超聲波檢測第三章ppt課件-文庫吧資料
2025-05-09 18:28本頁面
【正文】 值大發(fā)射強(qiáng)度高，阻值小發(fā)射強(qiáng)度低，因 Ro與探頭并聯(lián)，改變 Ro同時(shí) 也改變了探頭電阻尼大小，即影響探頭的分辨力。如圖所示。 A型脈沖反射式超聲波探傷儀的一般工作原理 (3) 發(fā)射電路 ： 發(fā)射電路利用閘流管或可控硅的開關(guān)特性，產(chǎn)生幾百伏至上千伏 的電脈沖。 探傷時(shí)，應(yīng)根據(jù)被探工件的探測深度范圍選擇適當(dāng)?shù)纳疃葯n級(jí)，井配合微調(diào)旋鈕調(diào) 整，使刻度板水平軸上每一格代表一定的距離。 (2) 掃描電路：掃描電路又稱時(shí)基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓，加在示波管水平 偏轉(zhuǎn)板上，使示波管熒光屏上的光點(diǎn)沿水平方向作等速移動(dòng)，產(chǎn)生一條水平掃描時(shí) 基線。 2．儀器主要組成部分的作用 (1)同步電路：同步電路又稱觸發(fā)電路，它每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個(gè)脈沖，用來觸 發(fā)探傷儀掃描電路、發(fā)射電路等，使之步調(diào)一致、有條不紊地工作。 目前，探傷中廣泛使用的超聲波探傷儀都是 A型顯示脈沖反射式探傷儀。 二、 超聲波探傷儀的分類 二、 超聲波探傷儀的分類 按聲波通道分類 ① 單通道探傷儀：這種儀器由一個(gè)或一對(duì)探頭單獨(dú)工作，是目前超聲波探傷中應(yīng)用最廣泛的儀器。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 ii B型顯示超聲探傷儀 以屏幕面代表被檢測對(duì)旬由探頭移動(dòng)線和聲束決定的截面，縱座標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，橫座標(biāo)代表探頭的水平位置，它可以顯示出缺陷在縱截面上的二維特征。但只適合檢查與探測面平行的缺陷，所以也大多被脈沖波探傷儀所代替。 Ｔ－重復(fù)周期 f0=1/t0 －標(biāo)稱頻率 Ａ－振幅強(qiáng)度 １、按波形特征分類 ii 連續(xù)波超聲波探傷儀 這類儀器是連續(xù)的發(fā)射和接收頻率和振幅都不變的超聲信號(hào)，根據(jù)透過工件的超聲波變化判斷工件中有無缺陷及缺陷大小，這類儀器靈敏度低，且不能確定缺陷位置，因而已大多被脈沖波探傷儀所代替。 5) CS CS2試塊 6) CSKIIIA 試塊 (參考試塊 ) 超聲波探傷儀 一、 超聲波探傷儀的概述 １、 超聲波探傷儀的作用 超聲波探傷儀是超聲波探作的主體設(shè)備，它的作用是產(chǎn)生電振蕩并加于換能器（探頭）上，激勵(lì)探頭發(fā)射超聲波，同時(shí)將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大，通過一定的方式顯示出來，從而得到被探工件內(nèi)部有無缺陷及缺陷位置大小等信息。 4) CSKIA試塊 R50 R100 T CSKIA試塊是國內(nèi)自主設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)試塊，功能與 IIW試塊相同。與IIW試塊相比 IIW2試塊體積小重量輕，形狀簡單，易加工，便攜帶，但功能較IIW試塊要少。 試塊的種類和結(jié)構(gòu) 1) IIW試塊 T R 2R IIW試塊是國際焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)試塊，該試塊是荷蘭代表首先提出來的，故又稱荷蘭試塊，因形狀似船形又稱船形試塊。特別是 3N以內(nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然 是最有效的定量方法。 利用試塊可以調(diào)整儀器示波屏上刻度值與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速 度，以便對(duì)缺陷進(jìn)行定位。 角度標(biāo)尺 接口 外殼 壓電晶片 旋轉(zhuǎn)桿 耦合劑 保護(hù)膜 探頭型號(hào)和規(guī)格 1) 探頭的標(biāo)識(shí) 探頭的型號(hào)標(biāo)識(shí)由以下幾部分組成： 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 基本頻率：探頭的發(fā)射頻率，用阿拉伯?dāng)?shù)字表示，單位為ＭＨｚ 晶片材料：用化學(xué)元素縮寫符號(hào)表示 晶片尺寸：壓電晶片的大小，圓形晶片用直徑表示，矩形用長乘
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