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掃描電子顯微分析-wenkub.com

2024-12-31 05:37 本頁面
   

【正文】 ( 3)對同一種鍍膜材料,離子濺射鍍膜質量較好,能形成顆粒更細、更致密、更均勻、附著力更強的膜。鍍膜 鍍膜的方法有兩種,一是真空鍍膜,另一種是離子濺射鍍膜。以避免電荷積累,影響圖象質量。 對磁性試樣要預先去磁,以免觀察時電子束受到磁場的影響。 掃描電子顯微分析 掃描電鏡圖象及其襯度 掃描電子顯微分析 掃描電鏡試樣制備 1.對試樣的要求 試樣可以是塊狀或粉末顆粒,在真空中能保持穩(wěn)定,含有水分的試樣應先烘干除去水分。 掃描電子顯微分析 掃描電鏡圖象及其襯度 4. 吸收電子像 當電子束照射在試樣上時,如果不存在試樣表面的電荷積累,則進入試樣的電流應等于離開試樣的電流。 掃描電子顯微分析 掃描電鏡圖象及其襯度 掃描電子顯微分析 掃描電鏡圖象及其襯度 由于二次電子能量小,用閃爍體探測器探測時,只要在收集極上加 250V正電壓,即可把二次電子吸引過來,見圖 2- 78b, 所以二次電子像沒有明顯的陰影效應。 ( 3) 二次電子發(fā)射系數(shù)和試樣表面傾角有如下關系: δ(θ)=δ 0/cosθ ( 4) 二次電子在試樣上方的角分布也服從余弦分布,但與背散射電子不同的是二次電子在試樣傾斜時仍為余弦分布,見圖 283。如圖 280所示。 掃描電子顯微分析 掃描電鏡圖象及其襯度 背散射電子能量大,運動方向基本上不受弱電場的影響,沿直線前進。?背散射電子在試樣上方有一定的角分布。背散射電子像 背散射電子 是由樣品反射出來的初次電子,其主要特點是:?能量很高,有相當部分接近入射電子能量 E0, 在試樣中產生的范圍大,像的分辨率低。利用對試樣表面原子序數(shù)(或化學成分)變化敏感的物理信號作為顯像管的調制信號,可以得到原子序數(shù)襯度圖像。?形貌襯度 是由于試樣表面形貌差異而形成的襯度。 ( 7)可使用加熱、冷卻和拉伸等樣品臺進行動態(tài)試驗,觀察在不同環(huán)境條件下的相變及形態(tài)變化等。如通過 γ 調制可改善圖像反差的寬容度,使圖像各部分亮暗適中。 ( 2)場深大、三百倍于光學顯微鏡,適用于粗糙表面和斷口的分析觀察;圖像富有立體感、真實感、易于識別和解釋。由電子槍發(fā)射的能量為 5~ 35keV的電子,以其交叉斑作為電子源,經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一
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