第八講集成電路可測性原理與設(shè)計(已修改)
2025-08-01 23:08 本頁面
【正文】 第八講 集成電路可測性原理與設(shè)計 浙大微電子 韓雁 2022/8/17 浙大微電子 2/26 IC測試概念 ? 在芯片設(shè)計正確的前提下，在制造過程中引入的缺陷（故障）造成的電路失效，需要用測試的方法將其檢測出來。 ? 對 IC設(shè)計，用 仿真 手段驗證設(shè)計正確性 ? 對 IC制造，用 測試 手段報告生產(chǎn)“良率” ? 故障的存在 –影響電路功能的正確性 ? 故障的定位 –若大量電路由于相同原因失效，要找出問題所在 2022/8/17 浙大微電子 3/26 電路測試與電路仿真的不同 ? 電路仿真 –時間充裕 –軟件可對電路內(nèi)部任意節(jié)點進行仿真 ? 電路測試 –測試機時昂貴，每分鐘都計算成本 –不可能對電路內(nèi)部進行探測，故障排查困難 2022/8/17 浙大微電子 4/26 樣品測試與產(chǎn)品測試的不同 1. 樣品測試 – 人工進行 – 測試時間充裕 – 測試方法自由 2. 產(chǎn)品測試 – 機器測試 – 測試時間折進產(chǎn)品成本（有時比制造成本還高） – 測試代碼編寫 2022/8/17 浙大微電子 5/26 ? 大規(guī)模 IC, 其輸入 /輸出管腳眾多。 ? 理論上 , 只有“窮盡”了輸入信號的所有組合 , 并驗證了輸出信號相應(yīng)無誤后 , 才能斷定此電路是合格產(chǎn)品。 ? 二輸入端“與非”門 , 只有測試了 00, 01, 10, 11四種輸入狀態(tài)下的輸出分別是 1, 1, 1, 0, 才能斷定該“與非”門是合格產(chǎn)品。 ? 這種方法類似于設(shè)計階段所做的電路仿真。 2022/8/17 浙大微電子 6/26 實例：乘法 /累加 ASIC測試 窮盡法要做多少次測試？ 28 27 215次 2022/8/17 浙大微電子 7/26 是否有一種切實可行的測試方法 127 255 C0 = ? ? i j i =1 j =1 = 265297920 轉(zhuǎn)化為二進制數(shù) 因為寄存器為 15位， 所以 C值最終應(yīng)為 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 32 24 16 8 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 2022/8/17 浙大微電子 8/26 乘法 /累加
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