【正文】 2．儀器主要組成部分的作用 A型脈沖反射式超聲波探傷儀的一般工作原理 A型脈沖反射式模擬超聲波探傷儀的工作過程可參照下圖，簡要說明如下； 同步電路產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖同時加至掃描電路和發(fā)射電路，掃描電路受觸發(fā)開始工作， 產(chǎn)生鋸齒波掃描電壓，加至示波管水平偏轉(zhuǎn)板，使電子束發(fā)生水平偏轉(zhuǎn)，在熒光屏上 產(chǎn)生一條水平掃描線。 發(fā)射電路中的電阻 Ro稱為阻尼電阻，用發(fā)射強度旋鈕可改變 Ro的阻值。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 i A型顯示超聲探傷儀 是目前脈沖反射式超聲波探傷儀最基本的一種顯示方式，在熒光屏上以縱座標(biāo)代表反射波的幅度，以橫座標(biāo)代表聲波的傳播時間，從缺陷波的幅度和位置來確定缺陷的大小和存在的位置。 超聲波探傷儀和探頭的一些重要性能，如垂直線性、水平線性、動態(tài)范圍、靈 敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點、 K值等都是利用試塊來測試的。Ｋ t越大探測靈敏度越高。第三章 儀器、探頭和試塊 １、超聲波探傷儀 ２、超聲波探頭 ３、超聲波試塊 超聲波探頭 １、壓電效應(yīng) １） 正壓電效應(yīng) 晶體材料在外力拉壓作用下，產(chǎn)生交變電場的效應(yīng)稱為正壓電效應(yīng)。Ｋ p越大，低頻諧振波增多，發(fā)射脈沖變寬，導(dǎo)致分辨率下降，盲區(qū)增大。 利用試塊可以調(diào)整儀器示波屏上刻度值與實際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速 度，以便對缺陷進(jìn)行定位。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 ii B型顯示超聲探傷儀 以屏幕面代表被檢測對旬由探頭移動線和聲束決定的截面，縱座標(biāo)代表聲波的傳播時間，橫座標(biāo)代表探頭的水平位置，它可以顯示出缺陷在縱截面上的二維特征。 阻值大發(fā)射強度高，阻值小發(fā)射強度低，因 Ro與探頭并聯(lián)，改變 Ro同時 也改變了探頭電阻尼大小，即影響探頭的分辨力。與此同時，發(fā)射電路觸發(fā)產(chǎn)生調(diào)頻窄脈沖，加至探頭，激勵壓 電晶片振動，在工件中產(chǎn)生超聲波，超聲波在工件中傳播，遇缺陷或底面發(fā)生反射， 返回探頭時，又被壓電晶片轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?，?jīng)接收電路放大和檢波，加至示波管垂直 偏轉(zhuǎn)板上，使電子束發(fā)生垂直偏轉(zhuǎn)，在水平掃描相應(yīng)位置上產(chǎn)生缺陷波和底波。數(shù)字便攜式探傷儀多用蓄電池供電，用充電器給蓄電池充電。如圖所示。但只適合檢查與探測面平行的缺陷，所以也大多被脈沖波探傷儀所代替。 角度標(biāo)尺 接口 外殼 壓電晶片 旋轉(zhuǎn)桿 耦合劑 保護(hù)膜 探頭型號和規(guī)格 1) 探頭的標(biāo)識 探頭的型號標(biāo)識由以下幾部分組成： 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 基本頻率：探頭的發(fā)射頻率，用阿拉伯?dāng)?shù)字表示，單位為ＭＨｚ 晶片材料：用化學(xué)元素縮寫符號表示 晶片尺寸：壓電晶片的大小，圓形晶片用直徑表示，矩形用長乘寬表示，單位 mm 探頭種類：漢語拼音縮寫字母代表示 探頭特征：漢語拼音縮寫字母代表示 ２ ) 舉例 P 13 X13 K 2 5 B 14 Z K值為２ K值斜探頭 矩形晶片 13X13mm 鋯鈦酸鉛陶瓷 頻率 13 X13直探頭 圓形晶片直徑為 14mm 鈦酸鋇陶瓷 頻率 試塊的用途 超聲波檢測靈敏度是一個重要參數(shù)，因此在超聲波檢測前，常用試塊上某一特 定的人工反射體來調(diào)整檢測和校驗靈敏度。 當(dāng)晶片振動時，同時產(chǎn)生厚度和徑向兩個方向的變形，因此機(jī)電耦合系數(shù)分為厚度方向Ｋ t和徑向Ｋ p。 ２）負(fù)壓電效應(yīng) 晶體材料在交變電場作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為負(fù)壓