【正文】 測比例、焊接工藝、坡口形式、規(guī)格、材質等情況。arc sinh/R 式中：θ——擴散角度，h——探頭2中心點到探頭1掃查面距離（mm），R——聲稱距離(100mm)。見圖1。 每次作業(yè)前，應對所選擇的探頭進行12dB聲場進行測試，確定深度覆蓋和底部寬度覆蓋范圍，一般在CSKⅠA試塊上的R100的弧上進行。，TOFD檢測對焊縫及熱影響區(qū)中的橫向缺陷檢出率均較低。、磁粉、滲透檢測方法進行補充。 TOFD檢測前，應根據(jù)探頭設置及所選擇的掃查方式通過試驗測定其掃查面表面盲區(qū)高度，并在專用檢測工藝中注明。，且所測量的模擬缺陷尺寸應盡量接近其實際尺寸。還應考慮熱處理狀態(tài)。，應保證導向裝置與擬掃查路徑的對準誤差不超過10％PCS。，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等應進行適當?shù)男弈?，并作圓滑過渡以免影響檢測結果的評定；要求去除余高的焊縫，應將余高打磨到與鄰近母材平齊，當掃查方式為平行掃查時，一般應要求去除余高。、鐵屑、油垢及其他雜質。儀器附件、耦合劑施加裝置等。 采用下表54所列專用試塊對表面盲區(qū)及橫向裂紋進行實際測定。若模擬試塊可倒置，則可用一個表面缺陷同時代表上、下表面。缺陷一般應平行于熔合線，若被檢工件具有橫向裂紋傾向時還應在模擬試塊中增加橫向模擬缺陷。、尺寸、位置、數(shù)量應符合NB/。)晶片直徑(mm)12～1510～t15～770～602～415～3510～t10～570～602～635～5010～t5～370～603～650～10020～2t/5～570～603～62t/5～t5～360～456～12，在掃查時保持探頭中心間距和相對角度不變。、楔塊。5檢測設備、器材和材料所使用的TOFD檢測設備、器材和材料應能滿足NB/。 TOFD檢測人員應熟悉國家、行業(yè)、本公司的有關標準、規(guī)范和規(guī)章，具有實際檢測經驗并掌握一定的鍋爐、壓力容器、壓力管道結構及制造基礎知識。 非相關顯示：由工件結構（例如焊縫余高或根部）或者材料冶金結構的偏差（例如鐵素體基材和奧氏體覆蓋層的界面）引起的顯示。 模擬試塊：指按規(guī)定加工含有自然缺陷用于對TOFD檢測工藝進行驗證試驗的試塊。夾角的焊接接頭。 對接接頭：焊接中兩件表面構成≥135176。 對于非特種設備的TOFD檢測，參照本作業(yè)指導書執(zhí)行。；；：12mm ≤t≤100mm（不包括焊縫余高，焊縫兩側母材厚度不同時，取薄側厚度值）。衍射時差法超聲檢測通用工藝規(guī)程文件編號： 2013編制： 審核： 批準： 受控□ 非受控□分發(fā)號： —上海鷹揚智能科技工程有限公司35 / 38目 錄1編制的目的和適用范圍 12引用標準、規(guī)范 13術語定義 14檢測人員要求 25檢測設備、器材和材料 26檢測表面要求 47檢測時機 48 TOFD檢測技術工藝 4 TOFD檢測基本程序 4 5 5 6 6 7 7 7 11 檢測 12 13 139檢測數(shù)據(jù)分析和解釋 13 13 13 14 15 1610編制專用檢測工藝卡 1811檢測流程 2112檢測記錄、報告和資料存檔 21附件1 衍射時差法超聲檢測工藝卡 21附件2 衍射時差法超聲檢測報告 23附件3 TOFD檢測返修通知單 26附件4 衍射時差法超聲檢測記錄 271編制的目的和適用范圍 為了保證本公司檢測工作質量，提供準確可靠的檢測數(shù)據(jù)，特制定本通用規(guī)程，本規(guī)程對衍射時差法超聲檢測（TOFD）中各環(huán)節(jié)質量控制要求作出了規(guī)定。本通用規(guī)程適用于以下焊接接頭的TOFD檢測。，可參照本規(guī)程使用；對于其他細晶各向同性和低聲衰減材料，也可參照本規(guī)程使用，但要考慮聲速衰減。2引用標準、規(guī)范、文件 《承壓設備無損檢測》JB/T ～5 2005 《承壓設備無損檢測》 第10部分：衍射時差法超聲檢測NB/ 《固定式壓力容器安全技術監(jiān)察規(guī)程》TSGR00042010 《鋼制球形儲罐》 GB123372010 無損檢測 術語 超聲檢測（ISO5577:2000）GB/ 質量管理體系文件3術語定義GB/T 、JB/T 、NB/、本公司的《質量管理手冊》、《質量管理體系文件》界定的以及下列術語和定義適用于本通用檢測規(guī)程?！?80176。 對比試塊：指按規(guī)定加工含有標準人工反射體用于TOFD檢測校準的試塊。 相關顯示：由缺陷引起的顯示為。4檢測人員要求，獲得特種設備無損檢測人員超聲波檢測TOFD專項資格，方可從事相應資格等級規(guī)定的檢測工作，并負相應的技術責任。 TOFD檢測報告、檢測方案等技術文件的編制、審核、批準、簽發(fā)人員應按本公司質量管理體系文件要求執(zhí)行。使用中科創(chuàng)新 HS810e TOFD儀器。 探頭推薦性選擇和設置見表51表51 探頭推薦性選擇和設置工件厚度(mm）檢測分區(qū)數(shù)或掃查次數(shù)深度范圍(mm）標稱頻率(MHz)聲束角度α( 176。，其位置分辨率應符合工藝要求。，能保證掃查裝置沿特定軌跡掃查。：表5012 平面對比試塊規(guī)格及適用范圍序號對比試塊厚度(mm）規(guī)格(mm）適用工件厚度(mm）1T15150951512～162T21150952116～233T301501153023～334T432001304333～485T622501406248～686T883001608868～977T12240018012297～100，若檢測面曲率半徑小于150mm時，～；當曲率半徑等于或大于150mm時，可以采用平面對比試塊。表53模擬試塊規(guī)格及適用范圍序號模擬試塊厚度(mm）規(guī)格(mm）適用工件厚度(mm）1T1560040015