超聲波檢測第三章ppt課件(完整版)
【正文】 ）探測范圍可調(diào) 雙晶探頭主要用于檢測近表面缺陷。 損貯EEm ??壓電材料的主要性能參數(shù) 6) 頻率常數(shù) 壓電晶片的厚度與因有頻率的乘積是一個常數(shù)，這個常數(shù)叫作頻率常數(shù) 式中 cL—— 晶片中縱波聲速 t—— 晶片厚度 f0—— 晶片固有頻率 晶片材料一定，頻率越高，厚度越小 )(20常數(shù)LtcftN ???壓電材料的主要性能參數(shù) 7) 居里溫度 壓電材料與磁性材料一樣，其壓電效應(yīng)與溫度有關(guān)，它只能在一定的 溫度范圍內(nèi)產(chǎn)生，超過一定的溫度壓電效應(yīng)就會消失。越小電容器放電時間越快頻率越高。 ２）負(fù)壓電效應(yīng) 晶體材料在交變電場作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為負(fù)壓電效應(yīng)。 g33值越大，接收性能越好，接收靈敏度越高。 當(dāng)晶片振動時，同時產(chǎn)生厚度和徑向兩個方向的變形，因此機電耦合系數(shù)分為厚度方向Ｋ t和徑向Ｋ p。 探頭的種類和結(jié)構(gòu) 2) 斜探頭 接口 外殼 電纜線 阻尼塊 壓電晶片 斜楔 斜探頭可分為縱波斜探頭（ aLa1） ,橫波斜探頭（ aL=a1~aII）和表面波探頭 (aL≧ aII) 橫波斜探頭是利用橫波探傷，主要是用于檢測與探測面垂直或成一定角度的缺陷，如焊接汽輪機葉輪等。 角度標(biāo)尺 接口 外殼 壓電晶片 旋轉(zhuǎn)桿 耦合劑 保護膜 探頭型號和規(guī)格 1) 探頭的標(biāo)識 探頭的型號標(biāo)識由以下幾部分組成： 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 基本頻率：探頭的發(fā)射頻率，用阿拉伯?dāng)?shù)字表示，單位為ＭＨｚ 晶片材料：用化學(xué)元素縮寫符號表示 晶片尺寸：壓電晶片的大小，圓形晶片用直徑表示，矩形用長乘寬表示，單位 mm 探頭種類：漢語拼音縮寫字母代表示 探頭特征：漢語拼音縮寫字母代表示 ２ ) 舉例 P 13 X13 K 2 5 B 14 Z K值為２ K值斜探頭 矩形晶片 13X13mm 鋯鈦酸鉛陶瓷 頻率 13 X13直探頭 圓形晶片直徑為 14mm 鈦酸鋇陶瓷 頻率 試塊的用途 超聲波檢測靈敏度是一個重要參數(shù)，因此在超聲波檢測前，常用試塊上某一特 定的人工反射體來調(diào)整檢測和校驗靈敏度。與IIW試塊相比 IIW2試塊體積小重量輕，形狀簡單，易加工，便攜帶，但功能較IIW試塊要少。但只適合檢查與探測面平行的缺陷，所以也大多被脈沖波探傷儀所代替。 2．儀器主要組成部分的作用 (1)同步電路：同步電路又稱觸發(fā)電路，它每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個脈沖，用來觸 發(fā)探傷儀掃描電路、發(fā)射電路等，使之步調(diào)一致、有條不紊地工作。如圖所示。 由大小不等的缺陷所產(chǎn)生的回波信號電壓大約有幾百微伏到幾伏，為了使變化范圍 如此大的缺陷回波在放大器內(nèi)得到正常的放大，并能在示波管熒光屏的有效觀察范 圍內(nèi)正常顯示，可使用衰減器改變輸入到某級放大器信號的電平。數(shù)字便攜式探傷儀多用蓄電池供電，用充電器給蓄電池充電。 在探傷過程中，發(fā)現(xiàn)了缺陷回波，只需要從儀器上數(shù)出缺陷波對應(yīng)屏幕上的格數(shù) 再根據(jù)掃描比例進行計算即可得到 。與此同時，發(fā)射電路觸發(fā)產(chǎn)生調(diào)頻窄脈沖，加至探頭，激勵壓 電晶片振動，在工件中產(chǎn)生超聲波，超聲波在工件中傳播，遇缺陷或底面發(fā)生反射， 返回探頭時，又被壓電晶片轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘枺?jīng)接收電路放大和檢波，加至示波管垂直 偏轉(zhuǎn)板上，使電子束發(fā)生垂直偏轉(zhuǎn)，在水平掃描相應(yīng)位置上產(chǎn)生缺陷波和底波。 示波管用來顯示探傷
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