第八講集成電路可測(cè)性原理與設(shè)計(jì)(編輯修改稿)
2024-08-16 23:08 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 1 0)時(shí) , 可測(cè)得 A1故障或者是 P0故障或者是 D1故障 ? 輸入端的取值 ( 0 0 0),(0 0 1),(0 1 1),(1 0 1)稱(chēng)為 測(cè)試向量 ? 有些故障是不可區(qū)分的 , 例如 A0， B0， C1， P1， D0故障 , 無(wú)論用哪一組測(cè)試向量都無(wú)法將它們區(qū)分開(kāi)來(lái) , 這種故障稱(chēng)為“等價(jià)故障” , 因?yàn)樗鼈冊(cè)陔娐分惺沁壿嫷葍r(jià)的 。 正確值 2022/8/17 浙大微電子 15/26 測(cè)試向量集及其提取 進(jìn)一步分析還可發(fā)現(xiàn) , 要診斷上述電路中所有的Sa1故障和 Sa0故障 , 并不需要對(duì)全部的 8個(gè)輸入向量進(jìn)行測(cè)試 , 而只需其中的 6個(gè)就夠了： ? (0 0 0), 可測(cè) P0， D1。 ? (0 0 1), 可測(cè) D1。 ? (0 1 0 ), 可測(cè) A1， P0， D1。 ? (1 0 0 ), 可測(cè) B1， P0， D1。 ? (1 1 1 ), 可測(cè) C0， D1。 ? (1 1 0 ), 可測(cè) A0， B0， C1， P1， D0 而 ( 0 1 1 )和 ( 1 0 1) 對(duì)測(cè)試故障沒(méi)有特別貢獻(xiàn) 因此只要將 T(000, 001, 010, 100, 110, 111) 提取為 測(cè)試向量集 就可以了 2022/8/17 浙大微電子 16/26 故障覆蓋率 故障覆蓋率定義為 : 用測(cè)試向量集可以測(cè)出的故障與電路中所有可能存在的故障之比。 在上述實(shí)例中 , 共有 10個(gè)可能故障 , 因此 ? T(000, 001, 010, 100, 110, 111)能夠檢測(cè)出這所有的 10個(gè)故障 , 因此其故障覆蓋率為 100%。 ? T1(011, 101)僅能測(cè)出 D1這一個(gè)故障 , 故其故障覆蓋率為 10%。 ? T2(110 )的故障覆蓋率為 50%, 雖然它不能給等價(jià)故障 A0， B0， C1， P1， D0精確定位。 2022/8/17 浙大微電子 17/26 電路的可測(cè)性分析 電路測(cè)試的難易程度可由 “測(cè)試因子” 定量描述。 共 6個(gè) (3個(gè)組合電路、三個(gè)時(shí)序電路 )： ? CC0(X) 表示組合電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa0故障的 可控制性 。 ? CC1(X) 表示組合電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa1故障的可控制性。 ? CO(X) 表示組合電路中 X 結(jié)點(diǎn)故障的 可觀察性 。 ? SC0(X) 表示時(shí)序電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa0故障的可控制性。 ? SC1(X) 表示時(shí)序電路中
畢業(yè)設(shè)計(jì)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1