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統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)課件(參考版)

2025-04-20 08:28本頁面
  

【正文】 10及m=10樣本,各有n=5測量數(shù)值. 平均值=X=Σxi/n 極差=R=Ximax-Ximin 各組X的平均值=X=ΣX/m=3002/10= 極差的平均值=R=ΣR/m=56/10= 平均值的上控制限與下控制限: 上控制限=UCL=X+(A2*R)=+(*)= 下控制限=LCL=X-(A2*R)=-(*)= 極差的上控制限與下控制限: 上控制限=UCL=D4*R=*= 下控制限=LCL=D3*R=0*=0 (1)根據(jù)極差法計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差σs , σs=R/d2= (2)計(jì)算CP指數(shù)CP=( TuTL )/6*SR=(310290)/6*=(3)計(jì)算CPK指數(shù) X平均值X接近TU,故臨界距離計(jì)算如下: Δ臨界距離=TU-X=310-=CPK=Δ臨界距離/3*σs =(3*)=。因此該指數(shù)對于作結(jié)論尤為重要。 允許的不合格品率P=, m=15, n=400 不合格品率P=np/n, 不合格品率的平均值P=Σ(np)/Σn=41/6000=標(biāo)準(zhǔn)偏差σp=√P(1P)/n=√()/400=上控制限=UCL=P+3*σp=+3*=下控制限=LCL= P3*σp=*=CPK=Δ臨界距離/3*σpCPK= (PP)/ 3*=()/ 3*=如定性質(zhì)量特性,則Δ臨界距離由規(guī)定的質(zhì)量目標(biāo)和分布的平均值計(jì)算求得;由于定性質(zhì)量特性其一側(cè)為零,所以評價工序能力時,是考慮CPK指數(shù)。改進(jìn)過程:不斷研究過程,減少普通原因變差,提高質(zhì)量,降低成本。(10) 分析過程能力對受控過程,CPK值是否滿足顧客要求(PPAP手冊規(guī)定CPK≥)對于尚未完全受控但顧客批準(zhǔn)的過程, PPK值是否滿足顧客要求。過程控制圖的目的不是追求“完美”,而是保持合理、經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài)。(7) 修正數(shù)據(jù)或重新采集數(shù)據(jù)只有肯定是記錄、計(jì)算或描點(diǎn)的錯誤,才可以修正數(shù)據(jù)。按以下順序查找原因:――有否記錄、計(jì)算和描點(diǎn)的錯誤?――測量系統(tǒng)是否有問題?――人、機(jī)、料、法、環(huán)各輸入因素。(一般情況,大約有2/3數(shù)據(jù)分布在中心線周圍1/3控制限范圍內(nèi)。均值圖示例極差圖示例(5) 分析極差圖和均值圖分別分析極差圖和均值圖,找出特殊原因變差數(shù)據(jù)。在這之前正確選擇刻度(參見SPC手冊)。計(jì)算每組樣本的均值X和極差R。(以X-R圖為例)1. 收集數(shù)據(jù)2. 畫圖3. 計(jì)算試驗(yàn)控制限4. 將試驗(yàn)控制限及中心線畫在圖上5. 分析極差圖和均值圖6. 分析特殊原因,采取措施消除7. 修正數(shù)據(jù)或重新采集數(shù)據(jù)8. 重新畫圖和計(jì)算控制限9. 計(jì)算過程能力性能和指數(shù)10. 分析過程能力11. 保持過程、改進(jìn)過程12. 控制圖制作及應(yīng)用程序圖(1) 收集數(shù)據(jù)在過程的基本條件相同的情況下,按一定的時間抽取一組樣本(測定樣本中每一個體的特性值)。b) 控制用控制圖:經(jīng)過上述分析證實(shí)過程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求,此時的控制圖可以用于現(xiàn)場對日常的過程質(zhì)量進(jìn)行控制。分析結(jié)果顯示過程處于穩(wěn)定狀態(tài)時,還需進(jìn)一步與質(zhì)量特性的規(guī)格界限(產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求)作比較,判斷過程是否滿足特性要求。單元不合格數(shù)U圖適用于與C圖相同的數(shù)據(jù),但不同時期的樣本容量不同時,必須采用U圖。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖分類表類型應(yīng)用范圍不合格品率P圖廣泛不合格品數(shù)nP圖不合格品數(shù)比不合格品率更有意義。單值-移動極差圖X-MR用單值代替均值,用MR(相鄰數(shù)值之差)代替極差。中位數(shù)圖X-R用X代替X,直接描點(diǎn),不用計(jì)算機(jī)。廣泛均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖X-SS較R更準(zhǔn)確有效,尤其在大樣本容量時。l 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的依據(jù)。l 對已達(dá)到統(tǒng)計(jì)受控的過程采取措施,不斷減少普通原因變差,以達(dá)到提高質(zhì)量,降低成本和提高生產(chǎn)率的改進(jìn)目標(biāo)。*例:已知CP=, K=,求工序加工的不合格品率?解: 查表 CP===% 典型的能力指數(shù)CPK與PPM關(guān)系 CPKUCLμ(或μLCL)PPM(單側(cè))σ1586552σ227513σ13504σ325σ6σ 能力指數(shù)與性能指數(shù) 能力指數(shù)性能指數(shù)符號CPK,CPPPK,PP適用過程穩(wěn)定不穩(wěn)定計(jì)算方法σ=R/d2σ=√Σ(XiX)2 (N1)PPAP要求CPK≥PPK≥五、 持
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