第八講集成電路可測(cè)性原理與設(shè)計(jì)(參考版)
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【正文】 2022/8/17 浙大微電子 27/26 Thanks！ 。 2022/8/17 浙大微電子 26/26 復(fù)雜電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)（ DFT） ? 對(duì)于組合電路 –有非常成熟的測(cè)試矢量生成算法來(lái)檢測(cè)電路中的故障，無(wú)需增加 DFT電路 ? 對(duì)于時(shí)序電路來(lái)說(shuō) –掃描鏈法，把內(nèi)部的時(shí)序單元（ DFF）改成特定的掃描單元，然后把所有的掃描單元串成掃描鏈，通過(guò)掃描鏈，將內(nèi)部信息串行傳到輸出管腳。 ? 當(dāng)某點(diǎn) X的可控制因子過(guò)大時(shí) , – 當(dāng) CC0(X)過(guò)大時(shí) ,可插入一個(gè)“與門”使之下降 : CC0(X’) = min [ CC0(X), CC0( I ) ] + 1 = 1 + 1 = 2 – 當(dāng) CC1(X)過(guò)大時(shí) ,可插入一個(gè)“或門”使之下降 : CC1(X’) = min [ CC1(X), CC1( I ) ] + 1 = 1 + 1 = 2 ? 在某些特殊情況下還可直接將該 X點(diǎn)與增加的輸入端 I相連。 ? SO(X) 表示時(shí)序電路中 X 結(jié)點(diǎn)故障的可觀察性。 ? SC0(X) 表示時(shí)序電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa0故障的可控制性。 ? CC1(X) 表示組合電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa1故障的可控制性。 2022/8/17 浙大微電子 17/26 電路的可測(cè)性分析 電路測(cè)試的難易程度可由 “測(cè)試因子” 定量描述。 ? T1(011, 101)僅能測(cè)出 D1這一個(gè)故障 , 故其故障覆蓋率為 10%。 ? (1 1 0 ), 可測(cè) A0， B0， C1， P1， D0 而 ( 0 1 1 )和 ( 1 0 1) 對(duì)測(cè)試故障沒(méi)有特別貢獻(xiàn) 因此只要將 T(000, 001, 010, 100, 110, 111) 提取為 測(cè)試向量集 就可以了 2022/8/17 浙大微電子 16/26 故障覆蓋率 故障覆蓋率定義為 : 用測(cè)試向量集可以測(cè)出的故障與電路中所有可能存在的故障之比。 ? (1 0 0 ), 可測(cè) B1， P0， D1。 ? (0 0 1), 可測(cè) D1。 2022/8/17 浙大微電子 13/26 故障字典表 正確值 2022/8/17 浙大微電子 14/26 故障字典表 ? 當(dāng)輸入端 A B C取值 (0 0 0 )時(shí) , 即可測(cè)得 P0故障或者 D1故障 ? 當(dāng)取 (0 1 0)時(shí) , 可測(cè)得 A1故障或者是 P0故障或者是 D1故障 ? 輸入
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