最新尋找δδ雙重子的實驗設(shè)計精-文庫吧資料
2025-07-06 04:16本頁面
【正文】 2 ro ton Co llision s Z Phys 2 . m p p A , 1993, 345: 407 7 盧希庭 1 原子核物理 1 北京: 原子能出版社, 1981160 J ET P L ett, 1995, 59: 77 Ch in Phys L ett, 1998, 15 ( 2 : 86 8 V o robev L S, G rishuk YG, Efrem enko YV , et a l Sea rch fo r a N a rrow R esonance in the pp Π System. . 9 Chun Y, Chen T , Ye YL , et a l Co rrela tion of F ina l Sta te In teraction W ith the D etection Pha se Sp ace. . (D ep a rtm en t of T echn ica l P hy sics and Institu te of H eavy Ion P hy sics, P ek ing U n iv ersity , B eij ing , 100871 流體表面吸附的一般原理。 本文對于利用存在不同反應(yīng)機制 的信號道與背景道之間的 M on te Ca rlo 模擬來進行實驗設(shè)計是 1 個參考。從圖 9 看, 信號道與背 景道的 pp 不變質(zhì)量譜的差別已不再足夠明顯, FS I 的效應(yīng)已被削弱 [ 9 ]。 另外, 文獻 [ 8 ] 提到試圖應(yīng)用 FS I 效應(yīng) 作為切割條件, 對實驗重建的 pp 不變質(zhì)量 譜進行切割來甄選事例, 以提高信噪比, 但 效果不好。 這需要對信號過程與 背景過程的物理特性加以分析, 充分利用 物理特性上的差別, 尋找相應(yīng)的切割條件。 3 討論 對于中高能核物理實驗, 實驗中涉及 的反應(yīng)產(chǎn)物較為復(fù)雜, 而且實驗耗資較大。 and SA SP a t 723 M eV c 168 原子能科學(xué)技術(shù) 第33卷 通過對 M R S 和 SA SP 的設(shè)置及用來作觸發(fā)的閃爍探測器的引入, 信噪比提高了 2 個量 級。 、 時質(zhì)子的質(zhì)量對角度譜 M SA ( a —— S IG。 , 圖 7 R S 和 SA SP 位于束流同側(cè)時的動力學(xué) M F ig. 7 K inem a tics fo r M R S and SA SP on sam e side of beam line 第2期 陳 陶等: 尋找 ?2? 雙重子的實驗設(shè)計 167 圖 8 R S 為 24. 7176。 圖上顯示出低能質(zhì)子集中在+ 30176。 。圖 8 為M R S 位于 24. 67176。為了解 ( 圖 7 。 , 如果 SA SP 位于M R S 的另一側(cè), 需測量的來自 d 衰變的質(zhì)子更偏向 0176。 圖 6 說明了這個問題: M R S 位于 20176。 。6 61原子能科學(xué)技術(shù) 第 33卷從圖 4 上注意到一個問題: 需用閃爍探測器測量的低能質(zhì)子較集中在 0176。 閃爍探測器的引入 (假定其時間分辨率好于 1n s , 背景過程幾乎可以完全被抑制 。 從圖 5可以看到背景道的 2個低能質(zhì)子間的飛行時間差一般大于 3n s 。背景道質(zhì)子動量有異 , 則飛行時間有別 。 從圖 4上可以看到信號道的質(zhì)子分布為一團 , 背景道有兩團質(zhì)子 。 此時 , 信號和本底的計數(shù)率相當(dāng) 。 (b — — BA K在把 SA SP 置于 240176。and 125M eV c(a — — S IG 。和 125M eV c 下質(zhì)子的質(zhì)量對角度譜F ig . 4 P ro ton monen tum vs angle w ith M R S at 20176。 (b — — BA K圖 4 M R S 為 20176。和 723M eV c 下 Π粒子的質(zhì)量對角度譜 F ig . 3 Πmonen tum vs angle w ith M R S at 20176。 在此條件下通過 p 2Π符合測量得到的質(zhì)量對角度譜示于圖 4 。本例中定為 240176。 背景道產(chǎn)生的 Π粒子在角度分布上前傾 , 在任意角度上看 , 其動量分布都類似于高斯分布 。461原子能科學(xué)技術(shù)
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