計控制狀態(tài) ? 9. 過程控制和過程能力 1. SPC解決問題思路 通過以往的數(shù)據(jù) 了解正常的變異范圍 設(shè)定成制造控制界限 繪點判定是否超出界限 糾正可能的異常 持續(xù)改進，縮小控制界限 2. 預(yù)防與檢驗 PROCESS 原料 人 機 法 環(huán) 測量 測量 結(jié)果 好 不好 不要等產(chǎn)品做出來后再去看它好不好 而是在制造的時候就要把它制造好 測量 2. 對過程控制理解 預(yù)防與檢驗 檢驗 ——容忍浪費 預(yù)防 ——避免浪費 SPC和產(chǎn)品檢驗有何區(qū)別、聯(lián)系 : 規(guī)范上限： USL 控制上限： UCL 控制下限： LCL 規(guī)范下限： LSL SPC： 事前預(yù)防 檢驗：事后反應(yīng) 規(guī)范上限： USL： UPER SPECIFICATION LIMMITED 控制上限： UCL： UPER CONTROL LIMMITED 控制下限： LCL： LOWER CONTROL LIMMITED 規(guī)范下限： LSL： LOWER SPECIFICATION LIMMITED 3. 波動的概念 ? 波動：是指在現(xiàn)實生活中沒有兩件東西是完全一樣的 ? 生產(chǎn)實踐證明：無論用多么精密的設(shè)備和工具，多么高超的操作技術(shù)，甚至由 同一操作工 ，在同一設(shè)備 上，用 相同的工具 ，用 相同材料 的 生產(chǎn)同種產(chǎn)品 ，其加工后的 質(zhì)量特性 （如：重量、尺寸等）總是有差異，這種差異稱為 波動 ? 公差制度實際上就是對這個事實的客觀承認(rèn) ? 消除波動不是 SPC的目的，但通過 SPC可以對波動進行預(yù)測和控制 3. 制造過程組成和波動原因 波動原因 人 機器 材料 方法 測量 環(huán)境 3. 波動的種類 ? 正常波動：是由 普通 (偶然 )原因 造成的。 計量型數(shù)據(jù)（ Variables Data） 定量的數(shù)據(jù)，可用量測值分析。 過程能力 (Process Capability) 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用 Z來表示。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性的圖形。 變差（ Variation） 過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的點。 中心線（ Central Line） 控制圖上的一條線，代表所給數(shù)據(jù)平均值。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 ? 日本在 1950年由 . Deming博士引到日本 ? 同年日本規(guī)格協(xié)會成立了質(zhì)量管理委員會，制定了相關(guān)的 JIS標(biāo)準(zhǔn) 1924年發(fā)明 . Shewhart 1931發(fā)表 1931年 Shewhart發(fā)表了“ Economic Control of Quality of Manufacture Product” 《 工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量的經(jīng)濟控制》 1941~1942 制定成美國標(biāo)準(zhǔn) Z111941 Guide for Quality Control Z121941 Control Chart Method for analyzing Data Z131942 Control Chart Method for Control Quality During Production SPC統(tǒng)計過程控制 1924年 . Shewhart提出 SPD統(tǒng)計過程診斷 侯鐵林 1947年提出多元 T控制圖 張公緒 1982年提出兩種質(zhì)量多元 逐步診斷理論等 SPA統(tǒng)計過程調(diào)整 90年代起由 SPD發(fā)展為 SPA， 國外稱之為 ASPC（ 算法的統(tǒng)計過程控制） 仍在發(fā)展過程之中 1. 控制圖的發(fā)展 1. 控制圖應(yīng)用范例 ? 1984年日本名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查了 115家日本各行各業(yè)的中小型工廠，結(jié)果發(fā)現(xiàn)平均每家工廠采用 137張控制圖； ? 美國柯達彩色膠卷公司有 5000多名職工，一共應(yīng)用了 35000張控制圖，平均每名職工做七張控制圖 ? 目的：尋找有效的方法來提供產(chǎn)品和服務(wù)，并不斷在價值上得以改進； ? 目標(biāo)：是達到顧客滿意（包括內(nèi)部和外部顧客）； ? 對象：從事統(tǒng)計方法應(yīng)用的管理人員； ? 范圍：基本統(tǒng)計方法包括與統(tǒng)計過程控制及過程能力分析有關(guān)的方法，但不是全部 2. SPC應(yīng)用范圍 a) 收集數(shù)據(jù)并用統(tǒng)計方法解釋不是最終目標(biāo)，最終目標(biāo)是對實現(xiàn)過程的不斷理解； b) 研究變差和應(yīng)用統(tǒng)計知識改進性能的基本概念適用于任何領(lǐng)域； c) 結(jié)合實際過程控制理解； d) 只是應(yīng)用統(tǒng)計方法的開始； e) 假設(shè)的前提： 測量系統(tǒng)處于受控狀態(tài)并對數(shù)據(jù)的總變差沒有大的影響 2. SPC應(yīng)用范圍 3. SPCSQC PROCESS 原料 測量 結(jié)果 針對產(chǎn)品所做的仍只是在做 SQC 針對過程的重要控制參數(shù)所做的才是 SPC 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 過程的呼聲 統(tǒng)計方法 我們工作 的方式 / 資源的融合 產(chǎn)品或 服務(wù) 顧客 識別不斷變化 的需求和期望 顧客的呼聲 輸入 輸出 過程 /系統(tǒng) 人 設(shè)備 材料 方法 環(huán)境 4. 過程的理解 5. SPC常用術(shù)語解釋 平均值（ X） 一組測量值的均值 極差（ Range） 一個子組、樣本或總體中最大與最小值之差 σ（ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母σ或字母 s（ 用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。 1. 控制圖的歷史 ? 休哈特在 20世紀(jì) 20年代提出了過程控制理論以及監(jiān)視和控制過程的工具 控制圖； ? 世界上第一張控制圖是休哈特在 1924年 5月 16日提出的不合格品率 (p)控制圖； ? 休哈特主要貢獻在于： 1) 應(yīng)用過程控制理論能夠在生產(chǎn)線上保證預(yù)防原則的實現(xiàn)。統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control 上海信思德企業(yè)管理咨詢有限公司 1 主要內(nèi)容 ? 第一部分 : SPC統(tǒng)計過程控制概述 ? 第二部分 : SPC統(tǒng)計過程控制原理 ? 第三部分 : SPC控制圖 ? 第四部分 : 計量型控制圖制作步驟及判定原則 第五部分 : 計數(shù)型控制圖制作步驟及判定原則 第一部分 : SPC統(tǒng)計過程控制概述 3 目 錄 ? 1. 控制圖的歷史 ? 2. SPC應(yīng)用范圍 ? 3. SPCSQC理解 ? 4. 過程理解 ? 5. SPC常用術(shù)語 1. 控制圖的歷史 ? 控制圖是 1924年由美國品管大師 . Shewhart博士發(fā)明。因其用法簡單且效果顯著，人人能用，到處可用，遂成為實施質(zhì)量管理時不可缺少的主要工具，當(dāng)時稱為 (Statistical Quality Control)。2) 在產(chǎn)