電子顯微鏡第六章x射線顯微分析和俄歇能譜分析-資料下載頁
2025-01-20 09:04本頁面
【正文】 析 b) Mn的線分析 ? 面分析： 電子束在樣品表面掃描時 ，以某一元素的特征 X射線的信號強(qiáng)度調(diào)制陰極射線管熒光屏的亮度 ， 該元素在試樣表面的質(zhì)量分?jǐn)?shù)分布就能在熒光屏上以亮度分布顯示出來 （ 定性分析 ） 。 該方法可提供元素濃度的面分布不均勻性的資料 ， 并與材料的微觀組織聯(lián)系起來 。 ZnOBi2O3陶瓷燒結(jié)表面的面分布成分分析 (a) 形貌像； (b) Bi元素的 X射線面分布像 定量分析 ? 試樣中 A元素的相對含量 CA與該元素產(chǎn) 生的特征 X射線的強(qiáng)度 IA(X射線計數(shù) )成正比 : CA∝ IA 在相同的實驗條件下 ， 測量試樣和已知成份的標(biāo)樣中 A元素的同名 X射線 (如 Kα線 )強(qiáng)度 。 經(jīng)過修正計算 ， 就可以得出試樣中 A元素的相對百分含量 CA: CA為 A元素的百分含量 ， IA和 I(A)分別為試樣中和標(biāo)樣中 A元素的特征 X射線強(qiáng)度 ， K為修正因子： ZA FK ?Z為原子序數(shù)修正項 ， A為吸收修正項 ， F為二次熒光修正項 。
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1