【正文】 () 式中 xf―― 缺陷的橫波聲程； τ f―― 缺陷波前沿所對(duì)應(yīng)的刻度值； β ―― 探頭的折射角； T―― 板厚； lf―― 缺陷的水平距離； df―― 缺陷至探測(cè)面的深度。缺陷定位方法分為聲程定位法、水平定位法和深度定位法三種，參見(jiàn)圖 。但是要注意，這種方法會(huì)有探測(cè)不到的區(qū)域（常稱為死區(qū)），對(duì)于死區(qū)，可以用單斜探頭探測(cè)。一般采用兩種探頭探傷，即小 K值探頭和大K值探頭。（ JB/－ 2022中 6dB）。環(huán)繞掃查時(shí)，如果回波高度幾乎不變，則可判斷為點(diǎn)狀缺陷。 (3)轉(zhuǎn)角掃查：如圖 ，利用它可以推斷缺陷的方向。這是因?yàn)殚g距太大，會(huì)造成漏檢。掃查時(shí)探頭作 100～ 150轉(zhuǎn)動(dòng)，這是為了發(fā)現(xiàn)與焊縫傾斜的缺陷。（參閱 JB/ F） 在焊縫探傷中，掃查方式有多種，常用的掃查方式有以下幾種。這種方法也是 JB1152－ 81標(biāo)準(zhǔn)推薦的方法，適用于試板與工件材質(zhì)相同或相近，厚度相同的中厚板。因探傷時(shí)聲束兩次觸及下表面，取其 dB差的兩倍，即為下表面反射聲能損失差， 上、下表面聲能損失差之和，即為反射法探傷聲能損失差。在同樣條件下，用與上述相同的方法，將兩探頭置于平面型試板 B面上，調(diào)節(jié) [衰減器 ]，使其最大穿透波幅也為 3格高，此時(shí)工件探測(cè)面與試板的衰減 dB差，即為上表面耦合聲能損失差，見(jiàn) （ a）。 (1) 試板與工件材質(zhì)相同 :作平面試板， A面粗糙度與被檢工件相同， B面粗糙度與 CSKⅢA 試塊相同，試板材質(zhì)、厚度與工件相同，見(jiàn)圖 。不難看出，這樣測(cè)得的聲能損失包括了表面耦合損失差、底面反射損失差和材質(zhì)衰減損失差。作一發(fā)一收測(cè)試，使其最大穿透波幅為示波屏上 3格高。用同型號(hào)的兩個(gè)斜探頭沿探傷方向置于工件上（不通過(guò)焊縫）。下面介紹測(cè)定聲能傳輸損失的幾種方法。 （二次波檢測(cè)）。 在焊縫探傷中，試塊與工件上相同反射體的回波往往不同，其原因是二者聲能傳輸損失存在差異： 、曲率不同引起的表面耦合損失不同。不過(guò)這時(shí)要求儀器的動(dòng)態(tài)范圍較大，垂直線性要更好一些。＋ 14dB表示缺陷達(dá)判廢線，應(yīng)判廢。 應(yīng)用上述面板曲線時(shí)，只要記?。?6dB和＋ 14dB即可。 ＋ 8dB，則缺陷當(dāng)量為 φ1 6－ 9＋ 8＝ φ1 6－ 1dB，在 Ⅱ 區(qū)。若缺陷波高于參考線，則用［衰減器］將缺陷波調(diào)至參考線，根據(jù)衰減的 dB值求出缺陷的當(dāng)量和區(qū)域。設(shè)補(bǔ)償 5dB，則衰減器讀數(shù)為 16dB即可。 (2)面板曲線的應(yīng)用 ① .靈敏度的調(diào)節(jié)：若工件厚度在 15～ 46mm范圍內(nèi)，評(píng)定線為 φ 1 6－ 9dB，只要在 N＝ 30dB的基礎(chǔ)上再提高 9dB，即［衰減器］讀數(shù)為 21dB，這時(shí)靈敏度就調(diào)好了。 ② 2探頭對(duì)準(zhǔn) CSKⅢA 試塊上深度為 10mm的 φ 1 6橫孔找到最高回波，調(diào)至滿幅度的 100％（但不飽和），在面板上標(biāo)記波峰對(duì)應(yīng)的點(diǎn) 1，并記下此時(shí)的 dB值 N（假定 N=30dB）。 d=60mm，定量線為 35dB,判廢線為 43dB，缺陷 2＃波高為 40dB（＞ 35dB），在定量線以上和判廢線以下，即 Ⅱ 區(qū)， 2面板曲線 （設(shè)板厚 T＝ 30mm） 實(shí)際檢測(cè)中，使用距離－ dB曲線比較麻煩，而面板曲線使用方便，可根據(jù)缺陷波高直接確定缺陷當(dāng)量和區(qū)域，目前國(guó)內(nèi)外應(yīng)用很廣。 ④ .確定缺陷所處區(qū)域：例如檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)一缺陷df1=20mm，波高為 45dB，另一缺陷 df2=60mm，波高為 40dB。 d=50mm， φ 1 6橫孔波高為 41dB，所以缺陷 2當(dāng)量為 φ 1 6＋ 40－ 41＝ φ 1 6－ 1dB。 ③ .比較缺陷大?。豪纾瑱z測(cè)中發(fā)現(xiàn)兩個(gè)缺陷，缺陷1＃： df1=30mm，波高為 45dB，缺陷 2＃： df2=50mm，波高為 40dB，試比較二者的大小。實(shí)際探傷過(guò)程中還應(yīng)定期利用某一深度的孔來(lái)校驗(yàn)探傷靈敏度。由距離－波幅曲線可知掃查靈敏度為 29dB，因此將［衰減器］調(diào)到 29dB時(shí)靈敏度就調(diào)好了。 ② .調(diào)整檢測(cè)靈敏度：標(biāo)準(zhǔn)要求焊縫檢測(cè)靈敏度不低于評(píng)定線。 表 舉例數(shù)據(jù)表 孔 深 (mm) 10 20 30 40 50 60 70 80 90 φ 1 6dB 52 50 47 44 41 38 36 34 32 φ 1 6＋ 5dB （判廢線） 57 55 52 49 46 43 41 39 37 φ 1 6－ 3dB （定量線） 49 47 44 41 38 35 33 21 29 φ 1 6－ 9dB （評(píng)定線） 43 41 38 35 32 29 27 25 23 －波幅曲線，若不相符，應(yīng)重測(cè)。并將板厚 T=30mm對(duì)應(yīng)的定量線、判廢線和評(píng)定線的 dB值填入表中（實(shí)際檢測(cè)中，只要測(cè)到 60mm深的橫孔即可）。 CSKⅢA 試塊上，衰減 48dB（假定），調(diào)［增益］旋鈕使深度為 10mm 的 φ 1 6橫孔最高回波達(dá)基準(zhǔn) 60％高，記下這時(shí)［衰減器］的讀數(shù)和孔深。由于實(shí)際探傷中經(jīng)常是利用試塊實(shí)測(cè)得到的，因此這里僅以 CSKⅢA 試塊為例介紹距離－ dB曲線的繪制方法及應(yīng)用。另一種是波幅用 mm（或％）表示作為縱坐標(biāo)，距離為橫坐標(biāo)，實(shí)際探傷中將其繪在示波屏面板上，稱為面板曲線。 距離－波幅曲線有兩種形式。評(píng)定線和定量線之間（包括定量線）稱為 Ⅰ 區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）稱為 Ⅱ 區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域稱為 Ⅲ 區(qū)。它是 AVG曲線的特例。如果要求精確，應(yīng)扣除橫孔半徑對(duì)應(yīng)的深度值 距離－波幅曲線的繪制與應(yīng)用 缺陷波高與缺陷大小及距離有關(guān)，大小相同的缺陷由于距離不同，回波高度也不相同。 探頭分別對(duì)準(zhǔn) A、 B兩橫孔，如圖 。焊縫探傷中常用 CSKⅠA 、 CSKⅡA 、 CSKⅢA 、RB和半圓試塊等來(lái)調(diào)整。該法同時(shí)調(diào)好了零位。 5）用脈沖移位旋鈕將 B波調(diào)至 L2，再前移探頭，找到 A波，若 A波正對(duì) L1，這時(shí)水平 1： 1就調(diào)好了。 4）后移探頭，找到 B孔最大回波 B，量出水平距離 L2，若 B波的讀數(shù) Y和 L2不符，應(yīng)算出二者差值： X= L2Y 若 X為正值，應(yīng)將 B波向大讀數(shù)移動(dòng)，當(dāng) B、 A兩孔深度比為 2時(shí)，順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)旋鈕，將 B波調(diào)至 Y+2X。 2)把示波屏上的始脈沖先左移約 10mm。為了減小誤差，其中 A孔應(yīng)在近場(chǎng)外， B孔接近最大聲程。下面介紹利用 CSKⅢA 試塊來(lái)調(diào)節(jié)掃描速度的方法，其他試塊的調(diào)節(jié)方法見(jiàn)。 該方法能使示波屏水平刻度值直接顯示反射體的水平投影距離。 聲程法是使示波屏水平刻度值直接顯示反射體實(shí)際聲程。當(dāng)板厚大于 20mm時(shí)，常用深度法。在用 K值探頭探傷焊縫時(shí)，最常用的是后兩種。 掃描速度（時(shí)基線比例）的調(diào)節(jié) 前面第四章中介紹了三種調(diào)節(jié)掃描速度的方法，即聲程法。聲束軸線與焊縫中心線夾角小于100，如圖 （ b）。 (2)橫向缺陷：為了發(fā)現(xiàn)橫向缺陷，常采用以下三種方式探測(cè)： a:在已磨平的焊縫及熱影響區(qū)表面以一種（或兩種） K值探頭，用一次波在焊縫兩面作正反兩個(gè)方向的全面掃查，如圖 （ a）。 5）探測(cè)方向