第八講集成電路可測(cè)性原理與設(shè)計(jì)-wenkub.com
2025-07-17 23:08 本頁面
【正文】 –內(nèi)建自測(cè)試法（ BIST），無需外部測(cè)試機(jī)臺(tái)，內(nèi)部產(chǎn)生測(cè)試向量，將無故障響應(yīng)值也事先存放在芯片內(nèi)部，自己比較并輸出比較結(jié)果。 2022/8/17 浙大微電子 18/26 某結(jié)點(diǎn)某故障的可控制性 ? 可控制性： –人為地將某結(jié)點(diǎn)設(shè)置為某故障的難易程度 ? 對(duì)于原始輸入端 I和原始輸出端 O, 一般有如下約定： – CC0( I ) = CC1( I ) = 1（組合電路的可控制性） – SC0( I ) = SC1( I ) = 0（時(shí)序電路的可控制性） – CO(O) = SO(O) = 0（組合與時(shí)序電路的可觀察性） 值越小表示越易觀察或控制 2022/8/17 浙大微電子 19/26 “與非”門測(cè)試因子的計(jì)算 Y = CC1(Y) = min[ CC0(X1), CC0(X2) ] + 1 CC0(Y) = CC1(X1) + CC1(X2) + 1 CO(X1) = CC1(X2) + CO(Y) + 1 CO(X2) = CC1(X1) + CO(Y) + 1 SC1(Y) = min[ SC0(X1), SC0(X2) ] SC0(Y) = SC1(X1) + SC1(X2) SO(X1) = SC1(X2) + SO(Y) SO(X2) = SC1(X1) + SO(Y) 2X1X2022/8/17 浙大微電子 20/26 Y = CC1(Y) = CC0(X1) + CC0(X2) + 1 CC0(Y) = min[ CC1(X1), CC1(X2) ] + 1 CO(X1) = CC0(X2) + CO(Y) + 1 CO(X2) = CC0(X1) + CO(Y) + 1 SC0(Y) = min[ SC1(X1), SC1(X2) ] SC1(Y) = SC0(X1) + SC0(X2) SO(X1) = SC0(X2) + SO(Y) SO(X2) = SC0(X1) + SO(Y) 2X1X ?“或非”門測(cè)試因子的計(jì)算 2022/8/17 浙大微電子 21/26 一個(gè)簡單組合邏輯的測(cè)試因子 2X1X?2X1X對(duì)于原始輸入 I和原始輸出 O CC0( I ) = CC1( I ) = 1 CO(O) = 0 Y = CC1(Y) = CC0(X1) + CC0(X2) + 1 CC0(Y) = min[ CC1(X1), CC1(X2) ] + 1 CO(X1) = CC0(X2) + CO(Y) + 1 CO(X2) = CC0(X1) + CO
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