其它顯微分析方法(參考版)

【摘要】第四部分其它顯微分析方法主要內(nèi)容?俄歇電子能譜儀（AES）?場離子顯微鏡（FIM）?掃描隧道顯微鏡（STM）?X射線光電子能譜分析（XPS）1俄歇電子能譜儀（AES）?能級躍遷，使空位層的外層電子發(fā)射出去?俄歇電子能量具有特征值?近表面性質(zhì)?能量很低基本特點(diǎn)俄歇

2024-08-05 00:32

其它顯微分析方法ppt課件(參考版)

【摘要】1第十四章其它顯微分析方法簡介?本章簡要介紹幾種表面分析儀器和技術(shù):（1）離子探針分析儀(IMA)或二次離子質(zhì)譜儀(SIMS)；（2）低能電子衍射(LEED)；（3）俄歇電子能譜儀(AES)；（4）場離子顯微鏡(FIM)和原子探針(AtomProbe)；（5）X射線光電子能譜儀(XPS)；

2025-05-09 06:37

其他的顯微分析方法(參考版)

【摘要】其他的顯微分析方法材料測試分析技術(shù)離子探針顯微分析IMMA?離子探針顯微分析（IMMA，IonMicroprobeMassAnalysis）是一種利用質(zhì)譜儀對從固體樣品表面激發(fā)的二次離子進(jìn)行元素分析的裝置。離子探針顯微分析?離子探針顯微分析是利用離子源產(chǎn)生的一次離子加速形成能量為1～10KeV的離子束，然后

2025-05-16 07:36

其他顯微分析方法ppt課件(參考版)

【摘要】第十四章其他顯微分析方法【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】【教學(xué)難點(diǎn)】一.離子探針顯微分析

2025-05-09 06:31

[工學(xué)]電子顯微分析(參考版)

【摘要】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個主要附件，可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析對材料進(jìn)行微觀分析，要看其形態(tài)如何，晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的，等等，可以用光學(xué)顯微鏡、SEM、TEM等來觀察；要研究其微區(qū)成分，可用SEM+EDS，用EPMA，用

2024-12-10 23:44

電子顯微分析ppt課件(參考版)

【摘要】?材料的固有性質(zhì)、材料的結(jié)構(gòu)與成分、材料的使用性能和材料的合成與加工構(gòu)成材料研究的四大要素。?任何一種材料的宏觀性能或行為，都是由其微觀組織結(jié)構(gòu)所決定的。第二章電子顯微分析緒論?現(xiàn)代材料科學(xué)的發(fā)展在很大程度上依賴于對材料性能和成分結(jié)構(gòu)及微觀組織關(guān)系的理解；對材料在微觀層次上的表征技術(shù)，構(gòu)成了材料科學(xué)的一個重要組成部分

2025-03-25 05:59

其他顯微分析技術(shù)ppt課件(參考版)

【摘要】第7章其他顯微分析技術(shù)離子探針分析儀（IMA）（二次離子質(zhì)譜儀（SIMS））俄歇電子能譜儀(AES)X射線光電子譜儀（XPS）掃描隧道顯微鏡（STM）原子力顯微鏡（AFM）場離子顯微鏡（FIM）原子探針（AP）離子探針顯微分析?離子探針儀是利用電子光學(xué)方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細(xì)

2025-01-20 16:21

電子顯微分析ppt課件(參考版)

【摘要】第七章電子顯微分析樣品入射電子Auger電子陰極發(fā)光背散射電子二次電子X射線透射電子1.透射電鏡的構(gòu)造2.透射電鏡的主要性能指標(biāo)3.透射電鏡的襯度形成原理4.透射電鏡研究用高分子樣品制備方法3.透射電鏡在高分子研究中的應(yīng)用Part1透

2025-05-15 12:34

[工學(xué)]電子顯微分析(1)(參考版)

【摘要】電子衍射分析金蒸發(fā)膜的多晶衍射花樣Ni基高溫合金中M23C6碳化物的單晶衍射花樣Bragg定律：2dsin?=?電子衍射的衍射角很小，??1?電子衍射的相機(jī)常數(shù)R=Ltg2?,由于??1?，tg2??2sin?，由Bragg定律，可得：Rd=

2025-01-22 11:34

顯微分析技術(shù)電子顯微鏡(參考版)

【摘要】在18900倍下對PVC糊樹脂近行觀測應(yīng)用實例在26000倍下觀測碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大，圖像富有立體感，特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣，從十幾倍到2萬倍，幾乎覆蓋

2025-05-15 18:43

掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用(參考版)

【摘要】附：掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用掃描電子顯微圖象分析（SEM,黃銅管金相樣品二次電子象）微區(qū)成分能譜分析（EDS-銅基體）微區(qū)成分能譜分析（EDS-銅合金管表面的點(diǎn)腐蝕）AlKPk●EDS,Al-Si合金中的Alk的線分布和面分布掃描電鏡成象原理和方法滴狀作用體積

2025-01-04 05:38

電子探針顯微分析(2)(參考版)

【摘要】第五章電子探針顯微分析2電子探針顯微分析電子探針（ElectronProbeMicroanalysis-EPMA）的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種高效率分析儀器。其原理是：用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征X射線，分析特征X射線的波長（或能量）可知元素種類；分析特征

2025-05-03 01:47

光學(xué)顯微分析資料(參考版)

【摘要】光學(xué)顯微分析雙目立體顯微鏡:將被觀察的物體放大，形成正立的有立體感的像，工作距離長，較大的視場。常用于檢驗、裝配和修理細(xì)小的精密零件以及電子線路的焊接等工作．1、各種各樣的顯微鏡金相顯微鏡：用以觀察金屬磨片等非透明物體試樣不透明，照明光

2025-01-23 02:38

電子顯微分析ppt課件(2)(參考版)

【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1：SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2：掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率，是由特定樣品在特定工作狀

2025-01-18 04:31

電子探針顯微分析ppt課件(參考版)

【摘要】第十三章電子探針顯微分析【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】電子探針儀的分析方法與應(yīng)用【教學(xué)難點(diǎn)】定量分析的基本原理?電子探針X射線顯微分析（簡稱電子探針顯微分析）（ElectronProbeMicro

2025-05-04 18:10

其它顯微分析方法(編輯修改稿)

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其它顯微分析方法(參考版)