x射線光電子能譜分析-wenkub.com
2025-05-06 16:46 本頁面
【正文】 下面是 Ni80P20合金表面 Ni的 2P3/ O的 1S以及 P的 2P XPS圖譜。用 AES或 XPS能 測量樣品表面“富集”情況。 XPS 是用 X射線光子激發(fā)原子的內(nèi)層電子發(fā)生電離，產(chǎn)生光電子，這些內(nèi)層能級的結(jié)合能對特定的元素具有特定的值，因此通過測定電子的結(jié)合能和譜峰強度，可鑒定除 H和 He（因為它們沒有內(nèi)層能級）之外的全部元素以及元素的定量分析。 校正或消除樣 品的荷電效應 電中和法、內(nèi)標法和外標法 167。因在記錄譜圖所必需的時間內(nèi)，殘留氣體會吸附到樣品表面上，甚至有可能和樣品發(fā)生化學反應，從而影響電子從樣品表面上發(fā)射并產(chǎn)生外來干擾譜線。 多通道檢測器是由多個微型單通道電子倍增器組合在一起而制成的一種大面積檢測器，也稱位敏檢測器（ PSD）或多陣列檢測器 。它必須在高真空條件下工作即壓力要低于 103帕，以便盡量減少電子與分析器中殘余氣體分子碰撞的幾率。 紫外光電子能譜儀中使用的高強度單色紫外線源常用稀有氣體的放電共振燈提供 。商品譜儀中將這些激發(fā)源組裝在同一個樣品室中，成為一個多種功能的綜合能譜儀。 由于俄歇電子位移機理比較復雜，涉及到三個能級，不象 X射線光電子能譜那樣容易識別和分析，并且通常使用的俄歇譜儀分辨率較低，這方面的應用受到了很大的限制。俄歇峰兩側(cè)的變化趨勢不同，微分后出現(xiàn)正負峰不對稱 。 ?1969年， Palmberg、 Bohn和 Tracey引進了筒鏡能量分析器，提高了靈敏度和分析速度，使俄歇電子能譜被廣泛應用。 167。因此是目前表面分析中使用最廣的譜儀之一。 U P S167。v)( EvEIhvE ank ????光 電 子 動 能 入 射 光 子 能 量 絕 熱 電 離 能 離子的振動態(tài)能量 振 動 基 態(tài) 振動激發(fā)態(tài) CO的光電子能譜及其相關能級圖 非鍵電子躍遷 ??1 ??2CO+的基態(tài) ( ) ~X 成鍵電子躍遷 ??1 ?2CO+第一激發(fā)態(tài) ( ) A~CO+第二激發(fā)態(tài) ( ) B~ O2和 O2＋ 的分子軌道示意圖 l自旋－軌道耦合的結(jié)果導致其能級發(fā)生分裂 ， 形成兩個具有不同能量的態(tài) ， 例如 軌道量子數(shù)為 ， 即得 ， 它們的能量差值 : ? E E Ej j j? ?1 2212211 , ???? ljlj 自旋－軌道耦合 自旋－自旋耦合 對開殼層分子 ， 當其它成對電子中一個被激發(fā)發(fā)射出來后 ， 留下一個未配對電子 。 氣體分子有明顯 的振動精細結(jié)構 凝聚分子的譜帶明顯增 寬，并失去精細結(jié)構 化學吸附后， ?帶發(fā)生了位移 振動精細結(jié)構 對于同一電子能級，分子還可能有許多不同的振動能級，因此實際測得的紫外光電子能譜圖既有結(jié)合能峰，又有振動精細結(jié)構。 167。 eV1 5 0 0~1 0 0 0UPS采用 或 作激發(fā)源。
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