x射線衍射線形分析技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用畢業(yè)論文-文庫吧在線文庫
【正文】 斑不是理想的幾何線，產(chǎn)生的入射線具有一定的發(fā)散度、平板試樣引起的欠聚焦、試樣的吸收、衍射儀的軸偏離和接受狹縫的寬度等。 (5) （三）衍射線的寬度在衍射線最大強(qiáng)度的一半處作平行背底的線段，用此線段長代表衍射線的寬度。 （1）長線法，這是在衍射峰不很明顯的情況下用的，兩側(cè)的直線部位，兩虛線交于一點(diǎn)，過點(diǎn)作橫坐標(biāo)的垂線，對應(yīng)的2θ數(shù)值為衍射線的線位。 Half tall wide。分類號 編號畢 業(yè) 論 文（設(shè) 計）X射線衍射線行分析技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用The Development and Application of Xray Diffraction Line Analysis Technology [摘 要] X射線衍射技術(shù)的應(yīng)用范圍非常廣泛,現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中,成為一種重要的分析方法物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析。位錯[Abstract] Xray diffraction technology application range is very wide, has been through to the physics, chemistry, material science and various engineering technology science, bees a kind of important analysis method of material structure analysis. Although it can be used to neutron diffraction, electron diffraction, infrared spectrum, mossbauer spetrum method, but Xray diffraction is the most effective, the most widely used method, and Xray diffraction was used to study human material micro structure of the first method. Xray linear analysis often used to get set piece of size and micro strain the two important microscopic structure parameter. From the 70 s, with high intensity Xray sources (including high strength of the rotating anode Xray generator, electronic synchronous speed up, high pressure pulse radiation Xray source) and high sensitivity of the probe appears and puter analysis of application, make metal Xray study obtain new driving force. These new technology union, not only greatly quicken the speed analysis, improve the accuracy and the dynamic observation and the instantaneous more weak or fine effect of research. In this paper, the principle of Xray diffraction techniques, as well as its application, simple introduction of Xray diffraction technology and the development of the future trend.[key words] Xray diffraction analysis of linear technology。根據(jù)線形的情況可以有不同的確定方法[2]。也就是以衍射線以下、背底以上的面積作為衍射線的強(qiáng)度。在平常分析中近似函數(shù)圖解法用的相對比較多。Kα2的存在使衍射線變形，與所用輻射和衍射線布拉格角有關(guān)。首先確定出Kα1和Kα2輻射的標(biāo)準(zhǔn)布拉格位置2θ1和2θ1，以2θ1和2θ1位置為I1(θ)和I2(θ) 的峰頂，使I1最大=2I2最大，兩個線形很像，并且圖中的兩個陰影部份的面積相等，從而得到I1(θ)和I2(θ)。同理， I1(2θ)的線形也可以寫成：（13）利用有 （14）取K=2，解出 （15） 根據(jù)實(shí)測Kα的線形I(θ)計算其付里葉系數(shù)A0、An和Bn，再利用上式計算Kα1 的線形I1(θ)的付里葉系數(shù)a0、an和bn，并計算出I1(θ)。校正曲線法適用于經(jīng)常利用某臺衍射儀獲得I1(2θ) 寬度的情況。溫度因子e2M中M的表達(dá)式總與sin2θ成線性，故溫度因子T(θ)表示為：T(θ)=exp(Ksin2θ) (18)式中K為常數(shù)。2．衍射線形的卷積關(guān)系[3]g(y)、f(z)、h(x)分別表示儀器寬化、物理寬化及試樣實(shí)測曲線的線形函數(shù)。按積分寬度的定義，陰影部分面積[即f(z)函數(shù)積分]應(yīng)等于f(z)的峰值If(m)與其積分寬度β的乘積，故有： （29） 儀測曲線上X處的衍射強(qiáng)度并非僅由工具曲線的某一個強(qiáng)度單元Ig(y)Δy被物理寬化擴(kuò)展在此作出的貢獻(xiàn)，而是整個工具曲線上各強(qiáng)度單元擴(kuò)展后在此處所作貢獻(xiàn)的疊加： （30） （31）有： （32）當(dāng)考慮各線性函數(shù)之間的關(guān)系時，可將等式兩邊的極大值消去，得衍射線的卷積方程： （33）也就是儀測曲線的積分寬度B，儀器寬化曲線的積分寬度b和物理寬化的積分寬度三者之間的關(guān)系。用標(biāo)準(zhǔn)試樣數(shù)據(jù)確定g（x）后，用逐一表示f（x）代入基本公式確定a的值，j=3分別對應(yīng)上述三種近似函數(shù)，比較h（x）結(jié)果和實(shí)測值，求出偏離值得均方值： (46) s1 、s2 、s3里的最小的就是fx）最佳近似函數(shù)。如果物理寬化僅由晶格畸變或晶塊細(xì)化一種因素造成的，則可從實(shí)測線形分離儀器寬化因素后得到的真實(shí)線形寬度β直接計算微觀應(yīng)力與晶塊尺寸。因為干涉函數(shù)主峰底寬與N成反比，所以，選擇反射區(qū)的大小與晶塊的尺寸成反比。當(dāng)N1100時，幾乎全部強(qiáng)度都集中在主峰。設(shè)晶塊尺寸D=md 入射線與晶面呈θ角時得到布拉格反射：2dsinθ=nλ 當(dāng)入射線與θ角呈微小偏離ε時，相鄰晶面相干散射nλ=2dsin(θ+ε)=2dsinθcosε+2dcosθsinε= nλcosε+ 2dcosθsinε （52）若ε很小，cosε≈1，sinε≈ε，有：δ= nλ+ 2dεcosθ相鄰晶面相干散射相位差：φ=2πδ/λ= 2nπ + 4πdεcosθ= 4πεdcosθ /λ （53）若每個原子面反射波的振幅為A0，微晶中m個晶面反射
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