超聲波檢測(cè)第三章ppt課件(更新版)
【正文】 圖形，示波管由電子槍、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)和熒光屏等三部分組成。 阻值大發(fā)射強(qiáng)度高，阻值小發(fā)射強(qiáng)度低，因 Ro與探頭并聯(lián)，改變 Ro同時(shí) 也改變了探頭電阻尼大小，即影響探頭的分辨力。 (2) 掃描電路：掃描電路又稱時(shí)基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓，加在示波管水平 偏轉(zhuǎn)板上，使示波管熒光屏上的光點(diǎn)沿水平方向作等速移動(dòng)，產(chǎn)生一條水平掃描時(shí) 基線。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 ii B型顯示超聲探傷儀 以屏幕面代表被檢測(cè)對(duì)旬由探頭移動(dòng)線和聲束決定的截面，縱座標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，橫座標(biāo)代表探頭的水平位置，它可以顯示出缺陷在縱截面上的二維特征。 4) CSKIA試塊 R50 R100 T CSKIA試塊是國內(nèi)自主設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)試塊，功能與 IIW試塊相同。 利用試塊可以調(diào)整儀器示波屏上刻度值與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速 度，以便對(duì)缺陷進(jìn)行定位。根據(jù) 入射角不同分為縱波雙晶探頭和橫波 雙晶探頭。Ｋ p越大，低頻諧振波增多，發(fā)射脈沖變寬，導(dǎo)致分辨率下降，盲區(qū)增大。 AtC??式中 C—— 電容器電容 t—— 電容器極板距離 A—— 電容器極板面積 介電常數(shù) 越大電容器存貯的電量越大。第三章 儀器、探頭和試塊 １、超聲波探傷儀 ２、超聲波探頭 ３、超聲波試塊 超聲波探頭 １、壓電效應(yīng) １） 正壓電效應(yīng) 晶體材料在外力拉壓作用下，產(chǎn)生交變電場(chǎng)的效應(yīng)稱為正壓電效應(yīng)。 壓電材料的主要性能參數(shù) 3) 介電常數(shù) 介電常數(shù)表示在壓電晶體上施加單位電壓時(shí)所產(chǎn)生的應(yīng)變大小。Ｋ t越大探測(cè)靈敏度越高。 表面波探頭當(dāng)入射角大于第二臨界角在工件中產(chǎn)生表面波，主要檢測(cè)工件表面缺陷 吸聲材料 探頭的種類和結(jié)構(gòu) 3) 雙晶探頭（分割探頭） 接口 外殼 電纜線 阻尼塊 壓電晶片 延時(shí)塊 隔聲層 探傷區(qū) 雙晶探頭有兩塊壓電晶片，一塊用于 發(fā)射聲波，一塊用于接收聲波。 超聲波探傷儀和探頭的一些重要性能，如垂直線性、水平線性、動(dòng)態(tài)范圍、靈 敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點(diǎn)、 K值等都是利用試塊來測(cè)試的。 3) 半圓試塊 R 3R T 半圓試塊是一種便于攜帶的調(diào)校型試塊，材質(zhì)與 IIW試塊相同，分中心開切口槽與不開槽兩種。 二、 超聲波探傷儀的分類 按缺陷顯示方式分類 i A型顯示超聲探傷儀 是目前脈沖反射式超聲波探傷儀最基本的一種顯示方式，在熒光屏上以縱座標(biāo)代表反射波的幅度，以橫座標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，從缺陷波的幅度和位置來確定缺陷的大小和存在的位置。因此，同步電 路是整個(gè)探傷儀的 “ 中樞 ” ，同步電路出了故障，整個(gè)探傷儀便無法工作。 發(fā)射電路中的電阻 Ro稱為阻尼電阻，用發(fā)射強(qiáng)度旋鈕可改變 Ro的阻值。一般把放大器的 電壓放大倍數(shù)用分貝來表示： ）（入出 dBK V UUlg20?2．儀器主要組成部分的作用 A型脈沖反射式超聲波探傷儀的一般工作原理 2．儀器主要組成部分的作用 (5) 顯示電路：顯示電路主要由示波管及外圍電路組成。 2．儀器主要組成部分的作用 A型脈沖反射式超聲波探傷儀的一般工作原理 A型脈沖反射式模擬超聲波探傷儀的工作過程可參照下圖，簡(jiǎn)要說明如下； 同步電路產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖同時(shí)加至掃描電路和發(fā)射電路，掃描電路受觸發(fā)開始工作， 產(chǎn)生鋸齒波掃描電壓，加至示波管水平偏轉(zhuǎn)板，使電子束發(fā)生水平偏轉(zhuǎn)，在熒光屏上 產(chǎn)生一條水平
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