統(tǒng)計過程控制培訓課件(存儲版)
【正文】 于定性質(zhì)量特性其一側(cè)為零，所以評價工序能力時，是考慮CPK指數(shù)。（7） 修正數(shù)據(jù)或重新采集數(shù)據(jù)只有肯定是記錄、計算或描點的錯誤，才可以修正數(shù)據(jù)。在這之前正確選擇刻度（參見SPC手冊）。分析結(jié)果顯示過程處于穩(wěn)定狀態(tài)時，還需進一步與質(zhì)量特性的規(guī)格界限（產(chǎn)品標準要求）作比較，判斷過程是否滿足特性要求。中位數(shù)圖X－R用X代替X，直接描點，不用計算機。*例：已知CP＝, K=,求工序加工的不合格品率?解: 查表 CP＝==% 典型的能力指數(shù)CPK與PPM關(guān)系 CPKUCLμ(或μLCL)PPM(單側(cè))σ1586552σ227513σ13504σ325σ6σ 能力指數(shù)與性能指數(shù) 能力指數(shù)性能指數(shù)符號CPK，CPPPK，PP適用過程穩(wěn)定不穩(wěn)定計算方法σ=R/d2σ=√Σ(XiX)2 (N1)PPAP要求CPK≥PPK≥五、 持續(xù)改進過程循環(huán)持續(xù)改進過程循環(huán)的各個階段1．分析過程本過程應做些什么？ 會出現(xiàn)什么錯誤？ 監(jiān)控過程性能 本過程正在做什么？ 查找偏差的特殊達到統(tǒng)計控制狀態(tài)？ 原因并采取措施確定能力 改變過程從而更好理解 普通原因變差減少普通原因變差六、 控制圖－過程控制的工具1. 控制圖的用途a. 什么是控制圖?收 集數(shù) 據(jù)實 施控 制l 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 l 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算試驗控制限分 析改 進l 識別變差的特殊原因并采取措施l 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施l 重復這三個階段從而不斷改進過程 b. 控制圖的用途l 現(xiàn)場人員了解過程變差并使之達到統(tǒng)計受控狀態(tài)的有效工具。這時計算工序能力指數(shù)的公式需加修正。6σ 三、 兩種變差原因及兩種過程狀態(tài) 兩種性質(zhì)的變差原因＊ 如果僅存在變差的普通原因，隨著時間的推移，過程的輸出，形成一個穩(wěn)定的分布并可預測。 具有反饋的過程控制模型識別變化的需求與期望顧客產(chǎn)品／服務(wù)4M1E過程統(tǒng)計方法 過程的呼聲 顧客的呼聲控制策略：控制過程、預防缺陷、避免浪費。σ μ177。3σ寬度來表達 －σ的計算方法 ● 按極差估計● 按標準差估計 什么是過程能力指數(shù)（Cp，Cpk）－Cp，Cpk表示過程能力滿足技術(shù)規(guī)范的程度－Cpk值與σ，技術(shù)規(guī)范寬度，分布和技術(shù)規(guī)范的位置有關(guān)－當過程均值與規(guī)范中心值重合時，Cpk＝CpCpkU=UcLμ/3σ Cpk為以上兩值較少者CpkL=μLCL/3σCp＝UcL－LCL／6σ＊ 工序能力指數(shù)表示工序能力滿足產(chǎn)品質(zhì)量標準(產(chǎn)品規(guī)格、公差)的程度，一般記以Cp 。例：，經(jīng)隨機抽取50件進行檢驗，計算得零件的平均孔徑X＝，標準差S=,求CPK？解：①首先計算零件孔徑的偏移（公差中心） （規(guī)格范圍） （分布中心）M＝（Tu＋TL）/2 T＝Tu－TL μ＝Xε=∣(+)/∣=②計算偏移度K=[()/2]= ③計算CPKCPK=()[()/(6*)]= (3) 單側(cè)公差，只有上限要求有的產(chǎn)品，如機械產(chǎn)品的清潔度，形位公差，藥品中雜質(zhì)的含量等只給出上限要求，而對下限沒有要求，只希望越小越好，這時，工序能力指數(shù)計算如下：CP=(Tuμ)/3σ≈(TuX)/3S當X≥Tu時，令CP＝0。l 為現(xiàn)場人員、支持人員、設(shè)計人員，顧客等提供有關(guān)過程性能的共同語言。用于測量費用很高的場合。這里需注意兩點：一是當控制圖使用一段時間，即
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