第八講集成電路可測(cè)性原理與設(shè)計(jì)-文庫(kù)吧
2025-07-05 23:08 本頁(yè)面
【正文】 ASIC性能 測(cè)試 測(cè)試乘法 /累加電路的最高工作頻率 ? 當(dāng)時(shí)鐘頻率較低時(shí) , 芯片輸出 C = C0, 工作正常。 ? 將時(shí)鐘頻率不斷提高 , 每提高一次 , 進(jìn)行一次測(cè)試 , 直至測(cè)試結(jié)果 C ? C0, 說(shuō)明電路工作狀態(tài)已發(fā)生紊亂 , 工作頻率上限即可確定。 2022/8/17 浙大微電子 9/26 準(zhǔn)窮盡法概念及不足 上述測(cè)試可稱(chēng)之為“準(zhǔn)窮盡法”測(cè)試，其不足為 –累加器輸入端 Z的累加信號(hào)并不是嚴(yán)格按照窮盡法來(lái)提供測(cè)試碼的。 –測(cè)試只保留了低 15位數(shù)據(jù) , 因此并不排除更高位有錯(cuò)誤數(shù)據(jù)無(wú)法被發(fā)現(xiàn)的可能。雖然這種可能性比較小。 2022/8/17 浙大微電子 10/26 ? 產(chǎn)品測(cè)試與樣品測(cè)試不同 , 目的在于如何讓機(jī)器用統(tǒng)一固定的算法來(lái)解決大量電路的快速測(cè)試問(wèn)題和為“故障定位”提供可能。 ? 這就是 DFT理論需要研究和解決的問(wèn)題 ? 產(chǎn)品測(cè)試要求具備的條件 –電路要有 可測(cè)性 ( 可測(cè)性設(shè)計(jì)是 ASIC設(shè)計(jì)師在電路設(shè)計(jì)初期就應(yīng)考慮的問(wèn)題 ), – 提取出的 測(cè)試矢量集 要有較高的故障覆蓋率 –有故障模型和盡可能完備的“ 故障字典 ” 2022/8/17 浙大微電子 11/26 故障模型 在各種故障模型中比較常用的兩種模型： –“對(duì)電源短路模型” Sa1 ( Stuck at 1) –“對(duì)地短路模型” Sa0 ( Stuck at 0) 可診斷由對(duì)電源短路或?qū)Φ囟搪芬鸬碾娐肥? 實(shí)例： 2022/8/17 浙大微電子 12/26 故障字典 ? 實(shí)例中有 5個(gè)測(cè)試點(diǎn) : A， B， C， P， D ? 10種故障可能 : A1,A0,B1,B0,C1,C0,P1,P0,D1,D0 A1表示 A點(diǎn)的 Sa1故障， A0表示 A點(diǎn)的 Sa0故障 ? 當(dāng)電路無(wú)故障時(shí) , 輸入與輸出之間應(yīng)有 正確真值表 ? 當(dāng)有各種 SaX故障時(shí) , 輸出端 D的測(cè)試值將有 10種可能的錯(cuò)誤結(jié)果 ? 將上兩項(xiàng)結(jié)果合并即可形成一張 故障字典 ? 根據(jù)故障字典以及測(cè)量到的 D值 ,即有可能分析電路中 Sa1故障和 Sa0故障所處的位置。 2022/8/17 浙大微電子 13/26 故障字典表 正確值 2022/8/17 浙大微電子 14/26 故障字典表 ? 當(dāng)輸入端 A B C取值 (0 0 0 )時(shí) , 即可測(cè)得 P0故障或者 D1故障 ? 當(dāng)取 (0
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