x射線衍射線形分析技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用畢業(yè)論文-展示頁
2025-07-01 12:34本頁面
【正文】 以下分離方法: Kα是由波長近似的Kα1和Kα2輻射合成的，且纏繞在一起。（3）角因數(shù)的影響 一切隨2θ變化的因數(shù)都會影響衍射線的形狀。（一）實測線形與真實線形它是由衍射儀掃描后得到的原始圖形,影響他的因素如下：（1） 實驗條件的影響 包括由于X射線管焦斑不是理想的幾何線，產(chǎn)生的入射線具有一定的發(fā)散度、平板試樣引起的欠聚焦、試樣的吸收、衍射儀的軸偏離和接受狹縫的寬度等。由于在日常生產(chǎn)中注重研究晶粒尺寸和微觀應(yīng)力隨各種工藝制度的變化規(guī)律，對于數(shù)據(jù)的大小不是很看重。 線形分析的方法主要有有近似函數(shù)圖解法、傅立葉分析和方差分析法等方法。 積分寬度等于衍射線的積分強度除以衍射峰強度即:B= (6)方差可由公式(7)求出。 (5) （三）衍射線的寬度在衍射線最大強度的一半處作平行背底的線段，用此線段長代表衍射線的寬度。（二）衍射線的強度即峰的高度，以衍射譜中最高峰強度定為100，這樣我們就可以確定其它峰的強度。在衍射線頂部等間隔取三個實驗點（2θ1，I1）（2θ2,I2）(2θ3,I3），代入拋物線方程： (1)如果等間隔取五個實驗點，線位2θp為： (2) 記衍射線重心對著的橫坐標(biāo)為線位，記為2θ。（3）弦中法，在最大強度的3/2/1/2處做平等于背底的弦，從弦的中點作背底的垂線，對應(yīng)的2θ數(shù)值為衍射線的線位。 （1）長線法，這是在衍射峰不很明顯的情況下用的，兩側(cè)的直線部位，兩虛線交于一點，過點作橫坐標(biāo)的垂線，對應(yīng)的2θ數(shù)值為衍射線的線位。 這種方法可以由圖中確定衍射線的線位。難以確定衍射線兩側(cè)的平底時，可用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的背底作為樣品測量的背底。 Dislocation density 目錄一、X線衍射線形的構(gòu)成 1（一）衍射線的線形 1 1 1 2（二）衍射線的強度 2（三）衍射線的寬度 2 2 2 2二、衍射線形分析方法基礎(chǔ) 2（一）實測線形與真實線形 21. 實測線形 22. 真實線形 3（二）的雙線分離 21. 圖形分離法 32. Rachinger分離法 33. 付里葉級數(shù)變換分離法 4（三）利用校正曲線獲得I1(2θ)線寬 4（四）吸收因子溫度因子角因子的影響 51. 吸收因子的校正 52. 溫度因子的校正 63. 角因子（洛倫茲偏振因子）的影響 6（五）儀器寬化效應(yīng) 61. 衍射儀的權(quán)重函數(shù) 62. 衍射線形的卷積關(guān)系 6（由B值求β值） 8三、X線衍射線形分析方法的應(yīng)用 14（一）晶體結(jié)構(gòu)點陣畸變及儲能 14（二）位錯密度 15（三）晶粒尺寸測定及分布 16四、x射線衍射線形分析方法的未來發(fā)展趨勢 17致謝 18參考文獻 19一、X射線衍射線線形的構(gòu)成[1]將樣品用衍射儀掃描得到原始數(shù)據(jù)，可以做出x射線衍射的原始圖形，也就是衍射線強度按衍射角2θ角分布的線形。 Half tall wide。近似函數(shù)法。 本文著重介紹X射線衍射技術(shù)的原理,以及其應(yīng)用方面,簡單介紹X射線衍射技術(shù)的發(fā)展及未來趨勢. [關(guān)鍵詞] X射線衍射線形分析技術(shù)。從70年代以來，隨著高強度X射線源（包括超高強度的旋轉(zhuǎn)陽極X射線發(fā)生器、電子同步加速輻射,高壓脈沖X射線源）和高靈敏度探測器的出現(xiàn)以及電子計算機分析的應(yīng)用，使金屬 X射線學(xué)獲得新的推動力。分類號 編號畢 業(yè) 論 文（設(shè) 計）X射線衍射線行分析技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用The Development and Application of Xray Diffraction Line Analysis Technology [摘 要] X射線衍射技術(shù)的應(yīng)用范圍非常廣泛,現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中,成為一種重要的分析方法物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析。盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法, 但是X 射線衍射是最有效的、應(yīng)用最廣泛的手段, 而且X 。這些新技術(shù)的結(jié)合，不僅大大加快分析速度，提高精度，而且可以進行瞬時的動態(tài)觀察以及對更為微弱或精細(xì)效應(yīng)的研究。半高寬。位錯[Abstract] Xray diffraction technology application range is very wide, has been through to the physics, chemistry, material science and various engineering technology science, bees a kind of important analysis method of material structure analysis. Although it can be used to neutron diffraction, electron diffraction, infrared spectrum, mossbauer spetrum method, but Xray diffraction is the most effective, the most widely used method, and Xray diffraction was used to study human material micro structure of the first method. Xray linear analysis often used to get set piece of size and micro strain the two important microscopic structure parameter. From the 70 s, with high intensity Xray sources (including high strength of the rotating anode Xray generator, electronic synchronous speed up, high pressure pulse radiation Xray source) and high sensitivity of the probe appears and puter analysis of application, make metal Xray study obtain new driving force. These new technology union, not only greatly quicken the speed analysis, improve the accuracy and the dynamic observation and the instantaneous more weak or fine effect of research. In this paper, the principle of Xray diffraction techniques, as well as its application, simple introduction of Xray diffraction technology and the development of the future trend.[key words] Xray diffraction anal
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