電子探針顯微分析儀-資料下載頁

【總結(jié)】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應(yīng)用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關(guān)系，然而，就當初研制的目的來說卻是完全不同的。第一臺商品EMA出現(xiàn)在50年代后期，比掃描電鏡子5年。Raymond

2025-05-12 18:58

篇電子顯微分析ppt課件(2)-資料下載頁

【總結(jié)】Dept.ofMSE,CQU1第十章掃描電子顯微分析材料現(xiàn)代測試方法掃描電子顯微分析Dept.ofMSE,CQU2本章主要內(nèi)容概述掃描電鏡的特點和工作原理掃描電鏡的主要性能

2025-01-15 06:53

透射電子顯微分析ppt課件-資料下載頁

【總結(jié)】1第九章透射電子顯微分析第一節(jié)透射電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造第二節(jié)樣品制備第三節(jié)透射電鏡基本成像操作及像襯度第四節(jié)TEM的典型應(yīng)用及其它功能簡介2顯微鏡的發(fā)展17世紀中期制做的復(fù)式顯微鏡19世紀中期的顯微鏡20世紀初期的顯微鏡帶自動照相機的光學顯微鏡裝有場發(fā)射

2025-01-04 21:08

節(jié)透射電子顯微分析-資料下載頁

【總結(jié)】第三節(jié)透射電子顯微分析一、透射電子顯微鏡透射電鏡主要由光學成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)三部分組成。（1）光學成像系統(tǒng)?照明部分是產(chǎn)生具有一定能量、足夠亮度和適當小孔徑角的穩(wěn)定電子束的裝置，包括：電子槍聚光鏡（2）成像放大系統(tǒng)–物鏡–中間鏡–投影鏡（3）

2025-04-28 00:21

掃描電子顯微分析-資料下載頁

【總結(jié)】掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析1．掃描電子顯微鏡的工作原理及特點掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束

2025-01-02 05:37

材料分析方法第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析-資料下載頁

【總結(jié)】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析?內(nèi)容提要：?第一節(jié)電子束與固體樣品相互作用時產(chǎn)生的物理信號?第二節(jié)掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理?第三節(jié)表面形貌襯度原理及其應(yīng)用?第四節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用?第五節(jié)電子探針X射線顯微分析引言?SEM

2025-04-11 22:11

電子顯微分析與電子探針-資料下載頁

【總結(jié)】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構(gòu)造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、信號檢測放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和

2025-05-03 08:20

超高倍顯微分析檢測結(jié)果分析及圖庫病例分析-資料下載頁

【總結(jié)】-主講嘉賓：李銘軒（liky）-超高倍顯微分析評估系統(tǒng)檢測結(jié)果分析及圖庫病例分析主講人：李銘軒（liky）-主講嘉賓：李銘軒（liky）-?布氏亞健康血象分析儀及其診斷技術(shù)是美國科學家Dr．Branford（布拉福德）經(jīng)過長期研究、總結(jié)和發(fā)明的最新的血液學分析診斷和研究系統(tǒng)。運用現(xiàn)代光學、微電子學和

2025-05-26 18:32

材料顯微分析選修課的原子力顯微鏡ppt(2)-資料下載頁

【總結(jié)】1原子力顯微鏡2?1982年，IBM實驗室發(fā)明了掃描隧道顯微鏡(STM)。此二人因此榮獲1986年之諾貝爾獎。?1986年，利用當時的STM技術(shù)，與StanfordUniversity合作者開發(fā)出能探測探針與式樣間范德華力的原子力顯微鏡(AFM)。原子力顯微鏡的工作原理3原子力顯微

2025-02-21 10:19

電子顯微分析與電子探針(1)-資料下載頁

【總結(jié)】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構(gòu)造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、信號檢測放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和

2025-05-03 08:20

電子探針x射線顯微分析授課版-資料下載頁

【總結(jié)】電子探針X射線顯微分析一、引言?電子探針X射線顯微分析（簡稱電子探針顯微分析）（ElectronProbeMicroanalysis，簡稱EPMA），它用一束聚焦得很細（50nm～１μｍ）的加速到5kV-30kV的電子束，轟擊用光學顯微鏡選定的待分析試樣上某個“點”（一般直徑為1-50um），利用試樣受到轟擊時發(fā)射的X射線的波

2025-04-30 01:47

【材料課件】二電子顯微分析-資料下載頁

【總結(jié)】第二章電子顯微分析ElectronMicro-Analysisv研究對象?微結(jié)構(gòu)與顯微成分?微結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系?微結(jié)構(gòu)形成的條件與過程機理v材料的性能由微結(jié)構(gòu)所決定，人們可通過控制材料的微結(jié)構(gòu)，使其形成預(yù)定的結(jié)構(gòu)，從而具有所希望的性能。vv電子顯微分析是利用聚焦電子束與式樣物質(zhì)相互作用產(chǎn)生各種物理信號，分

2025-02-15 14:32

關(guān)于電子探針x射線顯微分析-資料下載頁

【總結(jié)】電子探針x射線顯微分析ElectronProbeMicroanalysis4.電子探針x射線顯微分析n電子探針儀（EPMA）是一種微區(qū)成分分析儀器。n采用被聚焦成小于1的高速電子束轟擊樣品表面，利用電子束與樣品相互作用激發(fā)出的特征x射線，測量其λ和Ι，確定微區(qū)的定性、定量的化學成分。nSEM-EPMA組合型儀

2025-01-01 02:34

材料分析測試技術(shù)chapter8掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析-資料下載頁

【總結(jié)】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）是繼透射電鏡（TEM）之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同，它是以電子束作為照明源，把聚焦得很細的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上，產(chǎn)生各種與試

2025-01-16 16:16

電子顯微鏡第六章x射線顯微分析和俄歇能譜分析-資料下載頁

【總結(jié)】第六章電子探針顯微分析和俄歇電子能譜分析?電子探針顯微分析儀和俄歇能譜儀，可以對固體直接進行微區(qū)微量成分分析，因而廣泛地應(yīng)用于科學的各個領(lǐng)域。第一節(jié)電子探針顯微分析↓↓↓入射電子束二次電子背散射電子可見光透射電子特征X射

2025-01-20 09:04

其它顯微分析方法(編輯修改稿)

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其它顯微分析方法(已改無錯字)

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其它顯微分析方法(參考版)