【摘要】集成電路原理與設(shè)計(jì)重點(diǎn)內(nèi)容總結(jié)第一章緒論摩爾定律:(P4)集成度大約是每18個(gè)月翻一番或者集成度每三年4倍的增長規(guī)律就是世界上公認(rèn)的摩爾定律。集成度提高原因:一是特征尺寸不斷縮小,大約每三年縮小倍;二是芯片面積不斷增大,;三是器件和電路結(jié)構(gòu)的不斷改進(jìn)。等比例縮小定
2025-06-28 19:07
【摘要】集成電路工藝原理第四章光刻原理(上)1/34集成電路工藝原理仇志軍邯鄲校區(qū)物理樓435室集成電路工藝原理第四章光刻原理(上)2/34凈化的三個(gè)層次:上節(jié)課主要內(nèi)容凈化級(jí)別高效凈化凈化的必要性器件:少子壽命?,VT改變,Ion?Ioff?,柵
2024-08-03 00:26
【摘要】集成電路制造工藝原理課程總體介紹:1.課程性質(zhì)及開課時(shí)間:本課程為電子科學(xué)與技術(shù)專業(yè)(微電子技術(shù)方向和光電子技術(shù)方向)的專業(yè)選修課。本課程是半導(dǎo)體集成電路、晶體管原理與設(shè)計(jì)和光集成電路等課程的前修課程。本課程開課時(shí)間暫定在第五學(xué)期。2.參考教材:《半導(dǎo)體器件工藝原理》國防工業(yè)出版社
2025-06-28 03:24
【摘要】第一章集成電路的發(fā)展(IntegratedCircuits)?集成電路:指通過一系列特定的加工工藝,將晶體管,二極管等有源器件和電阻,電容,電感等無源器件,按照一定的電路互連,”集成”在一塊半導(dǎo)體晶片上,封裝在一個(gè)外殼內(nèi),執(zhí)行特定電路或系統(tǒng)功能的一種器件.(Moore’sLaw)?它對(duì)集成電路的發(fā)展有
2025-03-04 05:55
【摘要】集成電路工藝原理復(fù)旦大學(xué)微電子研究院於偉峰SemiconductorVLSIProcessPrinciple半導(dǎo)體集成電路工藝原理2第四章擴(kuò)散(Diffusion)§引言§擴(kuò)散機(jī)理§擴(kuò)散方程及其解§影響雜質(zhì)分布的其他因素§
2025-01-21 20:36
【摘要】集成電路工藝原理第七章金屬互聯(lián)本章概要?引言?金屬鋁?金屬銅?阻擋層金屬?硅化物?金屬淀積系統(tǒng)引言概述金屬化是芯片制造過程中在絕緣介質(zhì)薄膜上淀積金屬薄膜,通過光刻形成互連金屬線和集成電路的孔填充塞的過程。金屬線被夾在兩個(gè)絕緣介質(zhì)層中間形成電整體。高性
2025-05-03 18:17
【摘要】集成電路工藝原理第七章離子注入原理(上)1集成電路工藝原理集成電路工藝原理第七章離子注入原理(上)2大綱第一章前言第二章晶體生長第三章實(shí)驗(yàn)室凈化及硅片清洗第四章光刻第五章熱氧化第六章
2025-01-10 13:40
【摘要】集成電路工藝原理相關(guān)試題-----------------------作者:-----------------------日期:一、填空題(30分=1分*30)10題/章晶圓制備1.用來做芯片的高純硅被稱為(半導(dǎo)體級(jí)硅),英文簡稱(GSG),有時(shí)也被稱為(電子級(jí)硅)。2.單晶硅生長常用(
2025-03-29 05:15
2025-06-28 19:01
【摘要】集成電路分析與設(shè)計(jì)第一章集成電路基本制造工藝本章概要?雙極工藝流程?CMOS工藝流程?CMOS先進(jìn)工藝?BiCMOS工藝流程?無源器件雙極工藝流程典型NPN管剖面圖雙極工藝流程襯底選擇(1)襯底選擇對(duì)于典型的PN結(jié)隔離雙極集成電路,襯底一
2025-01-10 01:53
【摘要】1半導(dǎo)體集成電路原理2微電子器件原理半導(dǎo)體物理與器件微電子工藝基礎(chǔ)集成電路微波器件MEMS傳感器光電器件課程地位固體物理半導(dǎo)體物理3定義:集成電路就是把許多分立組件制作在同一個(gè)半導(dǎo)體芯片上所形成的電路。在制作的全過程中作為一個(gè)整體單元進(jìn)行加工。早在1952年,英國的杜
2025-01-01 06:22
【摘要】集成電路工藝原理第三講光刻原理11集成電路工藝原理仇志軍(username&password:vlsi)邯鄲路校區(qū)物理樓435室助教:沈臻魁楊榮邯鄲路校區(qū)計(jì)算中心B204集成電路工藝原理第三講光刻原理12凈
2025-01-18 16:29
【摘要】第八講集成電路可測性原理與設(shè)計(jì)浙大微電子韓雁2022/8/17浙大微電子2/26IC測試概念?在芯片設(shè)計(jì)正確的前提下,在制造過程中引入的缺陷(故障)造成的電路失效,需要用測試的方法將其檢測出來。?對(duì)IC設(shè)計(jì),用仿真手段驗(yàn)證設(shè)計(jì)正確性?對(duì)IC制造,用測試手段報(bào)告生產(chǎn)“良率”?故障的存
2024-07-31 23:08
【摘要】審定成績:序號(hào):25自動(dòng)控制原理課程設(shè)計(jì)報(bào)告題目:集成電路設(shè)計(jì)認(rèn)識(shí)學(xué)生姓名顏平班級(jí)0803院別物理與電子學(xué)院專業(yè)電子科學(xué)與技術(shù)學(xué)號(hào)14072500125指導(dǎo)老師易立華設(shè)計(jì)時(shí)間。15
2025-01-20 03:13
【摘要】集成電路課程設(shè)計(jì)論文劉旭波目錄【摘要】 -2-1.設(shè)計(jì)目的與任務(wù) -3-2.設(shè)計(jì)要求及內(nèi)容 -3-3.設(shè)計(jì)方法及分析 -4-74HC138芯片簡介 -4-工藝和規(guī)則及模型文件的選擇 -5-電路設(shè)計(jì) -6-輸出級(jí)電路設(shè)計(jì) -6-.內(nèi)部基本反相器中的各MOS尺寸的計(jì)算 -9-.四輸入與非門MO
2025-01-21 17:35