【正文】 外徑小于 250mm或內(nèi)、外徑之比小于 80%的縱向焊接接頭 113 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí) (A、 B、 C三個(gè)檢測(cè)級(jí)別 ) 114 試塊 ? 標(biāo)準(zhǔn)試塊 ? CSKⅠA 115 ? CSKⅡA （ T=8120） 116 ? CSKⅡAm （ T=68） 117 ? CSKⅢA （ T=8120） 118 ? CSKⅣA （ T＞ 120400） 119 檢測(cè)準(zhǔn)備 ⑴、檢測(cè)面 ①、檢測(cè)區(qū)的寬度是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度 30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為 5mm，最大為 10 mm 120 ② 、 探頭移動(dòng)區(qū) ? 一次反射法 L== ? 直射法 L== ?式中： ? P— 跨距， mm； ? T— 母材厚度 ， mm； ? K— 探頭 K值； ③ 、探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，表面粗糙度 Ra應(yīng)小于等于 ，一般應(yīng)進(jìn)行打磨。 121 ⑵ 、探頭 ? K值（角度） 斜探頭的 K值（角度）選取參照下表規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大 K值探頭。 ⑶ 、 檢測(cè) 頻率 2MHz～ 5MHz。 122 ⑷ 、母材的檢測(cè) ? 對(duì)于 C級(jí)檢測(cè) ， 斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域 ， 應(yīng)先用直探頭檢測(cè) ， 以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在 。 該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄 ， 不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè) 。 母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下： ? 檢測(cè)方法：接觸式脈沖反射法 ， 頻率2MHz～ 5MHz的直探頭 ， 晶片直徑 10mm～25mm。 ? 檢測(cè)靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的 100%。 ?凡缺陷信號(hào)幅度超過熒光屏滿刻度 20%的部位 ， 應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記 ， 并予以記錄 。 123 距離 波幅曲線的繪制 ⑴、距離 波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，如果距離 波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測(cè)范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的 20%。 124 ⑵ 、距離 波幅曲線的靈敏度選擇 ? T=6mm～ 120mm ? 大于 120mm～ 400mm 125 ? 檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。 ? 檢測(cè)面曲率半徑 R? W2/4時(shí)，距離 波幅曲線的繪制應(yīng)在曲率相同的對(duì)比試塊上進(jìn)行。 ? 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償。一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等于 2dB時(shí)可不進(jìn)行補(bǔ)償。 ? 掃查靈敏度：不低于最大聲程處的評(píng)定線靈 敏度。 126 檢測(cè)方法 ⑴ 、平板對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè) ① 、縱向缺陷檢測(cè) ?鋸齒型掃查 — 斜探頭垂直于焊縫中心線放臵在檢測(cè)面上，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作 10176。 ～ 15176。 的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。 前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面。 127 ② 、橫向缺陷的檢測(cè) ? 在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成 10176。 ～ 20176。 作兩個(gè)方向的 斜平行掃查 ， 如焊接接頭余高磨平 ， 探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的 平行掃查 。 ? 對(duì)電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成45176。 的斜向掃查 。 128 ③ 、缺陷分析和測(cè)定掃查 為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，確定缺陷的位臵、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。 129 ⑵ 、曲面工件（ D0?500mm ）對(duì)接接頭檢測(cè) a） 檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊接接頭的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于受幾何形狀限制，無法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄。 b） 縱縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于 10%。 ?根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭 K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭。 130 ?探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和 K值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測(cè)定。 ?應(yīng)注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。 c） 環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的 ～ 131 ⑶ 、管座角焊縫的檢測(cè) ( P94) ①、檢測(cè)方式 ? 插入式 ? 在接管內(nèi)壁采用 直探頭檢測(cè)，位臵 1。 ? 在接管內(nèi)壁采用斜 探頭檢測(cè) ， 位臵 3。 ? 在容器外壁采用斜探 頭檢測(cè)，見位臵 2。 132 ? 安放式 ? 在接管內(nèi)壁采用直 探頭檢測(cè)，位臵 1。 ? 在接管外壁采用斜 探頭檢測(cè)，位臵 2。 ? 在接管內(nèi)壁采用斜 探頭檢測(cè)，位臵 3。 133 ②、檢測(cè)條件 ? 探頭：管座角焊縫檢測(cè)以直探頭為主 ? 雙晶直探頭 ?公稱頻率： 5MHz ?晶片面積 ≮ 150mm2 ? 單晶直探頭 ?公稱頻率： 2～ 5MHz ?晶片尺寸： φ14～ φ25mm ? 距離 波幅曲線靈敏度 ? 斜探頭的距離 波幅曲線靈敏度與對(duì)接接頭相同。 134 ? 直探頭距離 波幅曲線靈敏度見下表， ? 距離 波幅曲線的制作在 CSⅡ 試塊上進(jìn)行 135 ⑷ 、 T型焊接接頭的超聲檢測(cè)（ P94） ①、適用范圍 ? 厚度 6mm~50mm ? 全焊透 T型焊接接頭 ②、檢測(cè)方式 ? T型焊接接頭的檢測(cè)有三種檢測(cè)方式?？蛇x擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測(cè) 136 1）斜探頭從翼板外側(cè)用直射法進(jìn)行探測(cè)， 見位臵 1； 2）斜探頭在腹板一側(cè)用直射法或一次反射 法進(jìn)行探測(cè)，位臵 位臵 4； 3）直探頭或雙晶直探頭在翼板外側(cè)探測(cè)， 或者斜探頭（ K1探頭）在翼板外側(cè)探測(cè)，見位臵 3。位臵 3包括直探頭和斜探頭兩種掃查。 137 138 139 140 ③ 、探測(cè)條件 ? 斜探頭 K值的確定 ? 翼板外側(cè)探測(cè)，使用 K1 探頭； ? 腹板一側(cè)探測(cè)，探頭 K值根據(jù)腹板厚度按對(duì)接 接頭要求選擇。 ? 距離 波幅曲線靈敏度 ? 斜探頭探測(cè)，距離 波幅曲線靈敏度與對(duì)接接頭相同，（以腹板厚度為準(zhǔn)） ? 直探頭探測(cè)，距離 波幅曲線靈敏度應(yīng)以翼板厚度按下表確定 ? 對(duì)缺陷進(jìn)行等級(jí)評(píng)定時(shí)，均以腹板厚度為準(zhǔn)。 141 缺陷定量檢測(cè) ⑴ 、靈敏度：定量線靈敏度。 ⑵ 、對(duì)波幅達(dá)到或超過定量線的缺陷，均應(yīng)確 定其位臵、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。 ⑶ 、缺陷位臵測(cè)定 ? 缺陷位臵測(cè)定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波的位 臵為準(zhǔn) ， 包括缺陷深度和到焊縫中心線距離 。 142 ⑷ 、缺陷最大反射波幅的測(cè)定 將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波位臵，測(cè)定波幅大小，并確定它在距離 波幅曲線圖中區(qū)域。 ⑸ 、 缺陷定量 ① 、 缺陷當(dāng)量直徑 φ， 以當(dāng)量平底孔直徑表示 （ 用于直探頭檢測(cè) ） 。 可采用公式計(jì)算 、 距離波幅曲線和試塊比較法確定 。 ② 、 缺陷指示長(zhǎng)度 ΔL： ?當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn) ， 且位于Ⅱ 區(qū)或 Ⅱ 區(qū)以上時(shí) ， 使波幅降到熒光屏滿刻度的 80%后 ， 用 6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度； 143 ? 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于 Ⅱ 區(qū)或 Ⅱ 區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的 80%后，以端點(diǎn) 6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度； ? 當(dāng)缺陷反射波峰位于 Ⅰ 區(qū) ， 如認(rèn)為有必要記錄時(shí) ， 將探頭左右移動(dòng) ， 使波幅降到評(píng)定線 ， 以此測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度 。 缺陷評(píng)定 ⑴ 、 超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意是否具有裂紋 等危害性缺陷特征 ， 如有懷疑 ， 應(yīng)采取 改變探頭 K值 、 增加檢測(cè)面 、 觀察動(dòng)態(tài)波型 并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定 ， 如對(duì)波型不能 判斷時(shí) ， 應(yīng)輔以其他檢測(cè)方法作綜合判定 。 144 ⑵ 、 缺陷指示長(zhǎng)度小于 10mm時(shí) ， 按 5mm計(jì) 。 ⑶ 、 相鄰兩缺陷在一直線上 ， 其間距小于其 中較小的缺陷長(zhǎng)度時(shí) ， 應(yīng)作為一條缺陷 處理 ， 以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng) 度 （ 間距不計(jì)入缺陷長(zhǎng)度 ） 。 焊縫質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 （ 按波幅所在區(qū) 、 單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度 、 多個(gè)缺陷累計(jì)長(zhǎng)度 ， 將焊接接頭質(zhì)量分為 Ⅰ 、 Ⅱ 、 Ⅲ三個(gè)等級(jí) ， Ⅰ 級(jí)最高 ， Ⅲ 級(jí)最低 。 ） 145 146 、鋁及鋁合金制承壓設(shè)備（ P100）對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè) 適用范圍 ⑴、適用 ? 材料：鋁及鋁合金 ? 厚度： T?8mm ⑵ 、 不適用 ? D0＜ 159mm的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)焊縫； ? Di? 200mm的管座角焊縫； ? D0＜ 250mm或 r/R＜ 80%的縱焊縫 。 147 對(duì)比試塊 材質(zhì)與被檢鋁板聲學(xué)性能相同或相近。不得有? φ2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。 148 檢測(cè)準(zhǔn)備 ⑴ 、 檢測(cè)面 ? 檢測(cè)前 ， 應(yīng)清除探頭移動(dòng)區(qū)域飛濺 、 銹蝕 、 油垢等 。 ? 焊接接頭外觀及檢測(cè)表面經(jīng)檢查合格后 ， 方可進(jìn)行檢測(cè) 。 ⑵ 、 探頭的選擇 ? 一般使用頻率為 、 K2的斜探頭 。 如有必要 ， 也可選用其他參數(shù)的探頭 。 149 ⑶ 、 距離 波幅曲線的制作 ? 距離 波幅曲線應(yīng)在對(duì)比試塊上實(shí)測(cè)繪制。 ? 距離 波幅曲線的靈敏度 ⑷ 、 掃查靈敏度 ? 掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。 150 掃查方法： 與鋼對(duì)接焊接接頭相同。 缺陷定量檢測(cè) 與鋼對(duì)接焊接接頭相同 缺陷評(píng)定 與鋼對(duì)接焊接接頭相同 質(zhì)量分級(jí) （按波幅所在區(qū)和單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度分為三級(jí)） 151 152 附錄 M、鈦制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) (P142) 適用范圍 ? 適用： T? 8mm的鈦對(duì)接焊接接頭 ? 不適用 : ? D0＜ 159mm的鈦管對(duì)接焊接接頭； ? Di? 200mm的管座角焊縫隙； ? D0＜ 250mm或 r/R＜ 80%的縱焊縫 。 對(duì)比試塊 ? 對(duì)比試塊材質(zhì)應(yīng)與被檢鈦板性能相同或相近 ，不得有不得有 ? φ2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷 。 153 檢測(cè)準(zhǔn)備 ⑴ 、 檢測(cè)面 ? 檢測(cè)前 ， 應(yīng)清除探頭移動(dòng)區(qū)域飛濺 、 銹蝕 、 油垢等 。 表面粗糙時(shí)應(yīng)打磨平滑 。 ? 焊接接頭外觀及檢測(cè)表面經(jīng)檢查合格后 ， 方可進(jìn)行檢測(cè) 。 ⑵ 、 探頭的選擇 ? 一般使用頻率為 、 K2的斜探頭 。 如有必要 ， 也可選用其他參數(shù)的探頭 。 154 ⑶ 、 距離 波幅曲線的制作 ? 距離 波幅曲線應(yīng)在對(duì)比試塊上實(shí)測(cè)繪制。 ? 距離 波幅曲線的靈敏度 ⑷ 、 掃查靈敏度 ? 掃查靈敏度不低于評(píng)定線。 155 掃查方法：與鋼對(duì)接焊接接頭相同。 缺陷定量 ⑴ 、位于定量線或定量線以上的缺陷應(yīng)進(jìn)行幅度和指示長(zhǎng)度的測(cè)定。 ? 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用 6dB法測(cè)定其指示長(zhǎng)度； ?當(dāng)缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用端點(diǎn)6dB法測(cè)定其指示長(zhǎng)度；