【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 據(jù) ， 可以分析一個(gè)過程的性能 ， 可以量化 所作的改進(jìn) ， 即使每個(gè)單值都在規(guī)范界限之內(nèi) ， 這一點(diǎn) 對(duì)尋求持續(xù)改進(jìn)來說是很重要的 。 計(jì)量型控制圖可以通過分布寬度（零件間的變異性） 和其位置（過程的平均值）來解釋數(shù)據(jù)。由于這個(gè)原因， 計(jì)量型數(shù)據(jù)用控制圖應(yīng)該始終成對(duì)準(zhǔn)備及分析 —— 一張 圖用于位置，另一張圖用于分布寬度。最常用的是 X圖 和 R圖。 35 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 第一節(jié) 均值和極差圖（ XR圖） A． 收集數(shù)據(jù) A． 1選擇子組大小 、 頻率和數(shù)據(jù) A． 2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) A． 3計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X） 和極差（ R） A． 4選擇控制圖的刻度 A． 5將均值和極差畫到控制圖上（初始研究 Initial study） 36 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC B． 計(jì)算控制限 B． 1 計(jì)算平均極差（ R） 及過程平均值 B． 2計(jì)算控制限 B． 3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線 C． 過程控制解釋 C． 1 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)（首先分析 R圖） a. 超出控制限的點(diǎn) b. 鏈 c. 明顯的非隨機(jī)圖形 C． 2 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因（極差圖） C． 3 重新計(jì)算控制極限（極差圖） X37 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) a. 超出控制限的點(diǎn) b． 鏈 c. 明顯的非隨機(jī)圖形 C． 5 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因（均值圖） C． 6 重新計(jì)算控制限（均值圖） C． 7 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限 a. 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ表示） b． 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d D D4 和 A2， 計(jì)算新的極差和控制限。 C. 8 有關(guān)“控制”的最后概念 —— 用于進(jìn)一步的考慮。 過程控制圖的目的不是完美的，而是合理、 經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài)。 38 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC D． 過程能力解釋 D． 1 計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D． 2 計(jì)算過程能力 D． 3 評(píng)價(jià)過程能力 D． 4 提高過程能力 D． 5 對(duì)修改的過程會(huì)制控制圖并分析 39 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC A． 收集數(shù)據(jù) A． 1 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) a． 子組大小 合理子組 一個(gè)子組內(nèi)的變差代表很短時(shí)間內(nèi)的零件的變差。 非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來的，相互間不存在 其他的系統(tǒng)的關(guān)系。 每個(gè)子組的變差主要應(yīng)是普通原因造成 b. 子組頻率 在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間收集足夠的子組來反映過程中的變化。 過程的初期研究，很短的時(shí)間間隔進(jìn)行分組，以便發(fā) 覺短時(shí)間的不穩(wěn)定因子。 當(dāng)證明過程已處于穩(wěn)定狀態(tài)下 (或已對(duì)過程進(jìn)行改善) ，子組間的時(shí)間間隔可以增加。 40 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC c. 子組數(shù)的大小 子組數(shù)越多，可確保變差的主要原因有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 一般情況下，子組數(shù)為 25以上，單值讀值為 100個(gè) 以上。 A． 2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 記錄日期 /時(shí)間、讀數(shù)和 X、 R A． 3 計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X） 和極差（ R） X= R=XmaxXmin A． 4 選擇控制圖的刻度 X圖上，坐標(biāo)上之 max/min為 X (maxmin)之兩倍。 R圖，坐標(biāo)上之最大刻度值為 Rmin之兩倍。 A． 5 將均值和極差畫到控制圖上 X1+X2+…..Xn n 41 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC B. 計(jì)算控制限 B． 1 計(jì)算平均極差 (R)及過程平均值 X （Ｋ為子組的數(shù)量） B． 2 計(jì)算控制限 UCLR=D4 R UCL=X+A2 LCLR=D3 R LCL=XA2 B． 3 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線 各控制限畫成水平虛線，在初始研究階段，這些被 稱為：試驗(yàn)控制限 X1+X2+…..X k K X= R1+R2+…..R K K R= 42 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C 過程控制解釋 C． 1 分析極差圖（ R圖）上的數(shù)據(jù)點(diǎn) a. 超出控制限的點(diǎn) —— 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一 個(gè)控制限，是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。因?yàn)? 在只存在普通原因引起變差的情況下，超出控制限 的點(diǎn)會(huì)很少，我們便假設(shè)該超出的是由于特殊原因 造成的。因此，任何超出控制限的點(diǎn)是立即進(jìn)行分 析，找出存在的特殊原因的信號(hào)。 43 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)； 零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大（即變壞），這 種增大可以發(fā)生在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)上，也可能是整個(gè)趨勢(shì)的 一部分； 測(cè)量系統(tǒng)變化（例如，不同的檢驗(yàn)員或量具）； 測(cè)量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪Α? 有一點(diǎn)位于控制限之下（對(duì)于樣本容量大于等于 7的 情況），說明存在下列情況的一種或幾種： 控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤； 分布的寬度變?。醋兒茫?； 測(cè)量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 44 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC b． 鏈 —— 有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢(shì) 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)； 連續(xù) 7點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降； 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： 輸出值的分布寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（例如設(shè)備工 作不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng)）或是由于過程中的某個(gè)要素變化（例如 ，使用新的不是很一致的原材料），這些都是常見的問題，需 要糾正； 測(cè)量系統(tǒng)改變（例如，新的檢驗(yàn)員或量具。） 低于平均極差的鏈，或下降鏈表明存在下列情況之一或全 部輸出值分布寬度減小，這常常是一具好狀態(tài)，應(yīng)研究以便推 廣應(yīng)用和改進(jìn)過程； 測(cè)量系統(tǒng)改變，這樣會(huì)遮掩過程真實(shí)性能的變化。 注：當(dāng)子組數(shù)（ n） 變得更?。?5或更?。r(shí)，低于的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減少。 45 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 明顯的非隨機(jī)圖形： 各點(diǎn)與 R的距離；一般地，大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限 的中間三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的三分之 二的區(qū)域。 如果顯著多于 2/3以上的描點(diǎn)落在離很近之外（低于 25 個(gè)子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限三分之一的區(qū)域） ，則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)； 過程或取樣方法被分層；每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩 個(gè)或多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測(cè)量值； 46 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差與均值相差甚遠(yuǎn)的幾個(gè)子組被更改 或剔除） 如果顯著少于 2/3以下的描點(diǎn)落在離很近的區(qū)域（對(duì) 于 25個(gè)子組，如果有償使用 40%或少于 40%的點(diǎn)落在中間 三分之一的區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或兩種進(jìn)行調(diào) 查： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)； 過程或抽樣方法造成邊疆的分組中飲食從兩個(gè)或多上具有 明顯不同的變化性的過程流的測(cè)量值（例如：輸入材料批 次混淆）。 47 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 2 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因（極差圖） 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，為了將生產(chǎn)的不合格輸出減到最小以及獲得診斷用的新證據(jù)，及時(shí)分析問題是很重要的。 48 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 3重新計(jì)算控制極限（極差圖） 排除所有受已被識(shí)別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差（ R） 和控制限 ，并畫下來。如有必要重復(fù)識(shí)別 /糾正 /重新計(jì)算的過程。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù) 據(jù)”。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)，我們有普通 原因引起的變差的基本水平的更好估計(jì)值。因?yàn)檫@用來檢 驗(yàn)將來出現(xiàn)變差的特殊原因的控制限提供了最適當(dāng)?shù)囊罁?jù) 。但是要記?。阂欢ㄒ淖冞^程，以使特殊原因不會(huì)作為 過程的一部分重視。 49 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)（ x） 由于的控制限取決于極差圖中的變差的大小，因此 如果均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，其變差便于極差圖中的變 差 —— 系統(tǒng)的普遍原因變差有關(guān)。如果均值沒有受控， 則存在造成過程位置不穩(wěn)定的特殊原因變差。 a. 超出控制限的點(diǎn) —— 出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出任一控 制限就證明在這點(diǎn)出現(xiàn)特殊原因。這是立即對(duì)操 作進(jìn)行分析的信號(hào)。在控制圖上標(biāo)注這樣的數(shù)據(jù) 點(diǎn)。 50 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC b. 鏈 —— 下列每一種情況都表明過程已開始變化或有變化的趨勢(shì)： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值的一側(cè)； 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降。 標(biāo)注這些促使人們作出決定的點(diǎn)；從該點(diǎn)做一條 參考線延伸到鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變 化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一 或兩者： 過程均值已改變 —— 也許還在變化； 測(cè)量系統(tǒng)已改變（飄移、偏差、靈敏度等）。 51 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC c. 明顯的非隨機(jī)圖形 各點(diǎn)與過程均值的距離：一般情況下，大約三分之二 的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限三分之一的中間區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn) 落在其它三分之二的區(qū)域。 1/20的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之 處（位于三分之一的區(qū)域）。另外，存在大約 1/150的點(diǎn)落 在控制限之外，但可認(rèn)為是受控的穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部