spc培訓(xùn)課件(ppt49頁)-wenkub
2023-03-09 20:35:42 本頁面
【正文】 據(jù)的對稱中心，即平均值 ?。 169。如 100條 PCB金手指厚度，標準 50?。 ? 計點特性值：如每條內(nèi)存上少錫點數(shù)等離散性數(shù)據(jù)，最常見的是泊松分布 (Poisson distribution)。 169。John Z. Rao 2023 11 產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計觀點二 ? 產(chǎn)品質(zhì)量的變異具有統(tǒng)計規(guī)律性 確定性現(xiàn)象，確定性規(guī)律：在一定條件下，必然發(fā)生或不可能發(fā)生的事情。 ? 1924年 5月 6日休哈特提出的不合格樣品率 P控制圖為世界第一張控制圖。John Z. Rao 2023 8 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述之三 變差的普通原因及特殊原因 169。John Z. Rao 2023 4 精度的概念 準確度好 精密度好 系統(tǒng)誤差小 偶然誤差小 準確度差 精密度高 系統(tǒng)誤差大 偶然誤差小 準確度高 精密度差 系統(tǒng)誤差小 偶然誤差大 準確度差 精密度差 系統(tǒng)誤差大 偶然誤差大 169。 ? 系統(tǒng)性誤差：誤差大小和方向的變化保持不變或按一定規(guī)律變化。SPC培訓(xùn)教程 一、持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 二、 SPC基礎(chǔ) 三、計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 169。 ? 過程控制中常用 精度 這個概念來反映質(zhì)量的波動（變異）程度。John Z. Rao 2023 5 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 1. 預(yù)防與檢測 2. 過程控制系統(tǒng) 3. 變差：普通原因及特殊原因 4. 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 5. 過程控制和過程能力 6. 過程改進循環(huán)及過程控制 7. 控制圖：過程控制工具 8. 控制圖的益處 169。John Z. Rao 2023 9 SPC基礎(chǔ) ? SPC (Statistical Process Control) 統(tǒng)計過程控制：利用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段進行監(jiān)控，從而得到保證產(chǎn)品質(zhì)量的目的。 169。如一個大氣壓（ 760mm汞柱）下， H2O的變化規(guī)律。John Z. Rao 2023 12 正態(tài)分布 ? 分布 (distribution)：用來描述隨機現(xiàn)象的統(tǒng)計規(guī)律，說明兩個問題：變異的幅度有多大；出現(xiàn)這么大幅度的概率。 ? 由于二項分布和泊松分布數(shù)據(jù)數(shù)理統(tǒng)計理論較復(fù)雜，以下討論以正態(tài)分布為例。 用面積表示頻率或頻數(shù) ? 統(tǒng)計學(xué)顯示計量特性值分布特點是：中間高，兩頭低，左右對稱 169。John Z. Rao 2023 15 正態(tài)分布特征 ? 正態(tài)分布是一條曲線，討論起來不方便，故用其兩個參數(shù)描述其特征： 1. 平均值（ average) 2. 標準差（ standard deviation) ? 說明： （ 1）平方是為了避免正負抵消 （ 2）是求平均值 （ 3）是為了避免單位變化或無故放大 169。 169。 ? 產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在 [? 3 ? ， ? +3 ? ]之外的概率為 %，其中單側(cè)的概率分別為 %。?，得到圖 B；但圖 B中上端數(shù)值大，不符合視角常規(guī)，故再將圖前后旋轉(zhuǎn) 180 176。 169。在這兩種可能性中選擇一種，當然選擇過程異常。 ? 漏發(fā)警報 (alarm missing):過程異常，但樣本正好抽到仍位于控制界限以內(nèi)，根據(jù)判異規(guī)則判定過程正常。 169。John Z. Rao 2023 27 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖的種類 ? 不合格品率 p控制圖 ? 不合格品數(shù) np控制圖 ? 不合格數(shù) c控制圖 ? 單位不合格數(shù) u控制圖 169。John Z. Rao 2023 31 ?、 ?變化示意圖 時間 特性值 ?不變 ?無規(guī)律變化 169。John Z. Rao 2023 35 XR控制圖 ? 計量值最常用、重要的控制圖 ? 適用范圍廣： – X圖： ? X正態(tài) ?X正態(tài) ? X非正態(tài) ?近似正態(tài)（中心極限定理） ? 中心極限定理使得 X圖廣為應(yīng)用。John Z. Rao 2023 37 X圖的控制線 ? 設(shè)過程正常， x~N(?， ?2) ? 則可證明 X~N((?， ?2/n)， n為樣本大小 ? 若 ?、 ?已知，則 X圖的控制線為 ? UCL= ? CL ? LCL 169。 b. 子組頻率 在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進行分組或很短的時間間隔進行分組 過程穩(wěn)定后，子組間的時間間隔可以增加。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R = 均值R = U C L = D4R = L C L = D3R = *X = 均值X = U C L = X + A2R = L C L = X A2R=極差（R 圖）均值（X 圖）工廠： XXX機器編號： XXX部門： XXX日期： XXX工序： 彎曲夾片特性： 間隙、尺寸“A ”計算控制限日期 工程規(guī)范： . 5 0 —. 9 0 m m樣本容量/ 頻率: 5/2h零件號： XXX零件名稱： XXX* 樣本容量小于7 時，沒有極差的下控制限X R 控 制 圖開始 A 1 步驟169。 數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個讀數(shù)的空間。 對每個子組，計算： 式中： X1， X2? 為子組內(nèi)的每個測量值。子組容量 A2 D3 D4 2 1. 88 * 3.
醫(yī)療健康相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1