【摘要】第四章多晶體分析方法粉末照相法X射線衍射儀衍射花樣標(biāo)定點(diǎn)陣常數(shù)精確測(cè)定4-1粉末照相法?多晶體粉末的衍射花樣可以用照相法和衍射儀法獲得。?照相法根據(jù)試樣和底片的相對(duì)位置不同可分為三種:–德拜-謝樂(lè)法(Debye-scherrermethod):底片位于相機(jī)圓筒內(nèi)表面,試樣位于中心軸上;–聚
2025-05-07 23:24
【摘要】第二章X射線衍射原理?X射線照射晶體,電子受迫產(chǎn)生振動(dòng),向四周輻射同頻率電磁波。同一原子內(nèi)的電子散射波相干加強(qiáng)成原子散射波。由于晶體內(nèi)原子呈周期性排列,各原子散射波之間存在固定位向關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用,在某些方向相干加強(qiáng)成衍射波。?衍射的本質(zhì)就是晶體中各原子相干散射波疊加的結(jié)果。衍射花樣反映了晶體內(nèi)部原子排列的規(guī)律。第二章
2024-08-20 00:59
【摘要】第四章多晶體的分析方法引言多晶體衍射的照相方法采用單色(標(biāo)識(shí))X射線作輻射源,被分析的試樣多數(shù)情況為很細(xì)(10-310-5厘米)的粉末,故稱之為粉末法。具體如下:試樣:多晶粉末集合體、粉末園柱或其它多晶試樣;輻射:標(biāo)識(shí)譜(即特征譜);記錄:照相法。用長(zhǎng)條形底片,用德拜
2025-05-07 23:57
【摘要】第七章晶體薄膜衍射成像分析透射電子顯微鏡樣品制備?透射電子顯微鏡成像時(shí),電子束是透過(guò)樣品成像。由于電子束的穿透能力比較低,用于透射電子顯微鏡分析的樣品必須很薄。根據(jù)樣品的原子序數(shù)大小不同,一般在50~500nm之間。制備透射電子顯微鏡分析樣品的方法很多,這里介紹幾種常用的制樣方法。?所謂復(fù)型,就是把樣品表面形貌復(fù)制出
2025-03-02 10:19
【摘要】勞厄法?在衍射實(shí)驗(yàn)時(shí),單晶體不動(dòng),采用連續(xù)X光作入射光束。這樣反射球的半徑從1/λmin到1/λmax連續(xù)變化(其中,λmin為短波極限,λmax為可以起作用的最大波長(zhǎng))。?這時(shí)反射球已不是一個(gè)薄層而是具有一定厚度的殼體,從而倒易點(diǎn)落在這個(gè)殼體內(nèi)者均與反射球相交,這樣也就增加了反射球與更多的倒易點(diǎn)
2025-01-28 00:44
【摘要】1X射線衍射分析技術(shù)X射線2第一節(jié)X射線衍射分析基礎(chǔ)?X射線的發(fā)現(xiàn)?1895年11月8日,德國(guó)物理學(xué)家倫琴在研究真空管高壓放電現(xiàn)象是偶然發(fā)現(xiàn)的?X射線又稱倫琴射線?倫琴獲得1901諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)3X衍射分析歷史?1895年倫琴發(fā)現(xiàn)具有特別強(qiáng)的穿透力的X射線?
2025-05-22 16:46
【摘要】材料分析方法材料分析方法第一部分第一部分材料X射線衍射分析主要內(nèi)容:?X射線的性質(zhì)?X射線的產(chǎn)生及X射線譜?X射線與物質(zhì)的相互作用第一章X射線的物理基礎(chǔ)第一章X射線的物理基礎(chǔ)1901年首位諾貝爾物理獎(jiǎng)獲得者?1895年德國(guó)物理學(xué)家倫琴(R?ntgen,.)發(fā)現(xiàn)X射線(
2025-01-14 05:23
【摘要】chpt4Applicationofx-RaycrystallographyX射線衍射方法的應(yīng)用?X射線衍射揭示了晶體材料的晶胞類(lèi)型、大小和原子種類(lèi)與排列規(guī)律。因此,可以用來(lái)分析晶體結(jié)構(gòu)特征,進(jìn)行物相分析,測(cè)定單晶取向以及多晶體“織構(gòu)”,可以精確測(cè)定晶格常數(shù),可以表征材料中的應(yīng)力狀態(tài)。?Morethan85percento
2025-05-05 13:10
【摘要】X射線衍射分析(XRD)X-rayDiffractionAnalysis現(xiàn)代儀器分析測(cè)試方法0.X射線的歷史發(fā)展及應(yīng)用X射線分析技術(shù)的應(yīng)用范圍非常廣泛,成為一種重要的實(shí)驗(yàn)手段和分析方法。隨著機(jī)械及微電子技術(shù)的發(fā)展,儀器設(shè)備的檢測(cè)精度及可靠性逐漸提高,尤其是同步輻射光源的出現(xiàn)以及計(jì)算機(jī)技術(shù)的引入,構(gòu)成了近代X
2024-08-20 00:49
【摘要】材料結(jié)構(gòu)表征及應(yīng)用授課人:李草13476179005QQ:81925904課程教學(xué)內(nèi)容材料結(jié)構(gòu)表征緒論紅外吸收光譜光譜及激光拉曼光譜核磁共振波譜質(zhì)譜X射線衍射分析電子顯微技術(shù)X射線光電子能譜分析材料熱分析教學(xué)參考書(shū)目《材料結(jié)構(gòu)表征及應(yīng)用》,吳剛主編,化學(xué)
2025-05-07 22:10
【摘要】第二章X射線衍射原理第二章X射線衍射原理?內(nèi)容提要:?第一節(jié)倒易點(diǎn)陣?第二節(jié)X射線衍射方向?第三節(jié)X射線衍射強(qiáng)度第二章X射線衍射原理第一節(jié)倒易點(diǎn)陣?衍射法是建立在一定晶體結(jié)構(gòu)模型基礎(chǔ)上的間接分析方法。?正點(diǎn)陣?晶體的空間點(diǎn)陣即為正點(diǎn)陣
2025-02-25 10:40
【摘要】第一章X射線衍射分析一、教學(xué)目的理解掌握標(biāo)識(shí)X射線、X射線與物質(zhì)的相互作用、布拉格方程等X射線衍射分析的基本理論,掌握X射線衍射圖譜的分析處理和物相分析方法,掌握X射線衍射分析在無(wú)機(jī)非金屬材料中的應(yīng)用,了解X射線衍射研究晶體的方法和X射線衍射儀的結(jié)構(gòu),了解晶胞參數(shù)測(cè)定方法。二、重點(diǎn)、難點(diǎn)重點(diǎn):標(biāo)識(shí)X射線、布拉
2024-12-16 21:00
2025-01-15 03:08
【摘要】晶體的極射赤面投影多晶體織構(gòu)分析?材料中晶粒取向趨于一定方向的聚集現(xiàn)象,稱為擇優(yōu)取向或織構(gòu)。通過(guò)衍射強(qiáng)度的異?,F(xiàn)象來(lái)推斷多晶體擇優(yōu)取向分布形式和程度的大小。第九章電子光學(xué)基礎(chǔ)?目的:掌握電磁透鏡的特性。?要求:掌握電磁透鏡的特性。?重點(diǎn)、難點(diǎn):理解電子的波長(zhǎng),電磁透鏡的結(jié)構(gòu)。掌握電磁透鏡的分辨本領(lǐng)、像差、景深和焦長(zhǎng)。
2024-08-12 22:43
【摘要】武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1第一部分X射線衍射分析武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳2第三章.晶體對(duì)X射線的衍射1衍射的概念2勞埃方程式3布拉格方程式4兩種方程式的統(tǒng)一5布拉格方程式的意義6布拉格方程式和衍射方向
2025-01-29 09:45