【正文】 算出各種壓縮應(yīng)變下的位錯密度，如圖1 所示。晶體位向的點陣畸變及其形儲能與彈性模量總體上呈負(fù)相關(guān)關(guān)系。區(qū)分二者的二種方法：①利用不同波長的輻射進(jìn)行測試，如果衍射線寬隨波長變化，說明寬化是由微晶引起。當(dāng)N1100時，幾乎全部強(qiáng)度都集中在主峰。如果物理寬化僅由晶格畸變或晶塊細(xì)化一種因素造成的，則可從實測線形分離儀器寬化因素后得到的真實線形寬度β直接計算微觀應(yīng)力與晶塊尺寸。按積分寬度的定義，陰影部分面積[即f(z)函數(shù)積分]應(yīng)等于f(z)的峰值If(m)與其積分寬度β的乘積，故有： （29） 儀測曲線上X處的衍射強(qiáng)度并非僅由工具曲線的某一個強(qiáng)度單元Ig(y)Δy被物理寬化擴(kuò)展在此作出的貢獻(xiàn)，而是整個工具曲線上各強(qiáng)度單元擴(kuò)展后在此處所作貢獻(xiàn)的疊加： （30） （31）有： （32）當(dāng)考慮各線性函數(shù)之間的關(guān)系時，可將等式兩邊的極大值消去，得衍射線的卷積方程： （33）也就是儀測曲線的積分寬度B，儀器寬化曲線的積分寬度b和物理寬化的積分寬度三者之間的關(guān)系。溫度因子e2M中M的表達(dá)式總與sin2θ成線性，故溫度因子T(θ)表示為：T(θ)=exp(Ksin2θ) (18)式中K為常數(shù)。同理， I1(2θ)的線形也可以寫成：（13）利用有 （14）取K=2，解出 （15） 根據(jù)實測Kα的線形I(θ)計算其付里葉系數(shù)A0、An和Bn，再利用上式計算Kα1 的線形I1(θ)的付里葉系數(shù)a0、an和bn，并計算出I1(θ)。Kα2的存在使衍射線變形，與所用輻射和衍射線布拉格角有關(guān)。也就是以衍射線以下、背底以上的面積作為衍射線的強(qiáng)度。位錯[Abstract] Xray diffraction technology application range is very wide, has been through to the physics, chemistry, material science and various engineering technology science, bees a kind of important analysis method of material structure analysis. Although it can be used to neutron diffraction, electron diffraction, infrared spectrum, mossbauer spetrum method, but Xray diffraction is the most effective, the most widely used method, and Xray diffraction was used to study human material micro structure of the first method. Xray linear analysis often used to get set piece of size and micro strain the two important microscopic structure parameter. From the 70 s, with high intensity Xray sources (including high strength of the rotating anode Xray generator, electronic synchronous speed up, high pressure pulse radiation Xray source) and high sensitivity of the probe appears and puter analysis of application, make metal Xray study obtain new driving force. These new technology union, not only greatly quicken the speed analysis, improve the accuracy and the dynamic observation and the instantaneous more weak or fine effect of research. In this paper, the principle of Xray diffraction techniques, as well as its application, simple introduction of Xray diffraction technology and the development of the future trend.[key words] Xray diffraction analysis of linear technology。 Half tall wide。 (5) （三）衍射線的寬度在衍射線最大強(qiáng)度的一半處作平行背底的線段，用此線段長代表衍射線的寬度。要得到各個參數(shù)就必須將兩者分離開來。付里葉級數(shù)變換分離法計算工作量較大，但用計算機(jī)處理速度非常快。結(jié)構(gòu)因子中的原子散射因子也是θ角的函數(shù)： （19）（洛倫茲偏振因子）的影響校正衍射線線形的角因子LP為： （20）（五）儀器寬化效應(yīng)1. 衍射儀的權(quán)重函數(shù)。儀測強(qiáng)度曲線下的面積就是其積分強(qiáng)度 （34） （35） 即（36） （由B值求β值） (1)付立葉變換法求解h(x)與g(x)、f(x)的卷積方程，得出物理寬化函數(shù)f(x)的表達(dá)式是很困難的。如果物理寬化同時包括晶格畸變或晶塊細(xì)化兩種因素，首先應(yīng)從β中分離出晶格疇變加寬n和晶塊細(xì)化加寬m，然后進(jìn)行微觀應(yīng)力與晶塊尺寸的計算。主峰的最大值可由羅必塔法則求出： |G1|2max=N12 主峰的有值區(qū)間ξ =(H177。反之，則由微觀應(yīng)力引起。但它隨加工工藝或組成成分而變，壓下率小時彈性模量大的方向儲能較小，彈性模量小的方向儲能較大；當(dāng)壓下率大并使點陣畸變達(dá)到一定程度時，儲能大小排列順序有逆轉(zhuǎn)傾向。從圖中可以看出，隨壓下量的增大，位錯密度也增大，當(dāng)變形量大于40%時位錯密度基本恒定在10121013／cm2。半高寬是表征粒度效應(yīng)的重要參數(shù)，而對于微米級粒度的變化則能通過譜線背底寬度來表示。參考文獻(xiàn)[1] [M]．原子能出版社，1993[2] ，宋小平,李家寶，理化檢驗物理分冊[M]，1998[3] 盧柯,梁志德．X射線線形的解卷分析與Bragg角的精確計算[J]．物理學(xué)報，2000，[4] 何忠智．電工鋼[M]．冶金工業(yè)出版社，1996．[5] 李長一，周順兵，冷軋低碳鋼帶中各晶體學(xué)位向的點陣畸變儲能[J].　理化檢驗　2006[6] 藤鳳恩,王煜明,X射線結(jié)構(gòu)分析與材料性能表征 [M].科學(xué)出版社,1997[7] Langford J I． A rapid method for analysing thebreadths of difraction