【摘要】1第十四章其它顯微分析方法簡(jiǎn)介?本章簡(jiǎn)要介紹幾種表面分析儀器和技術(shù):(1)離子探針?lè)治鰞x(IMA)或二次離子質(zhì)譜儀(SIMS);(2)低能電子衍射(LEED);(3)俄歇電子能譜儀(AES);(4)場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)和原子探針(AtomProbe);(5)X射線(xiàn)光電子能譜儀(XPS);
2025-05-09 06:37
【摘要】第四部分其它顯微分析方法主要內(nèi)容?俄歇電子能譜儀(AES)?場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)?掃描隧道顯微鏡(STM)?X射線(xiàn)光電子能譜分析(XPS)1俄歇電子能譜儀(AES)?能級(jí)躍遷,使空位層的外層電子發(fā)射出去?俄歇電子能量具有特征值?近表面性質(zhì)?能量很低基本特點(diǎn)俄歇
2024-08-05 00:32
【摘要】第十四章其他顯微分析方法【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】【教學(xué)難點(diǎn)】一.離子探針顯微分析
2025-05-09 06:31
【摘要】其他的顯微分析方法材料測(cè)試分析技術(shù)離子探針顯微分析IMMA?離子探針顯微分析(IMMA,IonMicroprobeMassAnalysis)是一種利用質(zhì)譜儀對(duì)從固體樣品表面激發(fā)的二次離子進(jìn)行元素分析的裝置。離子探針顯微分析?離子探針顯微分析是利用離子源產(chǎn)生的一次離子加速形成能量為1~10KeV的離子束,然后
2025-05-16 07:36
【摘要】?材料的固有性質(zhì)、材料的結(jié)構(gòu)與成分、材料的使用性能和材料的合成與加工構(gòu)成材料研究的四大要素。?任何一種材料的宏觀性能或行為,都是由其微觀組織結(jié)構(gòu)所決定的。第二章電子顯微分析緒論?現(xiàn)代材料科學(xué)的發(fā)展在很大程度上依賴(lài)于對(duì)材料性能和成分結(jié)構(gòu)及微觀組織關(guān)系的理解;對(duì)材料在微觀層次上的表征技術(shù),構(gòu)成了材料科學(xué)的一個(gè)重要組成部分
2025-03-25 05:59
【摘要】第7章其他顯微分析技術(shù)離子探針?lè)治鰞x(IMA)(二次離子質(zhì)譜儀(SIMS))俄歇電子能譜儀(AES)X射線(xiàn)光電子譜儀(XPS)掃描隧道顯微鏡(STM)原子力顯微鏡(AFM)場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)原子探針(AP)離子探針顯微分析?離子探針儀是利用電子光學(xué)方法把惰性氣體等初級(jí)離子加速并聚焦成細(xì)
2025-01-20 16:21
【摘要】第七章電子顯微分析樣品入射電子Auger電子陰極發(fā)光背散射電子二次電子X(jué)射線(xiàn)透射電子1.透射電鏡的構(gòu)造2.透射電鏡的主要性能指標(biāo)3.透射電鏡的襯度形成原理4.透射電鏡研究用高分子樣品制備方法3.透射電鏡在高分子研究中的應(yīng)用Part1透
2025-05-15 12:34
【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-01-18 04:31
【摘要】第十三章電子探針顯微分析【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】電子探針儀的分析方法與應(yīng)用【教學(xué)難點(diǎn)】定量分析的基本原理?電子探針X射線(xiàn)顯微分析(簡(jiǎn)稱(chēng)電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicro
2025-05-04 18:10
【摘要】?電子顯微鏡中的電子光學(xué)問(wèn)題?透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射?金屬薄膜成像?復(fù)型?掃描電子顯微分析第二篇電子顯微分析術(shù)電子顯微鏡中的電子光學(xué)問(wèn)題光學(xué)顯微鏡的局限性電子性質(zhì)電子透鏡的像差成像透鏡及性質(zhì)?分辨本領(lǐng):?指光學(xué)儀器所能區(qū)分的兩
2025-01-18 07:00
【摘要】電子顯微分析與應(yīng)用?1.透射電子顯微分析?2.掃描電子顯微分析?3.微區(qū)元素分析?4.微區(qū)物相分析?5.應(yīng)用舉例答疑地點(diǎn):分析測(cè)試中心(校醫(yī)院斜對(duì)面)205答疑人:王超電話(huà):13775988566電子顯微分析與應(yīng)用電子顯微分析的概念利用經(jīng)過(guò)聚焦的高能電子照射樣
2025-05-04 18:11
【摘要】Dept.ofMSE,CQU1第十章掃描電子顯微分析材料現(xiàn)代測(cè)試方法掃描電子顯微分析Dept.ofMSE,CQU2本章主要內(nèi)容概述掃描電鏡的特點(diǎn)和工作原理掃描電鏡的主要性能
2025-01-18 06:53
【摘要】1第九章透射電子顯微分析第一節(jié)透射電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造第二節(jié)樣品制備第三節(jié)透射電鏡基本成像操作及像襯度第四節(jié)TEM的典型應(yīng)用及其它功能簡(jiǎn)介2顯微鏡的發(fā)展17世紀(jì)中期制做的復(fù)式顯微鏡19世紀(jì)中期的顯微鏡20世紀(jì)初期的顯微鏡帶自動(dòng)照相機(jī)的光學(xué)顯微鏡裝有場(chǎng)發(fā)射
2025-01-07 21:08
【摘要】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個(gè)主要附件,可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析對(duì)材料進(jìn)行微觀分析,要看其形態(tài)如何,晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的,等等,可以用光學(xué)顯微鏡、SEM、TEM等來(lái)觀察;要研究其微區(qū)成分,可用SEM+EDS,用EPMA,用
2024-12-10 23:44
【摘要】電子衍射分析金蒸發(fā)膜的多晶衍射花樣Ni基高溫合金中M23C6碳化物的單晶衍射花樣Bragg定律:2dsin?=?電子衍射的衍射角很小,??1?電子衍射的相機(jī)常數(shù)R=Ltg2?,由于??1?,tg2??2sin?,由Bragg定律,可得:Rd=
2025-01-22 11:34