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2025-02-24 20:35本頁面
【正文】 小 準確度差 精密度高 系統(tǒng)誤差大 偶然誤差小 準確度高 精密度差 系統(tǒng)誤差小 偶然誤差大 準確度差 精密度差 系統(tǒng)誤差大 偶然誤差大 169。John Z. Rao 2023 6 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之一 檢測與預防 ? 過程控制的需要 ? 檢測 —容忍浪費 ? 預防 —避免浪費 169。John Z. Rao 2023 8 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之三 變差的普通原因及特殊原因 169。 ? 二十世紀二十年代美國休哈特 ()首創(chuàng)過程控制 (Process Control)理論極其監(jiān)控過程的工具 —控制圖 (Control Chart)形成 SPC的基礎，后擴展到任何可以應用的數理統(tǒng)計方法。 ? 1924年 5月 6日休哈特提出的不合格樣品率 P控制圖為世界第一張控制圖。John Z. Rao 2023 10 產品質量的統(tǒng)計觀點一 ? 產品質量具有變異性 影響產品質量的因素有 6M Man: 人 Machine: 機 Material: 料 Method: 法 Mothernature: 環(huán) Measurement: 測 ? 無論人類社會如何進步發(fā)展，產品質量不可能保持絕對恒定，一定具有變異性。John Z. Rao 2023 11 產品質量的統(tǒng)計觀點二 ? 產品質量的變異具有統(tǒng)計規(guī)律性 確定性現(xiàn)象，確定性規(guī)律：在一定條件下，必然發(fā)生或不可能發(fā)生的事情。 溫度 ? 0℃ 固體狀態(tài) 溫度 0 ℃ t 100 ℃ 液體狀態(tài) 溫度 ? 100 ℃ 氣體狀態(tài) ? 隨機現(xiàn)象，統(tǒng)計規(guī)律：在一定條件下事件可能發(fā)生也可能不發(fā)生的現(xiàn)象。 169。 ? 計量特性值：如 PCB金手指厚度、重量或時間等連續(xù)性數據，最常見的是正態(tài)分布 (normal distribution)。 ? 計點特性值：如每條內存上少錫點數等離散性數據，最常見的是泊松分布 (Poisson distribution)。 169。如 100條 PCB金手指厚度，標準 50?。John Z. Rao 2023 14 正態(tài)分布 ? 正態(tài)分布：直方圖所取得數據越多，分組越密，則直方圖就越趨近一條光滑的曲線。 169。John Z. Rao 2023 16 平均值對正態(tài)的曲線的影響 ? 若平均值增大，則正態(tài)曲線往右移動，見 ?‘ ? 若平均值減小，則正態(tài)曲線往左移動，見 ?“ ?“ ? ?’ 169。無論平均值如何變化都不會改變正態(tài)分布的形狀，即標準差 ?；無論標準差如何變化，也不會影響數據的對稱中心，即平均值 ?。John Z. Rao 2023 18 標準差對正態(tài)曲線的影響 ? 若標準差越大，則數據分布越分散，波動范圍大； ? 若標準差越小，則數據分布越集中，波動范圍小。John Z. Rao 2023 19 控制圖原理 ? 3?原則 ? 不論 ?與 ?取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為 3 ? ，則產品質量特征值落在范圍內的為 %，這是數學計算的精確值，應該牢牢記住。 ? 休哈特正是據此發(fā)明了控制圖。John Z. Rao 2023 20 控制圖原理 ? 控制圖的形成： ? 將正態(tài)分布圖按順時針方向旋轉 90176。 ，得到圖 C。圖中 UCL= ? +3?為上控制限， CL= ?為中心線， LCL= ? 3?為下控制限。John Z. Rao 2023 21 判異規(guī)則（一） ? 點出界就判異 ? 如上圖第四點已超出 UCL，故判斷過程異常。若過程異常， ?值增大，分布曲線整體上移，則點子超出 UCL的概率大大增加，可能是的幾十倍、幾百倍。 169。通常這種錯誤的概率記為 ?。通常這種錯誤的概率為 ? 。John Z. Rao 2023 23 判異準則 Criteria for abnormality 1. 點出界就判異； 2. 雖然點均未出界，但界內點排列不隨機就判異； ? 第二條準則的具體模式理論上有無窮多種，但具有實際物理意義并被廣泛使用的有少數幾種。John Z. Rao 2023 24 常規(guī)休哈特控制圖 數據特征 分布 控制圖 簡記 備注 計量值 正態(tài)分布 均值 — 極差控制圖 XR 可取消 均值 — 標準差控制圖 XS 中位值 — 極差控制圖 XR 可取消 單值 — 移動極差控制圖 XRs 計件值 二項分布 不合格品率控制圖 p 不合格品數控制圖 np 計點值 泊松分布 單位不合格數控制圖 u 不合格數控制圖 c 169。John Z. Rao 2023 26 計數型數據的控制圖 ? 準備工作 ? 建立一個好的行動環(huán)境 ? 定義過程 ? 確定要管理的特性 ? 應考慮 – 顧客的需求 – 當前及潛在的問題領域 – 特性之間的關系 ? 定義測量系統(tǒng)，使之具有可操作性 ? 使不必要的變差最小 169。John Z. Rao 2023 28 不合格率的 p圖 數據收集 1. 選擇子組的容量、頻率和數量 ? 子組容量 (n=50~200) ? 分組頻率 ? 子組的數量 (25) 2. 計算每個子組的不合格率（ p） – 記錄每個子組的下列值 – 被檢項目的數量 ——n – 發(fā)現(xiàn)的不合格項目 ——np – 計算不合格率 p=np/p
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