【正文】 分 —— 就是說在約 %的點位于控制限之內(nèi)。 如果大大超過 2/3的點落在過程均值的附近（對于 25個 子組的情況，如果有關人員 90%多的點在控制限三分之一 的中間區(qū)域），應調(diào)查下列情況之一或更多： 控制限或描點已計算錯或描錯或重新計算錯 ； 52 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 過程或取樣方法分層；每個子組包含從兩個或多個具有不 同均值的過程流的測量值； 數(shù)據(jù)已被編輯： 如果大大少于 2/3的數(shù)據(jù)點落在過程平均值的附近（對 于 25個分組的情況，如果有 40%或少于 40%的數(shù)據(jù)落在三 分之一區(qū)域內(nèi)），則應調(diào)查下列情況之一或兩者： 控制限或描點計算錯或描錯； 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個不同 過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行過度 控制造成的）。 如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 53 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 識別和標注特殊原因（均值圖） 為了診斷并將不合格的輸出減到最小，及時分析是很 重要的，同樣要記住并不是所有特殊原因都是不利的。 重新計算控制限（均值圖） 當進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除 已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點，重新計算并 描畫過程均值和控制限，確保當與新的控制限相比時，所 有的數(shù)據(jù)點看起來都處于受控狀態(tài)，如有必要，重復識別 / 糾正 /重新計算的程序。 如果沒有明顯的證據(jù)表明已發(fā)現(xiàn)過程的特殊原因，任 何“糾正”措施將可能增加而不是減少過程輸出的總變異。 54 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 為了繼續(xù)進行控制延長控制限 當首批（或以往的）數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)，延長 控制限使之覆蓋將來的一段時期，如果過程中心偏離目標 值，這時還希望調(diào)整過程使之對準目標值，這些控制限可 用來繼續(xù)對過程進行監(jiān)視。 子組容量的變化將影響期望均值極差以及極差和均值 圖的控制限。這種情況可能會發(fā)生，例如：如果決定減少 樣本容量但增加抽樣頻率，這樣可以在不增加每天抽樣零 件總數(shù)據(jù)的情況下，更快地檢測到大的過程變化。 55 奧邦科技 五大手冊之五 SPC R?????新 RUCLR=D4 新 UCL= 新 LCLR=D3 新 LCL= 新 RAX 2? 2?R 只要過程的均值和極差保持受控，可將控制限延長用 于以后的時期。如果有證據(jù)表明過程的均值或極差已被改 變（不論在哪個方向），應查明原因；如果變化是可調(diào)整 的，則應根據(jù)當前的性能重新計算控制限。 a. 估計過程的標準偏差（用 表示） 用現(xiàn)在的子組容量 計算： /d2 b. 按照新的子組容量查表得到系數(shù) D D D4和 A2， 計算 新的極差和控制限： 56 奧邦科技 五大手冊之五 SPC D 過程能力解釋 假設下的過程能力的解釋： 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)； 過程的各測量值服從正態(tài)分布； 工程及其它規(guī)范準確地代表顧客的需求； 設計目標值位于規(guī)范的中心。 一般情況下，將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比，看是否 始終滿足這些規(guī)范。 如果不知道分布是否是正態(tài)分布，則應進行正態(tài)性檢驗使 用諸如審查直方圖，在正態(tài)分布紙上描點。 57 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 計算過程的標準偏差 使用平均極差來估計過程的標準偏差。 22/ dRdR ?? ?? ??n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 只要過程的極差和均值兩者都處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，則可用估計的過程標準偏差（ ）來評價過程的能力。 2/ dR???58 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 計算過程能力 對于單邊容差，計算： Z= 或 Z= （ 選擇合適的一個） 2dRXUSL??? 2dRLSLX???式中： SL=規(guī)范界限， =測量的過程均值， =估計的過程標準偏差。 X 2/d??59 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 對于雙向容差，計算： ZUSL= ZLSL= 2dRXUSL??? 2dRLSLX???Zmin=ZUSL或 ZLSL的最小值 式中： USL， LSL=規(guī)范上限和下限； Z值為負值說明過程均值超過規(guī)范。 60 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 可使用 Z值和標準正態(tài)分布表來估計多少比例的輸出會超出規(guī)范值（是一個近似值，假設過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)并呈現(xiàn)正態(tài)分布）： 對于單邊容差，沿著的邊緣，找到 Z值。表的左邊為 Z的整數(shù)部分和十分位值，上端為 Z值的百分位值，行和列的交點的值即為超出規(guī)范的百分比 Pz 。 例如，對于 Z=， Pz= 6%。 對于雙向容差，分別計算超過上、下規(guī)范界限的百分比。例如，如果 ZUSL=， ZLSL= ， 則總的超出規(guī)范界限的值為 PzUSL+PzLSL=+= %。 61 奧邦科技 五大手冊之五 SPC Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) Cpk， 按下式定義： 的最小值即或即????????????????????????????????2333min2/ dRdRLSLXCPLXUSLCPUZCpk??Zmin=3的過程，其能力指數(shù) Cpk=； 如果 Zmin=4， 則過程能力指數(shù)為 Cpk=。 62 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 評價過程能力 例如，某些程序的全面能力指數(shù)要求 Zmin≥3， 或 Cpk≥， 對于影響被選重要產(chǎn)品特性的新過程的能力指 數(shù)要求為 Zmin≥4或 Cpk≥。 對輸出進行篩選，根據(jù)需要進行報廢或返工處置（這樣會 增加成本和容許浪費）； 改變規(guī)范使之與過程性能一致（這樣既不能改進過程也不 能滿足顧客要求）。 以上兩種方法與過程改進相比顯然是下策。 63 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 提高過程能力 為了提高過程能力，必須重視減少普通原因。必須將注意力直接集中在系統(tǒng)中，即造成過程變異性的根本要素上，例如：機器性能、輸入材料的一致性、過程操作的基本方法、培訓方法或工作環(huán)境。一般來說，糾正這些造成不可接受的過程能力的系統(tǒng)原因可能會超出操作者或者他們的現(xiàn)場管理人員的能力。相反，需要采取管理層介入做一些基本的變化、分配資源、并為改進過程的整個性能進行協(xié)調(diào)，用短期的局部措施來糾正系統(tǒng)是不會成功的。 64 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 對修改的過程繪制控制圖并分析 對過程已采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應在控制圖上表現(xiàn)出來，控制圖更成了驗證措施是否有效的一種方式。 在對過程實施改變時，應仔細的監(jiān)視控制圖。 65 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 第二節(jié) 均值和標準差圖 樣本的標準差 s是過程變異性更有效的指標，尤其是對于樣本容量較大的情況，一般來說，當出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 s圖代替 R圖： 數(shù)據(jù)是由計算機按實時時序記錄和 /或描圖的，則 s的計算程序容易集成化； 有方便適用的袖珍計算器使 S的計算能簡單按程序算出； 使用的子組樣本容量較大，更有效的變差量度是合適的。 A、 收集數(shù)據(jù) 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄在單獨的數(shù)據(jù)表上，只有每組的 和 S 出現(xiàn)在圖上； X S = ? ? 222211 ????? ??nXnXnXX ii 66 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B、 計算控制限 計算極差的平均值，記為 RDUC L R 4? RXUCL AX~~2~ ??RLC L R 3? RXLCL AX~~2~ ??C、 過程控制解釋 與 大致相同 RX?67 奧邦科技 五大手冊之五 SPC D、 過程能力解釋 與 大致相同 估計過程標準偏差： RX ? 2dR??? 如果過程服從正態(tài)分布，只要中位數(shù)和極差處于統(tǒng)計控制 狀態(tài)，則可直接用 σ估計值業(yè)評價過程能力。 68 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 第四節(jié) 單值和移動極差圖 （ XMR Chart） 在下列數(shù)種情況下，使用個別值與移動全距管制圖 （ XR Chart） 1． 分析或測試一件產(chǎn)品之品質(zhì)特性，手續(xù)較為麻煩，需花費 很多時間，而有誤工作時效者。 2．所選取之樣本，系屬于一種極為均勻一致之產(chǎn)品，如像液 體或氣體，幾個測定值沒有意義，只要一點就可以時。 3．有些產(chǎn)品需要經(jīng)過一段很長之時間，才能制造完成，如此 才獲得一個測定值 4．產(chǎn)品系非常貴重之物品，測試一個樣本即損失很多金錢者。 5．破壞性之試驗，每檢驗一個產(chǎn)品，即損失一個。 6．管制制造條件如：溫度、壓力、濕度等。 69 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 單值控制圖，要注意下面四點： 單值控制在檢查過程變化時不如 XR圖敏感； 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心； 單值控制圖不能區(qū)分過程的零件間重復性，因此，在很多情況下，最好還是使用常規(guī)的子組樣本容量較?。?2到 4） 的控制圖，盡管在子組間都要求較長的時間； 由于每一子組僅有一個單值， 和 值會有較大的變異性 ，（即使過程是穩(wěn)定的）直到子組數(shù)達到 100以上為止。 RX?X??70 奧邦科技 五大手冊之五 SPC A、 收集數(shù)據(jù) 在數(shù)據(jù)圖上從左至右記錄單值讀數(shù)（ X） 單值圖（ X圖）的刻度可為最大單值讀數(shù)與最小單值讀數(shù) 之差的 2倍。 移動極差（ MR） 圖的刻度間隔應與 X圖一致。 71 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B、 計算控制限 控制界限之計算 KXXXXX KKX ??????? ??321 Rm=每組之最大值 每組之最小值 1??? ? nK RmmRRm： 移動全距 K： 樣本組數(shù) n： 一次取用的測定值個數(shù) 72 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 不同 n的移動全距 1??? ?nK RmRm測定值X1 43 50 49 45 51 42