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spc教材-統(tǒng)計過程控制-資料下載頁

2025-02-20 15:09本頁面
  

【正文】 47 40 44 41 平均移動全距 移 動 全 距 Rm N=2 N=3 N=4 7 1 7 4 5 7 6 6 6 9 9 9 5 9 9 7 7 11 4 7 7 3 4 7 C、 過程控制解釋(見 ) D、 過程能力解釋(見 ) RX?73 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 為穩(wěn)定過程的能力指數(shù)?????????? ???? ??2233mindRdRXUSLLSLXCPK?? 為過程性能指數(shù)???????? ??????SXUSLLSLXPpkS ?? 33min 2dRLSLUSLCp????? ???SLSLUSLPp??74 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 23 dRXUSLCpu????23 dRLSLXCpl???? 為能力比值CPCR 1? 為性能比值PPPR 1?75 奧邦科技 五大手冊之五 SPC Cpk及 Ppk用途 隨著時間變化趨勢用來測量持續(xù)的改進。 決定過程中,需要改進的項目的優(yōu)先次序。 目標柱與損失函數(shù) 76 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 3.應(yīng)注意如果每一個子組代表很長的一段時間的過程操作, 大的子組容量 會有不利之處。如果子組容量是恒定的或它 們變化不超過 25%是最方便的,但不一定是這樣。 4.如果子組容量相對來說足夠大也是很有好處的,這樣能獲 得不控制限,從而也可以發(fā)現(xiàn)由于改進造成的可查明的原 因。 b. 分組頻率 —— 應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫 助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題,時間間隔短則 反饋快,但也許與大的子組容量的要求矛 盾。 c. 子組的數(shù)量 —— 收集數(shù)據(jù)的時間應(yīng)足夠長,使得能找到 所有可能的影響過程的變差源。一般情 況下,也應(yīng)包括 25或更多的子組,以便 很好地檢驗過程的穩(wěn)定性。 77 奧邦科技 五大手冊之五 SPC A. 2 計算每個子組內(nèi)的不合格品率( P) 記錄每個子組內(nèi)下列值: 發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量 —— np 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率: nnpP?A. 3 選擇控制圖的坐標刻度 描繪數(shù)據(jù)點用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標,子組識別(小時、天等)作為橫坐標,縱坐標的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍的值。 78 奧邦科技 五大手冊之五 SPC A. 4 將不合格品率描繪在控制圖上 1.描繪每個子組的 p值,將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā) 現(xiàn)異常圖形和趨勢。 2.當點描完后,粗覽一遍看看它們是否合理,如果任意 一點比別的高出或低出許多,檢查計算是否正確。 3.記錄過程的變化或者可能影響過程的異常情況,當這 些情況被發(fā)現(xiàn)時,將它們記錄在控制圖的“備注”部分。 79 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B. 計算控制限 B. 1 計算過程平均不合格品率( ) 對于 K個子組的研究時期,計算不合格品率的均值如下: p k kKnnn pnpnpnp ??? ???? ?? ??21 2211式中: 為每個子組內(nèi)的不合格項目數(shù)及檢查的項目數(shù)。 ??? 212211 nnpnpn ???? 及80 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B. 2 計算上、下控制限( UCL, LCL) ? ? nPPPU CL P /13 ??? ? ? nLC L P /13 ??? 式中: n為恒定的樣本容量。 注:當 很小和 /或 n很小時, LCL的計算值有時會為負值,在這種情況下則沒有下控制限,因為即使在極精胡的時期同p=0, 也在隨機變差極限之內(nèi)。 P81 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B. 3 畫線并標注 過程均值( ) —— 水平實線。 控制限( UCL, LCL) —— 水平虛線。 在初始研究階段,這些被認為是試驗控制限。 注:上述給出的控制限計算公工式適用于子組容量相同的情況下(因為它們可能是處于受控的取樣情況),理論上,只要樣本容量改變(即使是一個子組),控制限隨之變化,在對每個具有不同的樣本容量的子組應(yīng)分別計算各組的控制限,但實際應(yīng)用時,當各子組容量與其平均值相差不超過正負 25%時(典型的處于相對穩(wěn)定的條件下的實際生產(chǎn)量),可用平均樣本容量( )來計算控制限,在這種情況下, Pn ? ? npppLCLUC Lpp /13 ????82 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C. 過程控制用控制圖解釋 目的:找出過程不同以同一水平運行的證據(jù) —— 即過程 失控 —— 并采取相應(yīng)的措施。 C. 1 分析數(shù)據(jù)點,找出不穩(wěn)定的證據(jù) 超出控制限的點 a. 超出任一控制限就證明在那點不穩(wěn)定,由于過程 穩(wěn)定且只存在普通原因變差時,很少會出現(xiàn)超出 控制限的點,所以我們假設(shè)超出的值是由于特殊 原因造成的,特別原因可能有益也可能有害,兩 種情況下都應(yīng)立即調(diào)查。 83 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 超出上控制限的點: 控制限或描點錯誤: 過程性能惡化,在當時那點或作為一種趨勢的一部分; 評價系統(tǒng)已改變(例如:檢驗員、量規(guī))。 低于控制限下的點: 控制限或描點錯誤: 過程性能已改進(為了改進,應(yīng)當研究這種情況且長期保 持); 測量系統(tǒng)已改變。 84 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 注:當每個子組的不合格項目的平均值( )較大時 ( ≥9),子組的 p的分布近似于正態(tài)分布并且可以使用與 圖所用分析相似的分布方法。若 較?。?≤5 ),則 不能直接應(yīng)用下列規(guī)則。 b. 鏈 —— 在一個受控的, 中等較大的過程中,落在均 值兩側(cè)的點的數(shù)量將幾乎相等。下列任一情況都表 明過程變化或開始有變化的趨勢: pnpnpn85 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 連續(xù) 7點位于均值的一側(cè); 連續(xù) 7點上升(后者與前者相等或比前者大)或邊續(xù)地下降。 在這些情況下,應(yīng)對促使采取措施的點進行標記(例如 第 7個高于平均值的點),從這點作一條參考線延伸到鏈的開 始點是有幫助的,分析時應(yīng)考慮趨勢出現(xiàn)或開始變化時的大 致時間。 出現(xiàn)高于均值的長鏈或連續(xù)上升的點,通常表明存在下列 情況之一或兩者: 過程性能已惡化 —— 而且可能還在惡化; 評價系統(tǒng)已改變。 86 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 出現(xiàn)低于均值的長鏈或邊續(xù)下降,通常表明存在下列情況之一: 過程性能已改進(應(yīng)研究其原因,并將它固定下來); 評價系統(tǒng)已改變。 注:當 很小時( 5以下),出現(xiàn)低于 的鏈的可能性增加,因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈來作為不合格品率降低的標志。 pn p87 奧邦科技 五大手冊之五 SPC c. 明顯的非隨機圖形 點到過程均值的距離:通常,在一個處于統(tǒng)計控制狀態(tài),僅存在普通原因變差并且其 中等較大的過程中,大約 2/3的點將在位于控制限中部三分之一的區(qū)域內(nèi);大約 1/3的點將位于控制限三分之二以內(nèi)的區(qū)域,大約 1/20的點將位于與控制限較接近的區(qū)域(外部三分之一區(qū)域)。 pn88 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 如果明顯多于 2/3的點位于與均值接近的地方(對于 25個分組,如果 90%以上的點位于控制限中部三分之一同),這就意味著下列一種或幾種情況: 控制限或描點的計算錯誤或描點錯誤; 過程或取樣方法重疊:每個子組包含來自兩個或多個具有不同平均性能的過程流的測量(例如:兩條平等的生產(chǎn)線的混合的輸出); 數(shù)據(jù)被編輯過(明顯偏離均值的值已換調(diào)或剔除)。 89 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 如果大大少于 2/3的點位于過程均值較近的區(qū)域(對于 25個子組, 40%以下的點位于中部三分之一的區(qū)域內(nèi)),則意味著存在下列情況之一或全部: 發(fā)生了計算或描點錯誤; 過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來自兩個或多個具有不同均值性能的過程流的測量(例如:每班之間性能的差異)。 如果存在幾個過程流,應(yīng)發(fā)別識別和跟蹤它們。 90 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C. 2 尋找并糾正特殊原因 對于應(yīng)用實時數(shù)據(jù)進行現(xiàn)行研究時,失控條件的分析包括及時調(diào)查過程的操作,將重點放在尋找發(fā)生什么樣的變化,可以解釋異常性以上,當該分析導(dǎo)致了采取糾正措施時,措施的效果會在控制圖上明顯地反應(yīng)出來。 91 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C. 3 重新計算控制限 當進行初始過程研究或?qū)^程能力重新評價時,應(yīng)重新計算試驗控制限,以便排除某些控制時期的影響。 由于樣本容量改變,現(xiàn)行的控制限將不等于分析時期得到的控制在這種情況下,使用 ,但是用需要的樣本容量 代替 。 新nn92 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 計算過程能力 若從實例得: = 目前的過程能力是 :功能檢驗的失效為 % (%合格 ) 評功價過程能力 如果進行 100%的功能檢驗并已選出不合格的產(chǎn)品, 顧客是得到免受不合格產(chǎn)品的保護 。 但是 3%的平均失效率 (要求返工或報廢 )是很浪費的 , 應(yīng)研究提高長期性能水平的措施 。 P93 奧邦科技 五大手冊之五 SPC D. 過程能力解釋 對于計數(shù)型控制圖,能力直接被定義為不合格品的平均百分數(shù)或比例。而計量型控制圖的以力指的是將 /或不將過程的中心高速到規(guī)范的目標值后,(穩(wěn)定)過程產(chǎn)生的總的(固有的)變差(
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