統(tǒng)計過程控制培訓(xùn)課件(完整版)
【正文】 是 否 是使用X－R圖是否能方便地計算每個子組的S值？ 否使用X－S圖 是a) 分析用控制圖：根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計算出控制圖的中心線和上下控制界限，畫出控制圖，以便分析和判斷過程是否處于穩(wěn)定狀態(tài)。計算機(jī)實時記錄，樣本容量大。 當(dāng)CPK＞，如偏移度K＜，則對于工序不必特別加以調(diào)整；當(dāng)CPK＜, 如K, 則必須采取措施。（2）雙側(cè)公差（質(zhì)量特性值分布中心與公差中心不重合）有偏移情況若產(chǎn)品質(zhì)量特性值分布中心μ與公差中心M二者不重合，有偏移，則不合格品將增加。5σ μ177。工作方式／資源的融合 人 顧 客 機(jī) 產(chǎn)品4M1E 料 服務(wù) 法 環(huán) 輸入 過程/系統(tǒng) 輸出 ● ● ● 二、 兩種過程控制模型和控制策略 缺陷檢測過程模型產(chǎn)品/服務(wù)過程4M1EEE 檢驗是否合格 報廢或返工 否 是顧客 控制策略：控制輸出，事后把關(guān)，容忍浪費(fèi)。2σ μ177。＊ 各情況的工序能力指數(shù)的計算方法如下：(1) 雙側(cè)公差(質(zhì)量特性值分布中心μ與公差中心M重合)無偏移情況Cp=T/6σ≈(TuTL)/6S式中，T為技術(shù)規(guī)格，Tu為規(guī)格上限，TL 為規(guī)格下限，σ為質(zhì)量特性值分布的標(biāo)準(zhǔn)差，S為樣本標(biāo)準(zhǔn)差，S為σ的估計值，即R/d2。表示工序能力嚴(yán)重不足。l 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的依據(jù)。計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖分類表類型應(yīng)用范圍不合格品率P圖廣泛不合格品數(shù)nP圖不合格品數(shù)比不合格品率更有意義。（以X－R圖為例）1. 收集數(shù)據(jù)2. 畫圖3. 計算試驗控制限4. 將試驗控制限及中心線畫在圖上5. 分析極差圖和均值圖6. 分析特殊原因,采取措施消除7. 修正數(shù)據(jù)或重新采集數(shù)據(jù)8. 重新畫圖和計算控制限9. 計算過程能力性能和指數(shù)10. 分析過程能力11. 保持過程、改進(jìn)過程12. 控制圖制作及應(yīng)用程序圖（1） 收集數(shù)據(jù)在過程的基本條件相同的情況下，按一定的時間抽取一組樣本（測定樣本中每一個體的特性值）。（一般情況，大約有2／3數(shù)據(jù)分布在中心線周圍1／3控制限范圍內(nèi)。（10） 分析過程能力對受控過程，CPK值是否滿足顧客要求（PPAP手冊規(guī)定CPK≥）對于尚未完全受控但顧客批準(zhǔn)的過程, PPK值是否滿足顧客要求。10及m=10樣本,各有n=5測量數(shù)值. 平均值=X=Σxi/n 極差=R=Ximax－Ximin 各組X的平均值＝X＝ΣX／m=3002/10= 極差的平均值＝R＝ΣR／m＝56/10＝ 平均值的上控制限與下控制限: 上控制限=UCL=X+(A2*R)=+(*)= 下控制限=LCL=X－(A2*R)=－(*)= 極差的上控制限與下控制限: 上控制限=UCL=D4*R=*= 下控制限=LCL=D3*R=0*=0 (1)根據(jù)極差法計算標(biāo)準(zhǔn)偏差σs , σs=R/d2= (2)計算CP指數(shù)CP=( TuTL )/6*SR=(310290)/6*=(3)計算CPK指數(shù) X平均值X接近TU,故臨界距離計算如下: Δ臨界距離=TU－X＝310－=CPK=Δ臨界距離/3*σs =(3*)=。改進(jìn)過程：不斷研究過程，減少普通原因變差，提高質(zhì)量，降低成本。按以下順序查找原因：――有否記錄、計算和描點(diǎn)的錯誤？――測量系統(tǒng)是否有問題？――人、機(jī)、料、法、環(huán)各輸入因素。計算每組樣本的均值X和極差R。單元不合格數(shù)U圖適用于與C圖相同的數(shù)據(jù)，
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