【正文】 ZLSL ZUSL 要使過程能力達到 Cpk, 即 Zmin=4為了消除普通變差的 影響 ,提高實際過程能力 ,起到 預期目標的長期管理重新計算 σ new σ new = USL X Zmin = 4 = new 標準偏差從 44% 減小偏差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 過程能力提高 不改變過程中心 LSL USL ? X ZLSL ZUSL new 減小偏差 對產(chǎn)品合格率要求高的過程 采取不改變過程中心 減小過程偏差的措施 來提高產(chǎn)品的合格率 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 改變過程中心 LSL USL ? X ZLSL ZUSL 要使過程能力達到 Cpk, 即 Zmin=4為了消除普通變差的 影響 ,提高實際過程能力 ,起到 預期目標的長期管理重新計算 σ new σ new = USL X Zmin = 4 = 標準偏差從 31% 減小偏差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 改變過程中心 LSL USL ? X ZLSL ZUSL 減小偏差 對產(chǎn)品技術要求和合格 率要求都比較高的過程 采取既改變過程中心 又減小過程偏差的措 施來保證技術穩(wěn)定性 和提高產(chǎn)品的合格率 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 不變中心 ,放寬界限 LSL USL ? X ZLSL ZUSL 這只能作為臨時措施 容忍浪費和缺陷存在 用返工和剔除來滿足 USL=X+4σ=+4*= LSL=X4σ=*= 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 不變中心 ,放寬界限 LSL USL ? X ZLSL ZUSL 在緊急或讓步情況下 臨時放寬技術規(guī)范的 界限保證適量的供貨 告知和取得客戶同意 這只能作為臨時措施 容忍浪費和缺陷存在 用返工和剔除來滿足 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 調(diào)整中心放寬規(guī)范界限 LSL USL ? X ZLSL ZUSL USL new LSL new 放寬控制界限是一種消極的辦法 適當調(diào)整中心比單純放寬要積極 USL=X+4σ=+4*= LSL=X4σ=*= 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 調(diào)整中心放寬規(guī)范界限 LSL USL ? X ZLSL ZUSL USL new LSL new 放寬控制界限是一種消極的辦法 適當調(diào)整中心比單純放寬要積極 與產(chǎn)品價值相比改進 成本相對較高的情況 調(diào)整過程中心同時 等距放寬規(guī)范界限 以較小的成本提高 合格率并保持均衡 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 過程能力的改進和提高要從幾個方面綜合考慮 客戶的利益需求 產(chǎn)品的重要程度 供貨的緊急情況 過程改進的成本 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC 計量型數(shù)據(jù)控制圖 均值 標準差圖 (Xs) 適用于過程數(shù)據(jù)自動采集 ,計算 .子組樣本容量較大 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC。 出現(xiàn)趨勢性傾向 : 連續(xù) 7個點上升或下降， 連續(xù) 7個點在平均值一側(cè)， 要查清原因，予以糾正。 UCLL C LR不受控制過程的極差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 (R)上的數(shù)據(jù) 連續(xù) 7個點有上升或下降趨勢 說明離散度正在變化，系統(tǒng)原因在逐步起作用 UCLL C LR不受控制過程的極差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 (R)上的數(shù)據(jù) 連續(xù) 7個點在平均值上側(cè)或下側(cè) ,但趨勢平穩(wěn) 說明離散度不在變化，某個普通原因在持續(xù)起作用 UCLL C LR不受控制過程的極差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 (R)上的數(shù)據(jù) 出現(xiàn)明顯非隨機圖形：一般情況下 三分之二的點落在控制線的三分之一的區(qū)域內(nèi) 三分之一的點落在控制線的三分之二的區(qū)域內(nèi) UCLL C LR不受控制過程的極差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 (R)上的數(shù)據(jù) 出現(xiàn)明顯非隨機圖形：一般情況下 三分之二的點落在控制線的三分之一的區(qū)域內(nèi) 三分之一的點落在控制線的三分之二的區(qū)域內(nèi) UCLL C LR不受控制過程的極差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 （極差圖） 在發(fā)生特殊原因時，在控制圖上進行標注 應用直方圖 ,因果圖等 .分析特殊原因 應用排列圖 ,對策表等 .擬定針對措施 應用矩陣圖 ,系統(tǒng)圖等 .落實改進措施 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 （極差圖） 通過初次研究 把已被識別的特殊原因 ,從 R和 X中去除 重新計算新的平均極差和上下控制界限 注意 :不明原因的“壞數(shù)據(jù)”不能輕易去除 ,否則會掩蓋某些因素 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 分析均值圖 ( X )上的數(shù)據(jù) 超出控制界限： 是特殊原因造成的。 當確認過程是穩(wěn)定的以后 ,根據(jù)穩(wěn)定的情況 可適當放長間隔時間 . 合理子群包括： 子群內(nèi)的共有原因誤差 子群之間的可指出原因誤差 100080060040020050403020100 1 0時間 Y 因變量 共有原因誤差 可指出 (特殊 )原因誤差 使子群內(nèi)的誤差最小化 使子群間的誤差最大化 合理子群 每個方格都代表一個子群的數(shù)據(jù) 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 原始數(shù)據(jù)： 決定子組數(shù)多少的二個原則 要確保產(chǎn)生變差的原因有機會出現(xiàn) 要能夠檢驗和判斷過程的穩(wěn)定狀態(tài) 一般情況下 子組數(shù) 25個以上 , 零件總數(shù) 150個以上 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 原始數(shù)據(jù)： 組號i X i 1 X i 2 X i 3 X i 4 X i 5注 : i = 1 .2 ……k . k 為樣本組數(shù)組中觀測值原始基本數(shù)據(jù)Xi Ri樣本均值 樣本極差 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 建立控制圖 應先作 R 圖 ,等 R 圖穩(wěn)定以后 ,再作 X 圖 .(GB/T40912023) 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 建立控制圖 X R圖 : X 圖在上 R 圖在下 縱坐標為 X R值 ,橫坐標為子組取樣時間 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 與控制有關的數(shù)據(jù) : 讀數(shù)的和 ,均值 ,極差 與管理有關的數(shù)據(jù) : 日期 ,時間 ,對象 ,記錄者 X ?R 控制圖 ? 初始研究”6月8日 6月9日 6月10日 6月11日 6月12日8:00 10:00 12:00 2:00 8:00 10:00 12:00 2:00 8:00 10:00 12:00 2:00 8:00 10:00 12:00 2:00 8:00 10:00 12:00 2:001 2 3 4 5 和讀數(shù)數(shù)量 樣本容量小于 7 個的情況，沒有極限的下控制限 R = 最高 最低 X 和 工廠 :機器編號： 讀數(shù)日期：部門： 計算控制限的日期： 工程規(guī)范：特性： 樣本容量 / 頻率工序：1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 201 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20日期時間 極差（ R 圖）RAXX 22 XLCL RAX UCL ==+=== 均值 34 ====== RDUCLRDUCLRR 均值）圖（均值 X統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC X 均值圖 R 極差圖 數(shù)據(jù)表 讀數(shù)數(shù)值 子樣時間 管理數(shù)據(jù) 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 計算每個子組的均值 ( X )和極差 ( R ) n Σ i=1 X X1 Xi = = + X2 X3 Xn + + + … n R = Xmin Xmax n 1 X為子樣測量值 n為子樣總量值 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 選擇控制圖刻度 均值圖 (X圖 ):最大與最小刻度值差是均 值最大與最小值差的 2倍 極差圖 (R圖 ):最小值為零與最大值的差 為最大極差值的 2倍 極差圖 (R圖 )的刻度值設置為均值圖 (X圖 ) 刻度值的 2倍 (使二圖的控制限寬度相近 ,便于觀察和分析 ) 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 1. 原始數(shù)據(jù)收集 將均值 (X)和極差值 (R)畫到控制圖上 先在表上找到數(shù)據(jù)的坐標 ,畫點 ,然后用線段依 次將各點連起來形成一個折線圖形 . 同一數(shù)據(jù)的均值圖縱坐標和極差圖縱坐