過程能力分析與控制講座-文庫吧資料
2025-06-01 10:04本頁面
【正文】 良品率 p。 ???x —— 規(guī)格中心 Tm與分布中心 不重合時 ● 計算公式： 絕對偏移量 ： (圖中曲線 1) 偏移系數(shù) ： 工序能力指數(shù)： 或： 當(dāng) k≥１ ，即 e≥T/2時， 規(guī)定 Cpk=0 (圖中，曲線 2) ● 不合格品率估計： ① ②采用“用 Cp和 k值估計不合格品率” xxTe m ??)(21)(212LULUTTxTTTek?????STkCkC ppk 6)1()1( ????S eTST eTSTC pk 6 2626 ????)]()([1 S xTS xTp LU ???????f（ x） 有偏時工序能力指數(shù)與不合格品率 e 1 2 e μ TL TU P1 P2 Tm T 案例 3 有偏 Cpk的計算 測試一批零件外徑尺寸的平均值 =， S=，規(guī)格要求為 ，試計算工序能力指數(shù)并估計不合格品率。 由式 : 因此有： xSTBTCp 6??STCp 6?xpmLpmUpSCxTTTSCxTTTSCT32326????????? )]()([1 S xTS xTp LU ????? ΦΦ)]3()3([1 S xSCxS xSCxp pp ??????? ΦΦ)]3()3([1 pp CC ???? ΦΦ)3(2)]3()3(1[1 ppp CCC ???????? ΦΦΦP1 P2 TL TU Tm f（ x） σ μ T 解： ∵ ∴ )(2)3(26???????????ΦΦ ppmCpSTCTx0 0 6 3 9 0 3 1 9 )7 2 (2 ????? Φ案例 2 無偏 Cpk的計算 根據(jù)某工序加工零件的測試數(shù)據(jù)計算： =,S=，規(guī)格要求為 。 注： ，不可能絕對與標準正態(tài)分布圖形完全相同；應(yīng)通過不斷剔除特殊原因和減少普通原因造成的變差，使圖形趨于正態(tài)分布。 （ d） B超過 T的范圍，兩邊已出現(xiàn)廢品，應(yīng)設(shè)法縮小分布范圍。 T B （ b） T B （ c） b） B雖在 T范圍內(nèi)，平均值偏離公差中心，有超過可能，應(yīng)設(shè)法使平均值的偏離量減少。平均值與公差中心重合，是一種理想狀態(tài)。圖中 B為實際尺寸的分布范圍， T是公差的范圍。通過比較，可以掌握工序加工質(zhì)量的情況。 2 .并列表。 第二組的下邊界值就等于第一組的上邊界值 , 第二組的上邊界值就等于第二組的下邊界值加距 .(+= h/2.( 247。 h=R/K=XmaxXmin/K(h=) (一般可把初步組距值修正成測量單位的整倍數(shù) ,并取奇數(shù) . . 確定一定量數(shù)據(jù)的分布范圍 (即極差 R) R=XmaxXmin。 基本原理是依據(jù)產(chǎn)品質(zhì)量在正常情況下，呈正態(tài)分布。是通過對生產(chǎn)過程中產(chǎn)品質(zhì)量分布情況的描繪與分析，來判斷生產(chǎn)過程保證產(chǎn)品質(zhì)量的能力的一種常用方法。 ?直方圖的基本原理與作圖： 但這并不意味著加工精度和技術(shù)水平越高。 ?當(dāng)質(zhì)量特性服從正態(tài)分布，而且其分布中心 與規(guī)格中心 Tm重合時，一定的工序能力指數(shù)將與一定的不合格品率相對應(yīng)。即： T=規(guī)格上限 TU 規(guī)格下限 TL。 ?如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是否有能力滿足顧客需求的問題 ； 為了理解和提高過程的能力，在思想 和觀念上 必須 認識到 ：能力反映普通原因引起的變差，并且 多數(shù)情況， 總是要對系統(tǒng) 采取
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