【正文】 2/3的區(qū)域 。 1/150的點(diǎn)落在控制限之外 （ 可以是合理的 ） 。 七、控制圖 受控的圖型 A B C C B A UCL LCL CL 69 控制圖的判讀 二 、 非受狀態(tài)下的控制圖 。 說明在這點(diǎn)存在特殊原因 ， 應(yīng)立即對過程進(jìn)行分析 。 或者應(yīng)檢驗(yàn)這點(diǎn)是否屬描點(diǎn)錯誤 。 七、控制圖 70 控制圖的判讀 二 、 非受狀態(tài)下的控制圖 。 。 雖然鏈在控制線之間 ， 但也說明存在特殊原因 ， 應(yīng)從鏈的起點(diǎn)進(jìn)行分析 。 說明過程的中心線值已改變； 或者 ， 測量系統(tǒng)已改變 ， 如儀器靈敏度的變化 。 七、控制圖 UCL CL LCL 71 控制圖的判讀 二 、 非受狀態(tài)下的控制圖 （ 有 80%以上的點(diǎn)落在中心線附近三分之一的區(qū)域內(nèi) ） 鏈缺少變化 ， 屬非隨機(jī)圖型 ， 說明： 描點(diǎn)已計(jì)算錯； 過程取樣分層 ， 如 A過程取了 B過程的樣品 數(shù)據(jù)已被編輯過 ， 七、控制圖 72 控制圖的判讀 二 、 非受狀態(tài)下的控制圖 （ 連續(xù) 3點(diǎn) 中有 2點(diǎn) 、 7點(diǎn) 中有 3點(diǎn) 、 10點(diǎn) 中有 4點(diǎn)出 現(xiàn) 在 控制線 三分之一 處 。 ） 。 說明： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯或描錯； 過程或抽樣方法造成連續(xù)子組中包含不同流程的測量值。 七、控制圖 UCL CL LCL 73 控制圖的判讀 二 、 非受狀態(tài)下的控制圖 說明： 過程輸出材料循環(huán)變化 其他的過程中有規(guī)律的變化 ,如人員輪換，環(huán)境溫度的循環(huán)變化。 七、控制圖 74 控制圖的判讀 七、控制圖 聲明： 任何生產(chǎn)過程都永遠(yuǎn)無法達(dá)到一種完美的控制狀態(tài)，過程控制圖的目的不是完美的而是合理的、經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài)。因此，一個受控過程并不是圖上無任何失控之處的過程，如果一張控制圖從無失控點(diǎn)，我們應(yīng)嚴(yán)肅查問該操作本身是否“受控”。對應(yīng)用來說，一個受控的過程即是僅有很少的點(diǎn)失控，并且對失控點(diǎn)采取過措施。 75 B、 PChart控制圖：不良率控制圖 利用控制圖的原理 ,對制程中的不良率進(jìn)行控制 ,是 SPC中計(jì)數(shù)值最常用的分析圖形之一 . 用途 : 對突發(fā)事件 (特殊原因 )的影響程度及時(shí)了解 . 預(yù)測下一階段的不良率 . 七、控制圖 76 數(shù)據(jù)收集的要求： n：一般要求較大的子組容量 ， 例如 50到 200或者更多 ，即每個子組內(nèi)應(yīng)包括幾個不合格品 ， 如 5個 。 ：即按固定的時(shí)間來收集子集數(shù)據(jù) 。 時(shí)間的長短可能與子組容量有矛盾 。 我們可考慮按產(chǎn)品的生產(chǎn)周期確定分組頻率 。 k：一般應(yīng)是收集數(shù)據(jù)的時(shí)間要足夠長 ， 使得能找到所有可能的影響過程的變差源 。 一般應(yīng)包括 25個子組或更多的組數(shù) 。 七、控制圖 77 P控制圖中有關(guān)數(shù)據(jù)的計(jì)算： 每個批次不良率 P的計(jì)算 : P=每組不良數(shù) /檢驗(yàn)數(shù) 平均不良的計(jì)算 : P =∑Pi/k k為組數(shù) 上下控制線的計(jì)算方法 ， 按不同的子組容量 n可有下列兩種情況： 七、控制圖 78 控制線的計(jì)算 : 中心線 : CL = P =Pbar 在子組容量相同或相差不大 (20%以內(nèi) )時(shí) : UCL = P + 3√Pbar*( 1Pbar)/n LCL = P 3√Pbar*( 1Pbar)/n n為任一子組的容量 ,這時(shí)上下控制線為直線或近似為直線 。 若 LCL的值小于 0時(shí) ,以 0計(jì)算 ,因?yàn)椴涣悸什豢赡懿挥?0. 七、控制圖 79 控制線的計(jì)算 : 中心線 : CL = P =Pbar 在各批次或每天檢驗(yàn)數(shù)相差大時(shí) : UCLi = P + 3√Pbar*( 1Pbar)/ni LCLi = P 3√Pbar*( 1Pbar)/ni ni為對應(yīng)子組的容量 ,因?yàn)?ni不同 ， 故每一子組的上下控制線的值不同 ， 整個控制線就不是一條直線 。 我們在描點(diǎn)時(shí) ， 需計(jì)算每一子組的上下控制線 ， 只須將該子組的 P與該子組的上下線比較即可 。 若 LCL的值小于 0時(shí) ,以 0計(jì)算 ,因?yàn)椴涣悸什豢赡懿挥?0. 七、控制圖 80 七、控制圖 P P 各子組容量相等或近似相等時(shí)得到的控制線為直線 各子組容量相差較大相等時(shí)得到的控制線為不為直線 81 七、控制圖 日期 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 批量 12 k 15k 10k 11k 11k 8k 18k 18k k 1k 12k 1k 20k 10k 檢驗(yàn)數(shù) 315 315 200 315 315 400 600 600 500 100 1000 315 80 1200 200 不良數(shù) 14 15 8 11 12 10 15 8 10 0 4 7 1 10 5 不良率% 4 0 UCL 500 CL=P = 下面是某電鍍廠的產(chǎn)品不良率統(tǒng)計(jì)，其 P圖制作如下： 82 七、控制圖 UCL LCL CL 83 控制圖的判讀 因?yàn)槭遣涣悸士刂茍D ， 所以對過程輸出來說 ， 描點(diǎn)越低越好 、越接近于零越好；鏈越下降越好；均值下的鏈越長越好；均值下的點(diǎn)越多越好 。 但前題是取數(shù) 、 計(jì)算 、 描點(diǎn)應(yīng)合理和正準(zhǔn) 。 通常 ， 當(dāng)過程受控時(shí) ， 將有三分之二的點(diǎn)落在均值附近三分之一的區(qū)域內(nèi) ， 有三分之一的點(diǎn)落在均值外三分之二的區(qū)域內(nèi) ， 有大約 1/20的點(diǎn)落在控制線附近 。 七、控制圖 84 控制圖的判讀 控制圖發(fā)出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： ： 控制限或描點(diǎn)錯誤； 過程惡化 ， 在當(dāng)時(shí)那點(diǎn)惡化 ， 或作業(yè)惡化趨勢的一部份； 測量系統(tǒng)改變 ， 如檢驗(yàn)員或量規(guī)的關(guān)系 。 ： 除控制限或描點(diǎn)錯誤 、 測量系統(tǒng)改變的可能外 ， 可能是過程得到改進(jìn) ， 應(yīng)研究這種改進(jìn)并長期保持 。 七、控制圖 85 控制圖的判讀 控制圖發(fā)出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： 。 。 。 。 ： 發(fā)生了計(jì)算或描點(diǎn)錯誤； 取樣分層造成子組包含二個或多個不同均值的數(shù)據(jù) 。 七、控制圖 86 控制圖的判讀 控制圖發(fā)出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： ： 發(fā)生了計(jì)算或描點(diǎn)錯誤； 取樣分層造成子組包含二個或多個不同均值的數(shù)據(jù) 。 如：二個設(shè)備的產(chǎn)品；兩個班組的產(chǎn)品 。 七、控制圖 87 控制圖的判讀 控制圖發(fā)出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： ： 發(fā)生了計(jì)算或描點(diǎn)錯誤； 過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來自兩個或多個具有不同均值的數(shù)據(jù) 。 如兩條平行生產(chǎn)拉的產(chǎn)品的混合 。 七、控制圖 88 七、控制圖 89 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH