【正文】 technology application range is very wide, has been through to the physics, chemistry, material science and various engineering technology science, bees a kind of important analysis method of material structure analysis. Although it can be used to neutron diffraction, electron diffraction, infrared spectrum, mossbauer spetrum method, but Xray diffraction is the most effective, the most widely used method, and Xray diffraction was used to study human material micro structure of the first method. Xray linear analysis often used to get set piece of size and micro strain the two important microscopic structure parameter. From the 70 s, with high intensity Xray sources (including high strength of the rotating anode Xray generator, electronic synchronous speed up, high pressure pulse radiation Xray source) and high sensitivity of the probe appears and puter analysis of application, make metal Xray study obtain new driving force. These new technology union, not only greatly quicken the speed analysis, improve the accuracy and the dynamic observation and the instantaneous more weak or fine effect of research. In this paper, the principle of Xray diffraction techniques, as well as its application, simple introduction of Xray diffraction technology and the development of the future trend.[key words] Xray diffraction analysis of linear technology。這些新技術(shù)的結(jié)合，不僅大大加快分析速度，提高精度，而且可以進(jìn)行瞬時(shí)的動(dòng)態(tài)觀察以及對更為微弱或精細(xì)效應(yīng)的研究。分類號 編號畢 業(yè) 論 文（設(shè) 計(jì)）X射線衍射線行分析技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用The Development and Application of Xray Diffraction Line Analysis Technology [摘 要] X射線衍射技術(shù)的應(yīng)用范圍非常廣泛,現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中,成為一種重要的分析方法物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析。 本文著重介紹X射線衍射技術(shù)的原理,以及其應(yīng)用方面,簡單介紹X射線衍射技術(shù)的發(fā)展及未來趨勢. [關(guān)鍵詞] X射線衍射線形分析技術(shù)。 Half tall wide。難以確定衍射線兩側(cè)的平底時(shí)，可用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的背底作為樣品測量的背底。 （1）長線法，這是在衍射峰不很明顯的情況下用的，兩側(cè)的直線部位，兩虛線交于一點(diǎn)，過點(diǎn)作橫坐標(biāo)的垂線，對應(yīng)的2θ數(shù)值為衍射線的線位。在衍射線頂部等間隔取三個(gè)實(shí)驗(yàn)點(diǎn)（2θ1，I1）（2θ2,I2）(2θ3,I3），代入拋物線方程： (1)如果等間隔取五個(gè)實(shí)驗(yàn)點(diǎn)，線位2θp為： (2) 記衍射線重心對著的橫坐標(biāo)為線位，記為2θ。 (5) （三）衍射線的寬度在衍射線最大強(qiáng)度的一半處作平行背底的線段，用此線段長代表衍射線的寬度。 線形分析的方法主要有有近似函數(shù)圖解法、傅立葉分析和方差分析法等方法。（一）實(shí)測線形與真實(shí)線形它是由衍射儀掃描后得到的原始圖形,影響他的因素如下：（1） 實(shí)驗(yàn)條件的影響 包括由于X射線管焦斑不是理想的幾何線，產(chǎn)生的入射線具有一定的發(fā)散度、平板試樣引起的欠聚焦、試樣的吸收、衍射儀的軸偏離和接受狹縫的寬度等。（二）雙線的分離 主要有以下分離方法: Kα是由波長近似的Kα1和Kα2輻射合成的，且纏繞在一起。要得到各個(gè)參數(shù)就必須將兩者分離開來。線形I(2θ) = I1(2θ)+I2(2θ) 。如果2θ1和2θ1的位置不能準(zhǔn)確地確定，則可以由已知的Δ2θ值確定出圖形中雙線峰位的間距，并使它在2θ1和2θ1附近移動(dòng)，找到使兩線形滿足上述條件的位置，就是準(zhǔn)確的2θ1和2θ1位置，同時(shí)也就確定了兩個(gè)峰的形狀。用n表示單元序號， I(n)、I1(n)、I2(n) 分別表示各分割單元的對應(yīng)強(qiáng)度。付里葉級數(shù)變換分離法計(jì)算工作量較大，但用計(jì)算機(jī)處理速度非?？?。校正曲線的制作實(shí)驗(yàn)法：精確測量標(biāo)樣各條衍射線線形，利用傅立葉分離法得到Kα1輻射線形I1(2θ)。Kα1雙線校正曲線隨實(shí)驗(yàn)條件或所設(shè)衍射線線形而變，但它們的基本形狀卻大體相同。如果利用衍射儀對試樣進(jìn)行正常掃描，即 =0，則A(θ)=1/2μ，為常數(shù)。結(jié)構(gòu)因子中的原子散射因子也是θ角的函數(shù)： （19）（洛倫茲偏振因子）的影響校正衍射線線形的角因子LP為： （20）（五）儀器寬化效應(yīng)1. 衍射儀的權(quán)重函數(shù)。如圖描述這些因素的函數(shù)（衍射儀的權(quán)重函數(shù)）的近似形狀，另引入不重合函數(shù)以使由這些函數(shù)綜合而成的線形與實(shí)測的標(biāo)樣線性更為一致標(biāo)樣線形記為g(x)，它是由上述權(quán)重函數(shù)相互疊形成的，在數(shù)學(xué)上它們是卷積。由儀器寬化因素造成的強(qiáng)度分布曲線記為：Ig(x)= Ig(m)?g(y) （23）其中Ig(m)為g(y)曲線的最大強(qiáng)度值由物理寬化因素造成的強(qiáng)度分布曲線（本質(zhì)曲線）記為： If(z)= If(m)?f(z) （24）其中If(m)為f(z)曲線的最大強(qiáng)度值直接由被測試樣測得的譜線稱為儀測曲線記為： Ih(x)= Ih(m)?h(x) （25）其中If(m)為f(z)曲線的最大強(qiáng)度值積分譜線曲線下面的總面積就是譜線的強(qiáng)度?；蛘哒f矩形被改造為曲線f(z)，即圖中陰影部分。儀測強(qiáng)度曲線下的面積就是其積分強(qiáng)度 （34） （35） 即（36） （由B值求β值） (1)付立葉變換法求解h(x)