其他顯微分析技術(shù)ppt課件(參考版)
2025-01-20 16:21本頁面
【正文】 ? 化學(xué)位移： ? 伴峰與譜峰分裂 光電子譜儀 。 1) 對孤立原子，光電子動(dòng)能 Ek Ek = h? Eb h?入射光子能量； Eb 電子的結(jié)合能 + h? Ek Eb 2) 固體樣品發(fā)射的光電子動(dòng)能 Ek Ek/ = h? Eb ?s ?s 表面逸出功（功函數(shù)） 3) 實(shí)際儀器中，因分析器與樣品相連，進(jìn)入分析器的光電子動(dòng)能 Ek Ek/ = h? Eb ?A ?A 譜儀功函數(shù) 光電子能譜圖及特征 光電子產(chǎn)額（強(qiáng)度） 光電子動(dòng)能或電子結(jié)合能的分布圖。 因此，就可以求出針尖 B的頂端原子感受到樣品表面力隨距離變化的曲線。有兩個(gè)針尖與兩套壓電晶體控制機(jī)構(gòu)。 若能測量針尖與樣品表面之間的原子間力，即可知道它們之間距離的關(guān)系，從而測定樣品的表面形貌。 1. 原 理 AFM的原理是類似于指針輪廓儀，但采用 STM技術(shù)。 1986年， Gerd Binnig提出 AFM的概念。 STM的主要技術(shù)問題： 針尖相對于樣品運(yùn)動(dòng)（升降、平移）的精密控制 —壓電陶瓷控制，即在壓電陶瓷上施加一電壓，使壓電陶瓷部件變形，并驅(qū)動(dòng)針尖運(yùn)動(dòng)。 恒電流模式是目前 STM設(shè)計(jì)中常用的工作模式。 2) 恒高度模式 針尖在樣品表面某一水平面掃描，隨著樣品表面高低起伏，隧道電流不斷變化。 ? 而在一定條件下，樣品的表面態(tài)密度與樣品表面的高低起伏程度有關(guān)。 STM的工作模式 根據(jù)掃描過程中針尖與樣品間相對運(yùn)動(dòng)的不同， STM的工作模式可分為： 恒電流模式和恒高度模式。 隧道電流 I與針尖和樣品之間距離 d以及平均功函數(shù) ?之間的關(guān)系為 )e x p ( 21 dAVI b ???式中， Vb針尖與樣品之間所加的偏壓； ?針尖與樣品的平均功函數(shù)； A常數(shù)，在真空條件， A = 1。 A具有原子尺度的針尖； B被分析樣品； STM工作時(shí)，在樣品和針尖間加一定電壓，當(dāng)樣品與針尖間的距離小于一定值時(shí)，由于 量子隧道效應(yīng) ，樣品與針尖間產(chǎn)生 隧道電流 。 2. STM的工作原理 STM的工作原理如圖所示。橫向分辨率達(dá) ，縱向分辨率高達(dá) 。 可在大氣、真空、液體環(huán)境下，在實(shí)空間內(nèi)進(jìn)行原位動(dòng)態(tài)樣品表面的原子組態(tài)，也可直接觀察樣品表面發(fā)生的物理或化學(xué)反應(yīng)的動(dòng)態(tài)過程或及反應(yīng)中原子的遷移過程。 ? 雙重峰極小值處的能量代表 Auger電
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