【正文】 SPC D 過程能力解釋 假設(shè)下的過程能力的解釋： 55 奧邦科技 五大手冊之五 SPC R?????新 RUCLR=D4 新 UCL= 新 LCLR=D3 新 LCL= 新 RAX 2? 2?R 只要過程的均值和極差保持受控，可將控制限延長用 于以后的時期。 子組容量的變化將影響期望均值極差以及極差和均值 圖的控制限。 如果沒有明顯的證據(jù)表明已發(fā)現(xiàn)過程的特殊原因，任 何“糾正”措施將可能增加而不是減少過程輸出的總變異。 53 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 識別和標(biāo)注特殊原因（均值圖） 為了診斷并將不合格的輸出減到最小，及時分析是很 重要的，同樣要記住并不是所有特殊原因都是不利的。 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個不同 過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)行過度 控制造成的）。 數(shù)據(jù)已被編輯： 如果大大少于 2/3的數(shù)據(jù)點落在過程平均值的附近（對 于 25個分組的情況，如果有 40%或少于 40%的數(shù)據(jù)落在三 分之一區(qū)域內(nèi)），則應(yīng)調(diào)查下列情況之一或兩者： 控制限或描點已計算錯或描錯或重新計算錯 ； 52 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 另外，存在大約 1/150的點落 在控制限之外，但可認(rèn)為是受控的穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部 分 —— 就是說在約 %的點位于控制限之內(nèi)。 51 奧邦科技 五大手冊之五 SPC c. 明顯的非隨機(jī)圖形 各點與過程均值的距離：一般情況下，大約三分之二 的描點應(yīng)落在控制限三分之一的中間區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點 落在其它三分之二的區(qū)域。 過程均值已改變 —— 也許還在變化； 標(biāo)注這些促使人們作出決定的點；從該點做一條 參考線延伸到鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變 化趨勢或變化的時間。 連續(xù) 7點在平均值的一側(cè)； 在控制圖上標(biāo)注這樣的數(shù)據(jù) 點。 a. 超出控制限的點 —— 出現(xiàn)一點或多點超出任一控 制限就證明在這點出現(xiàn)特殊原因。 49 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C． 4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點（ x） 由于的控制限取決于極差圖中的變差的大小，因此 如果均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，其變差便于極差圖中的變 差 —— 系統(tǒng)的普遍原因變差有關(guān)。因為這用來檢 驗將來出現(xiàn)變差的特殊原因的控制限提供了最適當(dāng)?shù)囊罁?jù) 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù) 據(jù)”。 48 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C． 3重新計算控制極限（極差圖） 排除所有受已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差（ R） 和控制限 ，并畫下來。 過程或抽樣方法造成邊疆的分組中飲食從兩個或多上具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（例如：輸入材料批 次混淆）。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差與均值相差甚遠(yuǎn)的幾個子組被更改 或剔除） 如果顯著少于 2/3以下的描點落在離很近的區(qū)域（對 于 25個子組，如果有償使用 40%或少于 40%的點落在中間 三分之一的區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或兩種進(jìn)行調(diào) 查： 控制限或描點已計算錯或描錯； 45 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C． 明顯的非隨機(jī)圖形： 各點與 R的距離；一般地，大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限 的中間三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的三分之 二的區(qū)域。 測量系統(tǒng)改變，這樣會遮掩過程真實性能的變化。 輸出值的分布寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（例如設(shè)備工 作不正常或固定松動）或是由于過程中的某個要素變化（例如 ，使用新的不是很一致的原材料），這些都是常見的問題，需 要糾正； 測量系統(tǒng)改變（例如，新的檢驗員或量具。 連續(xù) 7點位于平均值的一側(cè)； 分布的寬度變?。醋兒茫? 有一點位于控制限之下（對于樣本容量大于等于 7的 情況），說明存在下列情況的一種或幾種： 測量系統(tǒng)變化（例如，不同的檢驗員或量具）； 控制限計算錯誤或描點時描錯； 因此，任何超出控制限的點是立即進(jìn)行分 析，找出存在的特殊原因的信號。 A． 5 將均值和極差畫到控制圖上 X1+X2+…..Xn n 41 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B. 計算控制限 B． 1 計算平均極差 (R)及過程平均值 X （Ｋ為子組的數(shù)量） B． 2 計算控制限 UCLR=D4 R UCL=X+A2 LCLR=D3 R LCL=XA2 B． 3 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線 各控制限畫成水平虛線，在初始研究階段，這些被 稱為：試驗控制限 X1+X2+…..X k K X= R1+R2+…..R K K R= 42 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C 過程控制解釋 C． 1 分析極差圖（ R圖）上的數(shù)據(jù)點 a. 超出控制限的點 —— 出現(xiàn)一個或多個點超出任何一 個控制限，是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。 記錄日期 /時間、讀數(shù)和 X、 R A． 3 計算每個子組的均值（ X） 和極差（ R） X= R=XmaxXmin A． 4 選擇控制圖的刻度 一般情況下，子組數(shù)為 25以上，單值讀值為 100個 以上。 子組數(shù)越多，可確保變差的主要原因有機(jī)會出現(xiàn)。 當(dāng)證明過程已處于穩(wěn)定狀態(tài)下 (或已對過程進(jìn)行改善) ，子組間的時間間隔可以增加。 過程的初期研究，很短的時間間隔進(jìn)行分組，以便發(fā) 覺短時間的不穩(wěn)定因子。 在適當(dāng)?shù)臅r間收集足夠的子組來反映過程中的變化。 合理子組 過程控制圖的目的不是完美的，而是合理、 經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài)。 35 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 第一節(jié) 均值和極差圖（ XR圖） A． 收集數(shù)據(jù) A． 1選擇子組大小 、 頻率和數(shù)據(jù) A． 2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) A． 3計算每個子組的均值（ X） 和極差（ R） A． 4選擇控制圖的刻度 A． 5將均值和極差畫到控制圖上（初始研究 Initial study） 36 奧邦科技 五大手冊之五 SPC B． 計算控制限 B． 1 計算平均極差（ R） 及過程平均值 B． 2計算控制限 B． 3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線 C． 過程控制解釋 C． 1 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點（首先分析 R圖） a. 超出控制限的點 b. 鏈 c. 明顯的非隨機(jī)圖形 C． 2 識別并標(biāo)注特殊原因（極差圖） C． 3 重新計算控制極限（極差圖） X37 奧邦科技 五大手冊之五 SPC C． 4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 a. 超出控制限的點 b． 鏈 c. 明顯的非隨機(jī)圖形 C． 5 識別并標(biāo)注特殊原因（均值圖） C． 6 重新計算控制限（均值圖） C． 7 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 a. 估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ表示） b． 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d D D4 和 A2， 計算新的極差和控制限。由于這個原因， 計量型數(shù)據(jù)用控制圖應(yīng)該始終成對準(zhǔn)備及分析 —— 一張 圖用于位置，另一張圖用于分布寬度。 計量型數(shù)據(jù)的控制圖應(yīng)用廣泛，有如下原因： 大多過程和其輸出具有可測量的特征 ， 所以其潛在應(yīng)用很廣； 量化的值 （ 例如： “ 直徑為 ”） 比簡單的是否陳述（ 例 如： “ 直徑符合規(guī)范 ” ） 包含的信息更多； 雖然獲得一個測得的數(shù)據(jù)比獲得一個通過或不通過的數(shù)據(jù)成本 高，但為了獲得更多的有關(guān)過程的信息而需要檢查的件數(shù)卻較 少，因此，在某些情況下測量的費用更低； 第 II章 計量型數(shù)據(jù)控制圖 34 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 由于在作出可靠的決定以前 ， 只需檢查少量產(chǎn)品 ， 因 此可以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時間間隔； 用計量型數(shù)據(jù) ， 可以分析一個過程的性能 ， 可以量化 所作的改進(jìn) ， 即使每個單值都在規(guī)范界限之內(nèi) ， 這一點 對尋求持續(xù)改進(jìn)來說是很重要的 。 區(qū)分普通變差和特殊變質(zhì) ， 采取措施 必須調(diào)查過程本身 ， 而且一般 來說 ， 必須采取管理措施來改進(jìn)系統(tǒng) 。 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 說明： 當(dāng)所有的特殊原因被消除后 ， 過程在統(tǒng) 計控制狀態(tài)下運行 ， 可繼續(xù)使用控制圖 作為監(jiān)控工具 ， 也可計算過程能力 。 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算試驗控制限 新的過程參數(shù)確定后，回轉(zhuǎn)至“分析過程” 圖 4過程改進(jìn)循環(huán) 措施 研究 第六節(jié) 持續(xù)改進(jìn)過程循環(huán)的各個階段 29 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 上控制限 中 心 線 下控制限 收集 —— 分析過程 普通原因變差 第六節(jié) 持續(xù)改進(jìn)過程循環(huán)的各個階段 28 奧邦科技 五大手冊之五 SPC 實施 計劃 研究 措施 計劃 實施 計劃 實施 措施 研究 分析 過程