【總結】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉系統(tǒng)、信號檢測放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和
2025-05-03 08:20
【總結】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析?內容提要:?第一節(jié)電子束與固體樣品相互作用時產生的物理信號?第二節(jié)掃描電子顯微鏡的結構和工作原理?第三節(jié)表面形貌襯度原理及其應用?第四節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應用?第五節(jié)電子探針X射線顯微分析引言?SEM
2025-04-11 22:11
【總結】Dept.ofMSE,CQU1第十章掃描電子顯微分析材料現(xiàn)代測試方法掃描電子顯微分析Dept.ofMSE,CQU2本章主要內容概述掃描電鏡的特點和工作原理掃描電鏡的主要性能
2025-01-15 06:53
【總結】1第九章透射電子顯微分析第一節(jié)透射電子顯微鏡工作原理及構造第二節(jié)樣品制備第三節(jié)透射電鏡基本成像操作及像襯度第四節(jié)TEM的典型應用及其它功能簡介2顯微鏡的發(fā)展17世紀中期制做的復式顯微鏡19世紀中期的顯微鏡20世紀初期的顯微鏡帶自動照相機的光學顯微鏡裝有場發(fā)射
2025-01-04 21:08
【總結】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調制成像的顯微分析技術。?SEM在60’s商品化,應用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子分辨率已達1n
2025-01-02 05:38
【總結】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學成分、晶體結構或位向等的差異,在電子束作用下產生不同強度的物理信號,使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產額強烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
2024-12-08 11:08
【總結】掃描電子顯微鏡?引言?掃描電鏡結構原理?掃描電鏡圖象及襯度?掃描電鏡結果分析示例?掃描電鏡的主要特點返回首頁掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。SEM與電子探針(EPMA)
2025-08-04 16:50
【總結】2009-07招標設備清單序號設備名稱數(shù)量技術參數(shù)備注1掃描電子顯微鏡1見附件進口2透射電子顯微鏡1見附件進口3冷凍超薄切片機1見附件進口附件:1、掃描電子顯微鏡(進口)場發(fā)射掃描電子顯微鏡主要用于材料表面的微觀形貌的高分辨觀察,可配備X射線能譜儀等附件,可同時進行微區(qū)的成分分析,應具有配備X射線
2025-06-24 03:46
【總結】第六章掃描電子顯微書LettuceField(16MDRAM)TheoryofScanningElectronMicroscopeHitachiHigh-TechnologiesCorporationNanoTechnologiesSalesDept.1.ResolutionImprovement30kV1kVn
2025-05-12 02:39
【總結】第十二章掃描電子顯微鏡?電子束與固體樣品相互作用?掃描電鏡結構原理?主要性能指標?二次電子圖象襯度原理及其應用?背散射電子圖象襯度原理及其應用?其它信號圖象?掃描電鏡操作?樣品制備3/1/20231?主要優(yōu)點:放大倍數(shù)大、制樣方便、分辨率高、景深大等?目前廣泛應用于材料、
2025-02-13 18:56
【總結】第五章掃描電子顯微術(SEM)SEM的特點?樣品制備較簡單,甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大,如直徑可達10cm以上。?能在很大的放大倍數(shù)范圍工作,從幾倍到幾十萬倍,相當于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個樣品,然后迅速轉換到觀察某些選擇的結構的細節(jié),這給觀察帶來很大的方便
2025-01-08 03:51
【總結】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來
2025-04-29 06:54
【總結】電子顯微與掃描探針相關技術楊合情陜西師范大學材料科學與工程學院陳敬中主編現(xiàn)代晶體化學:理論與方法高等教育出版社2021-5-1黃惠忠等
2024-10-16 21:19
【總結】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調制成像的顯微分析技術。?SEM在60’s商品化,應用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的
2024-12-31 21:01
【總結】1設備名稱:掃描電子顯微鏡系統(tǒng)2數(shù)量:壹套3報價幣種:人民幣;報價方式:到港價。4交貨日期:合同簽字生效后6個月內。5設備用途及基本要求:該套設備用于對各種固態(tài)材料進行微觀形貌觀察,斷口分析,并對樣品表面微區(qū)進行成份測定。該套設備所含的必要輔助設備為X射線能譜儀、動態(tài)拉伸臺、超高樣品臺,它們之間應實現(xiàn)最佳匹配,并滿足各自的技術指標和性能,
2025-06-20 02:32