【正文】 基團(tuán), 使熒光波長短移，熒光強(qiáng)度減弱（3）影響不明顯的取代基 —— NH3+、R、 SO3H等5. 大多數(shù)無機(jī)鹽類金屬離子，不能產(chǎn)生熒光，但某些螯合物都能產(chǎn)生很強(qiáng)的熒光，可用于痕量金屬離子的測(cè)定不少有機(jī)配體是弱熒光體 或不發(fā)熒光，但與Mn+形成螯合物后變?yōu)槠矫鏄?gòu)型，就會(huì)使熒光加強(qiáng)或產(chǎn)生熒光？答： 除一般溶劑效應(yīng)外，溶劑的極性、氫鍵、配位鍵的形成都將使化合物的熒光發(fā)生變化； 熒光強(qiáng)度對(duì)溫度變化敏感，溫度增加，外轉(zhuǎn)換去活的幾率增加。 環(huán)越多，共軛程度越大，產(chǎn)生熒光波長越長（紅移），發(fā)射的熒光強(qiáng)度越強(qiáng)3. 剛性平面結(jié)構(gòu) 具有強(qiáng)熒光的分子多數(shù)有剛性平面結(jié)構(gòu)，可以減少分子的振動(dòng)，使分子與溶劑或其它溶質(zhì)分子的相互作用減少，也減少了碰撞去活的可能性，熒光強(qiáng)度大。 p*和n 174。由第一激發(fā)三重態(tài)的最低振動(dòng)能級(jí)躍遷到基態(tài)的，約104～10s，所輻射躍遷而發(fā)出的光稱為磷光。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電訊號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下，于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序作柵網(wǎng)式掃描。成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。 2. 掃描隧道顯微鏡的工作模式。由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對(duì)應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。 1. 掃描探針顯微鏡的工作原理。掃描探針顯微鏡：分辨率高，可獲得物體表面的三維形貌，完全得到的是樣品表面單層原子的形貌信息。但制樣相對(duì)比較麻煩。 UVVisNir分光光度法的應(yīng)用應(yīng)用領(lǐng)域：涉及化學(xué)化工、醫(yī)療衛(wèi)生、冶金地質(zhì)、食品飲料、農(nóng)業(yè)化肥、畜牧水產(chǎn)、機(jī)械制造、計(jì)量科學(xué)、環(huán)保、制藥、生物、材料、石油等領(lǐng)域中的科研、教學(xué)、生產(chǎn)中的質(zhì)量控制、原材料和產(chǎn)品檢驗(yàn)等各個(gè)方面，進(jìn)行定性分析、定量測(cè)定、純度檢查、結(jié)構(gòu)分析、絡(luò)合物組成及穩(wěn)定常數(shù)測(cè)定、動(dòng)力學(xué)研究等等。4. 顯色時(shí)間、溫度、放置時(shí)間等。2. 顯色劑用量：配位數(shù)與顯色劑用量有關(guān)；在形成逐級(jí)配合物，其用量更要嚴(yán)格控制。~。e 與波長有關(guān)，因此，e 常以el表示 紫外可見光度計(jì)儀器組成光源、單色器、吸收池、檢測(cè)器 分析條件選擇一、儀器測(cè)量條件由于光源不穩(wěn)定性、讀數(shù)不準(zhǔn)等帶來的誤差。 當(dāng)濃度以mol/L表示時(shí)，稱 k 為摩爾吸光系數(shù)，以e 表示，即e 比 a 更常用。238。DTG曲線上出現(xiàn)的峰表示質(zhì)量發(fā)生變化，峰的面積與試樣的質(zhì)量變化成正比，峰頂與失重變化速率最大處相對(duì)應(yīng)。9. 解釋：熱分析、熱重分析、差熱分析、微商熱重法、差示掃描量熱法答：熱分析是在程序控制溫度下，測(cè)量物質(zhì)的物理性質(zhì)與溫度關(guān)系的一類技術(shù)熱重法（TG）是在程序控制溫度下，測(cè)量物質(zhì)的質(zhì)量與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。零位型天平在加熱過程中試樣無質(zhì)量變化時(shí)仍能保持初始平衡狀態(tài)，而有質(zhì)量變化時(shí)天平就失去平衡，并立即由傳感器檢測(cè)并輸出天平失衡信號(hào)，然后經(jīng)測(cè)重系統(tǒng)放大用以自動(dòng)改變平衡復(fù)位器中的電流，使天平重又回到寢平衡狀態(tài)。8．檢測(cè)質(zhì)量的變化最常用的辦法就是用熱天平，通常測(cè)量有哪兩種方法？偏斜式天平是借助一個(gè)適當(dāng)?shù)霓D(zhuǎn)換器將天平梁的偏移轉(zhuǎn)換為可記錄的電訊號(hào)。（至少舉5例）答：熱重法的重要特點(diǎn)是定量性強(qiáng)，能準(zhǔn)確地測(cè)量物質(zhì)的質(zhì)量變化及變化的速率，可以說，只要物質(zhì)受熱時(shí)發(fā)生重量的變化，就可以用熱重法來研究其變化過程。此式即為DSC測(cè)定樣品Cp之依據(jù)。如果已知某聚合物百分之百結(jié)晶時(shí)的熔融熱為△Hf*，那么部分結(jié)晶聚合物的結(jié)晶度θ可按下式計(jì)算：θ= (△Hf/ △Hf*) 100 %式中，△Hf為測(cè)定的樣品熔融熱。（2）樣品純度測(cè)定利用Vant Hoff方程進(jìn)行純度測(cè)定。6．差示掃描量熱法的應(yīng)用有哪些方面？答：（1）樣品焓變（△H）的測(cè)定若已知儀器常數(shù)K，按測(cè)定K時(shí)相同的條件測(cè)定樣品DSC曲線上峰面積S 按照式△H＝K（3）用于分解、氧化還原、固相反應(yīng)等的研究。易氧化的樣品，可通入NNe等惰性氣體5．差熱分析法的應(yīng)用有哪些方面？答：在熱分析中，DTA分析是使用較早、應(yīng)用較廣和研究得較多的一種方法，其主要應(yīng)用可歸納成以下幾個(gè)方面：（1） 研究結(jié)晶轉(zhuǎn)變、二級(jí)轉(zhuǎn)變。（3）壓力、氣氛氣氛和壓力可以影響樣品化學(xué)反應(yīng)和物理變化的平衡溫度、峰形，必須根據(jù)樣品的性質(zhì)選擇適當(dāng)?shù)臍夥蘸蛪毫?。樣品量越大，易使相鄰兩峰重疊，降低分辨力。對(duì)易分解產(chǎn)生氣體的樣品，粒度應(yīng)大些。粒度小：表面積大，反應(yīng)速度快；可改善導(dǎo)熱條件；但影響氣體擴(kuò)散。（1）升溫速率 影響峰形（面積）與峰位升溫速率越大，峰形越尖，峰高也增加，峰頂溫度也越高。4．差熱（DTA）曲線的影響因素有哪些？答: 內(nèi)因：試樣本身的性質(zhì)（熱特性）外因：① 儀器結(jié)構(gòu)：加熱爐形狀、尺寸；坩堝材料、形狀；熱電偶位置、性能。其原理是物質(zhì)在加熱或冷卻過程中會(huì)發(fā)生物理變化或化學(xué)變化，同時(shí)還伴有吸熱或放熱現(xiàn)象，DTA曲線就是在線性升溫下樣呂溫差與溫度或時(shí)間關(guān)系的曲線。2．影響熱重（TG ）曲線的因素有哪些？答：儀器因素： 實(shí)驗(yàn)因素：、。2．做必要的圖譜及元素分析。這種由于自旋自旋偶合引起譜峰裂分的現(xiàn)象稱為自旋自旋裂分（SpinSpin Splitting）。 自旋核的核磁矩可以通過成鍵電子影響鄰近磁核是引起自旋－自旋偶合的根本原因。答： 分子中的核除了受外層電子的影響外（化學(xué)位移的改變），分子中鄰近的核存在相互作用，這種相互作用稱為自旋自旋偶合。因此采用不同的溶劑質(zhì)子的化學(xué)位移可能不同，存在溶劑效應(yīng)。D van der Waals 效應(yīng)（去屏蔽效應(yīng)）當(dāng)兩個(gè)質(zhì)子在空間結(jié)構(gòu)上非?？拷鼤r(shí)，具有負(fù)電荷的電子云就會(huì)互相排斥，使這些質(zhì)子周圍的電子云密度減少，屏蔽作用降低，共振信號(hào)向低場(chǎng)移動(dòng)。B 共扼效應(yīng)當(dāng)拉電子基或推電子基與雙鍵相連時(shí)，會(huì)改變質(zhì)子的電子云密度如電子云密度增大，化學(xué)位移值降低，反之升高C 各向異性效應(yīng)當(dāng)分子中一些基團(tuán)的電子云排布不對(duì)稱時(shí)，處在不同位置的質(zhì)子具有不同的化學(xué)位移，這種效應(yīng)稱為各向異性。（6）固定H0 ，改變n（掃頻） ，不同原子核在不同頻率處發(fā)生共振。(3) 照射頻率與外磁場(chǎng)的比值n / B0 = g / (2p )、（4）對(duì)于同一種核 ，磁旋比g 為定值， H0變，射頻頻率n變。14. X射線熒光光譜不能測(cè)定哪些元素？為什么？答：不能測(cè)定4號(hào)元素以下的，闡述X射線熒光光譜分析與X射線衍射分析的聯(lián)系和區(qū)別。原子吸收光譜，原子發(fā)射光譜，X射線熒光光譜，電子探針分析，電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICPMS）12. 常見用于成分分析的方法有哪些?各有什么優(yōu)缺點(diǎn)?答：原子吸收分析法和x射線熒光光譜分析法可以用于成分分析。答：定性分析：根據(jù)掃描測(cè)量的譜圖進(jìn)行譜峰的檢索并與標(biāo)準(zhǔn)譜的比對(duì)確定樣品的元素(或化合物)組成。但隨著原子序數(shù)的增加，產(chǎn)生X射線熒光的幾率逐漸增加，重元素主要以發(fā)射X射線熒光為主。（俄歇效應(yīng)與X射線熒光效應(yīng)是兩種相互競爭的過程。答：原子中的內(nèi)層(如K層)電子被X射線輻射電離后在K層產(chǎn)生一個(gè)空位。答: 晶體的Ｘ射線衍射圖像實(shí)質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細(xì)復(fù)雜的變換，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其Ｘ射線衍射圖之間都有著一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，其特征X射線衍射圖譜不會(huì)因?yàn)樗N物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是Ｘ射線衍射物相分析方法的依據(jù)。17. X射線的本質(zhì)？答：X射線的本質(zhì)是一種電磁波，具有波粒二象性，既具有波動(dòng)性，又具有粒子性，在X射線衍射分析中應(yīng)用的主要是它的波動(dòng)性，反應(yīng)在傳播過程中發(fā)生干涉，衍射作用，而在與物質(zhì)相互作用，進(jìn)行能量交換時(shí)，則表現(xiàn)出它的離子性。 當(dāng)入射X射線光子與原子中束縛較弱的電子發(fā)生非彈性碰撞時(shí)，X射線光子將一部分能量傳給電子，使之脫離原有的原子而成為反沖電子，同時(shí)光子本身也改變了傳播方向，發(fā)生散射，且能量減小，也就是說，散射X射線的波長變長了。答：當(dāng)入射X射線光子與原子中束縛較緊的電子發(fā)生彈性碰撞時(shí)，X射線電子的能量不足以使電子擺脫束縛，電子的散射線波長與入射線波長相同，有確定的相位關(guān)系。主要用于物相分析，點(diǎn)陣參數(shù)的測(cè)定等。 當(dāng)波長一定的X射線照射多晶體樣品時(shí)，但由于樣品中有無數(shù)個(gè)晶體，且每個(gè)晶體的取向是不同，總可以找到一些顆粒中的某個(gè)面網(wǎng)，它與X射線