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正文內(nèi)容

超聲波檢測(cè)第六章ppt課件(完整版)

  

【正文】 x f a x f x BP f D fx B?? ? ? ?λ△ Bf ) 在平面工件檢測(cè)中,用 6dB法測(cè)定缺陷的長(zhǎng)度時(shí),探頭移動(dòng)的距離就是缺陷的指示長(zhǎng)度,如圖 。 缺陷位置和大小的測(cè)定 在鍛件檢測(cè)中,主要采用縱波直探頭檢測(cè),因此可根據(jù)示波屏上缺陷前沿所對(duì)應(yīng)的水平刻度值 τ f和掃描速度 1: n來(lái)確定缺陷在鍛件中的位置。 值得注意的是,當(dāng)試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時(shí),要進(jìn)行耦合補(bǔ)償。 X 被探部位的厚度, mm; DF—— 平底孔直徑, mm。 掃描速度的調(diào)節(jié)可在試塊上進(jìn)行,也可在鍛件上尺寸已知的部位上進(jìn)行,在試塊上調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),試塊上的聲速應(yīng)盡可能與工件相同或相近。該試塊的人工缺陷為平底孔,孔徑有 φ φ φ φ 6等四種,距離 L分別為 1 2 3 45mm。 ? ? ? ?1 2 62BBx??α =式中 [ B] 1[ B] 2―― 無(wú)缺陷處第一。當(dāng)在試塊上調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度時(shí),要注意補(bǔ)償試塊與工件之間因曲率半徑和表面粗糙度不同引起的耦合損失,鍛件檢測(cè)時(shí),常用機(jī)油、漿糊、甘油等作耦合劑,當(dāng)鍛件表面粗糙時(shí)也可選用黏度更大的水玻璃作耦合劑。外圓檢測(cè)的目的是為了發(fā)現(xiàn)與軸線平行的周向缺陷,端面檢測(cè)的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的橫向缺陷。 ( b ) 軸 向 探 傷( a ) 周 向 探 傷 圖 軸類鍛件斜探頭周向、軸向探傷 、碗類鍛件的檢測(cè) 餅類和碗類鍛件的鍛造工藝主要以敦促為主,缺陷以平行端面分布為主,所以用直探頭在端面檢測(cè)是檢出缺陷的最佳方法??紤]到缺陷會(huì)有其他的分布及取向。 鍛件常用于使用安全要求較高的關(guān)健部件,因此,通常需要對(duì)其表面和外形進(jìn)行加工,以保證鍛件具有光滑的聲入射面滿足高靈敏度檢測(cè)的需要,同時(shí)使其外形盡可能為超聲波覆蓋整個(gè)鍛件區(qū)域提供方便的入射面。 探傷方法概述 按探傷時(shí)間分類,鍛件探傷可分為原材料探傷和制造工程中的探傷,產(chǎn)品檢驗(yàn)及在役檢驗(yàn)。白點(diǎn)對(duì)鋼材的力學(xué)性能影響很大,當(dāng)白點(diǎn)平面垂直方向受應(yīng)力作用時(shí),會(huì)導(dǎo)致鋼件突然斷裂。如淬火時(shí)加熱溫度較高,是鍛件組織粗大,淬火時(shí)可能產(chǎn)生裂紋;冷卻不當(dāng)引起的開(kāi)裂,回火不及時(shí)或不當(dāng),由鍛件內(nèi)部殘余應(yīng)力引起的裂紋。 內(nèi)在非金屬夾雜物是鑄錠中包含的脫氧劑、合金元素與氣體的反應(yīng)物尺寸較小,常漂浮于熔液上,最后集結(jié)在鑄錠中心及頭部。滾壓既有縱向變形,又有橫向變形。 鍛件與鑄件超聲波探傷 梁 國(guó) 利 電 話: 13676930185 Email: 河 南 第 二 火 電 建 設(shè) 公 司 第六章 鍛件與鑄件超聲波探傷 鍛件和鑄件是制造各種機(jī)械設(shè)備及鍋爐 、 壓力容器的重要毛坯件 , 特別是鍛件 , 在高參數(shù)大型容器中和受壓元件制造中應(yīng)有非常廣泛 。其中鐓粗主要用于餅類鍛件,拔長(zhǎng)主要用于軸類鍛件,而筒形鍛件一般先鐓粗,后沖孔,再滾壓。 外來(lái)非金屬夾雜物是冶煉、澆注過(guò)程中混入的耐火材料或雜質(zhì),尺寸較大,故?;祀s于鑄錠下部。 (新教材內(nèi)容) 熱金屬的突出部位被壓折并嵌入鍛件表面形成的缺陷稱為折疊,多發(fā)生在鍛件的內(nèi)圓角和尖角處。因此,鋼材不允許白點(diǎn)存在。 鍛件可采用接觸法或水浸法進(jìn)行檢測(cè)。 鍛件檢測(cè)的時(shí)機(jī),原則上應(yīng)選擇在熱處理后,沖孔、開(kāi)槽等精加工之前進(jìn)行。因此軸類鍛件檢測(cè),還應(yīng)輔以直探頭在端面的軸向檢測(cè),必要是還應(yīng)附以斜探頭的徑向檢測(cè)及軸向檢測(cè)。 對(duì)于某些重要的餅類、碗類鍛件或厚度大的鍛件,應(yīng)從兩個(gè)端面進(jìn)行檢測(cè),此外有時(shí)還需從外園面徑向檢測(cè),如圖 。 ( c ) ( a )( b )( c )( b ) 周 向 探 測(cè)( a ) 軸 向 探 測(cè) 圖 圖 筒類鍛件斜探頭探傷 ( 2)雙晶直探頭檢測(cè) 是為了檢測(cè)筒體近表面缺陷,可采用雙晶直探頭從外圓面或端面檢測(cè),如圖 。 水浸法時(shí),對(duì)檢測(cè)表面的要求低于接觸法。二次底波高的分貝差;X―― 底波聲程(單程)。 當(dāng)探測(cè)面為曲面時(shí),應(yīng)采用曲面底面對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同引起的耦合損失。 調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),一般要求第一次底波前沿位置不超過(guò)水平刻度極限的 80%,以利觀察一次底波之后的某些信號(hào)情況。 對(duì)于空心圓柱體,同距離處圓柱曲底面與平底孔回波分貝差為: 222 0 l g 2 0 l g 1 0 l gP B x dP f D f D?? ? ? ?λ式中 d 空心圓柱體內(nèi)徑, mm; D 空心圓柱體外徑, mm; “+” 外圓徑向檢測(cè),內(nèi)孔凸柱面反射; “-” 內(nèi)孔徑向檢測(cè),外圓凹柱面反射。當(dāng)試塊與工件的材質(zhì)衰減相差較大時(shí),還要考慮介質(zhì)衰減補(bǔ)償。缺陷至探頭的距離 xf為 xf= nτ f (83) 鍛件檢測(cè)中,對(duì)于尺寸小于聲束截面的缺陷一般用當(dāng)量法定量。然而對(duì)圓柱形鍛件進(jìn)行軸向探測(cè)時(shí),探頭的移動(dòng)距離不再是缺陷的指示長(zhǎng)度了,這時(shí)要按幾何關(guān)系來(lái)確定缺陷的指示長(zhǎng)度,如圖 。一般在邊長(zhǎng) 50mm的立方體內(nèi)少于 5個(gè),不小于 φ 2mm,如分散性的夾層。 (4)以單位體積內(nèi)缺陷回波數(shù)量劃分,規(guī)定在一定體內(nèi)缺陷回波數(shù)量多于規(guī)定值時(shí),定義為密集缺陷。 游動(dòng)回波的產(chǎn)生是由于不同波束射至缺陷產(chǎn)生反射引起的。 在鍛件檢測(cè)中,有時(shí)還可根據(jù)底波變化情況來(lái)判別鍛件中的缺陷情況。第一次遲到波位于 B1之后 ( d為軸類鍛件的直徑),以后各次遲到波的間距均為。同時(shí)時(shí)可根據(jù)反射波的聲程通過(guò)計(jì)算來(lái)判別。 1 2 傾 斜 缺 陷 的 6 1 176。 下面舉例聲明鍛件的評(píng)級(jí)方法。鑄件中的氣孔分為單個(gè)分散氣孔和密集氣孔。裂紋是最危險(xiǎn)的缺陷。 鑄件表面粗糙,聲耦合差,探傷靈敏度低,波束指向性不好,且探頭磨損嚴(yán)重。 鑄件中的組織不致密和不均勻,以及晶粒粗大,都會(huì)使超聲波產(chǎn)生嚴(yán)重的散射,被探頭接收后,在熒光屏上將顯示為較強(qiáng)的草狀雜波信號(hào);粗糙的鑄造表面對(duì)聲波的散射也會(huì)形成雜波信號(hào);另外,鑄件形狀復(fù)雜,也非常容易產(chǎn)生外輪廓反射回波以及遲到回波。對(duì)于厚度不大又經(jīng)過(guò)熱處理的鑄鋼件,可選用 ~ ,對(duì)于厚度較大和未熱處理的鑄鋼件,宜選用 ~ 。 鑄鋼件探傷時(shí),常用黏度較大的耦合劑,如漿糊、黃油、甘油、水玻璃等。為此按鑄鋼件厚度劃分為外層、內(nèi)層、外層等三層。以下幾種情況作為缺陷記錄。位于評(píng)定區(qū)邊界線上的缺陷,只計(jì)入缺陷位于評(píng)定區(qū)內(nèi)的那部分面積。若探測(cè)面積不足 105mm2,則按比例折算允許的缺陷面積。 發(fā)現(xiàn)缺陷以后,要測(cè)定缺陷的位置與大小。 距離-波幅曲線的測(cè)試與靈敏度調(diào)整 根據(jù)探測(cè)要求選定一組平底孔對(duì)比試塊(平底孔直徑相同聲程不同)測(cè)出工件與對(duì)比塊的透聲性和耦合損失差△ dB,衰減量 ≥ (△+ 10) dB。一般探傷前要測(cè)試其透聲性。 鑄
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