【正文】 七、控制圖 88 七、控制圖 89 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 七、控制圖 87 控制圖的判讀 控制圖發(fā)出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： ： 發(fā)生了計算或描點(diǎn)錯誤； 過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來自兩個或多個具有不同均值的數(shù)據(jù) 。 七、控制圖 86 控制圖的判讀 控制圖發(fā)出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： ： 發(fā)生了計算或描點(diǎn)錯誤； 取樣分層造成子組包含二個或多個不同均值的數(shù)據(jù) 。 。 。 ： 除控制限或描點(diǎn)錯誤 、 測量系統(tǒng)改變的可能外 ， 可能是過程得到改進(jìn) ， 應(yīng)研究這種改進(jìn)并長期保持 。 通常 ， 當(dāng)過程受控時 ， 將有三分之二的點(diǎn)落在均值附近三分之一的區(qū)域內(nèi) ， 有三分之一的點(diǎn)落在均值外三分之二的區(qū)域內(nèi) ， 有大約 1/20的點(diǎn)落在控制線附近 。 83 控制圖的判讀 因?yàn)槭遣涣悸士刂茍D ， 所以對過程輸出來說 ， 描點(diǎn)越低越好 、越接近于零越好；鏈越下降越好；均值下的鏈越長越好；均值下的點(diǎn)越多越好 。 我們在描點(diǎn)時 ， 需計算每一子組的上下控制線 ， 只須將該子組的 P與該子組的上下線比較即可 。 七、控制圖 77 P控制圖中有關(guān)數(shù)據(jù)的計算： 每個批次不良率 P的計算 : P=每組不良數(shù) /檢驗(yàn)數(shù) 平均不良的計算 : P =∑Pi/k k為組數(shù) 上下控制線的計算方法 ， 按不同的子組容量 n可有下列兩種情況： 七、控制圖 78 控制線的計算 : 中心線 : CL = P =Pbar 在子組容量相同或相差不大 (20%以內(nèi) )時 : UCL = P + 3√Pbar*( 1Pbar)/n LCL = P 3√Pbar*( 1Pbar)/n n為任一子組的容量 ,這時上下控制線為直線或近似為直線 。 k：一般應(yīng)是收集數(shù)據(jù)的時間要足夠長 ， 使得能找到所有可能的影響過程的變差源 。 時間的長短可能與子組容量有矛盾 。 75 B、 PChart控制圖：不良率控制圖 利用控制圖的原理 ,對制程中的不良率進(jìn)行控制 ,是 SPC中計數(shù)值最常用的分析圖形之一 . 用途 : 對突發(fā)事件 (特殊原因 )的影響程度及時了解 . 預(yù)測下一階段的不良率 . 七、控制圖 76 數(shù)據(jù)收集的要求： n：一般要求較大的子組容量 ， 例如 50到 200或者更多 ，即每個子組內(nèi)應(yīng)包括幾個不合格品 ， 如 5個 。因此，一個受控過程并不是圖上無任何失控之處的過程，如果一張控制圖從無失控點(diǎn)，我們應(yīng)嚴(yán)肅查問該操作本身是否“受控”。 七、控制圖 UCL CL LCL 73 控制圖的判讀 二 、 非受狀態(tài)下的控制圖 說明： 過程輸出材料循環(huán)變化 其他的過程中有規(guī)律的變化 ,如人員輪換，環(huán)境溫度的循環(huán)變化。 ） 。 說明過程的中心線值已改變； 或者 ， 測量系統(tǒng)已改變 ， 如儀器靈敏度的變化 。 。 或者應(yīng)檢驗(yàn)這點(diǎn)是否屬描點(diǎn)錯誤 。 七、控制圖 受控的圖型 A B C C B A UCL LCL CL 69 控制圖的判讀 二 、 非受狀態(tài)下的控制圖 。 ， 大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落于控制限的中間 1/3區(qū)域內(nèi) ， 大約 1/3的點(diǎn)落在的其外的 2/3的區(qū)域 。 — 連續(xù) 7點(diǎn)或以上向上行或向下行 。 這時 XbarR圖的優(yōu)點(diǎn)所在 。 （ 準(zhǔn)確度的變化 ） 一個是各組數(shù)的組距控制圖 ： R圖 ， 即控制各組質(zhì)量特性分布變異的變化 ， 即離散度的變化 。 七、控制圖 61 七、控制圖 計數(shù)型數(shù)據(jù)：不良品個數(shù) 、 缺點(diǎn)數(shù)等間斷性的數(shù)據(jù) 。 59 例如 ， UCL與 LCL控制線就是根據(jù)過程過去的結(jié)果所判明的制程能力制作的 ， 它延伸到以后 ， 我們只需將目前的品質(zhì)特性按時間順序描上控制圖中 ， 就知道目前的過程有無變異 ， 另外從線條的趨勢可以判定以后近時段的品質(zhì)達(dá)成狀況 。 58 七、控制圖 對過程的控制是通過控制圖來完成的，控制圖的制作，是SPC非常重要的環(huán)節(jié)。 當(dāng)出現(xiàn)特殊原因時，提供統(tǒng)計信號，以便采取措施；未出現(xiàn)特殊原因時，避免提供錯誤信號。 避免平衡不需控制時采取了措施，造成過度控制或擅自改變。 所以，我們講的過程控制是針對統(tǒng)計過程。對其進(jìn)行的控制叫統(tǒng)計過程控制（ SPC）。 有些特殊原因造成的過程變差對輸出有好處，可對其進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，或不予理采。 55 七、控制圖 針對普通原因，我們一般在不造成質(zhì)量過剩的條件下會對系統(tǒng)采取措施，并且往往由管理者參與，用管理的手段進(jìn)行糾正，可解決 85%的過程問題。一個管理好的企業(yè)，此類問題一般占 15%，若占 40%以上時，說明系統(tǒng)出現(xiàn)了嚴(yán)重的問題。通俗地講，就是誰也不知道會在什么時候、發(fā)生什么問題。 54 七、控制圖 特殊原因： 不是始終作用于過程的原因。通俗的講，就是在目前制程的各個環(huán)境下，品質(zhì)變異是必然，并不是單個品管部門或制造部門能解決的，需要品管、工程、采購、業(yè)務(wù)、甚至行政部門共同參與解決。 造成過程變差的原因可分為兩種，一種是普通原因（系統(tǒng)原因、偶然因素），一種是特殊原因（局部問題、可查明原因）。 也就是天下沒有人能造出兩件完全相同的東西 ,樹上長不出兩片完全相同的葉子 . 為了使問題簡單化，我們總是從最低要求來規(guī)定一個公差范圍，只要范圍內(nèi)的，就認(rèn)為是合格，范圍外的，就是不合格。 52 七、控制圖 對過程的輸出（如車床車出的螺絲），每個輸出都是不一樣的。 SPC（統(tǒng)計過程控制）就是幫助我們對過程進(jìn)行監(jiān)控，對實(shí)際出現(xiàn)的異常情況發(fā)出信號，對后續(xù)階段的品質(zhì)進(jìn)行預(yù)測，以保持過程的穩(wěn)定性，并使輸出的變差在可接受的范圍之內(nèi)。 51 七、控制圖 為了使過程的輸出滿足顧客的要求，我們要對輸出進(jìn)行檢驗(yàn)，對發(fā)現(xiàn)的不合格品進(jìn)行報廢或返工，但這種做法是不經(jīng)濟(jì)的。 ?過程能力 是指過程產(chǎn)生我們預(yù)期輸出的能力。 50 七、控制圖 ?過程 的結(jié)果就是產(chǎn)品。 ： 即最小值到最大值的距離，距離越小越好。 六、直方圖 具體型態(tài)的問題具體分析，是直方圖在判讀時應(yīng)特別注意的問題，否則可能得到錯誤的結(jié)果。 ，數(shù)據(jù)太少，分組太多。 與上相反 或者，以上過程均被全檢過，偏小的或偏大的數(shù)據(jù)已被剔除 六、直方圖 46 雙峰型（二山型）： ； ，過程已被做了大的調(diào)整，如電流強(qiáng)度由小調(diào)大，電鍍時間由短變長。 六、直方圖 43 規(guī)格上線 規(guī)格下線 規(guī)格線 六、直方圖 準(zhǔn)確度高 精密度高 合格率高 分布寬度在規(guī)格線內(nèi)，過程能力強(qiáng) 準(zhǔn)確度高 精密度低 合格率較上圖低 分布寬度有部分在規(guī)格線外，過程能力較上圖弱 分布形態(tài)好 44 偏右型：鍍層偏厚，說明電流強(qiáng)度過大或電鍍時間過長等。 對該過程的綜合過程能力，既要準(zhǔn)確度高，又要精密度高，所以要將兩者同時納入過程能力的描述，才可能是對過程能力的全面描述。 40 六、直方圖 177 CL=165 SL=164 USL=167 LSL=163 SL尺寸中值 USL為尺寸上差 LSL為尺寸下差 41 基本