失效分析ppt課件-資料下載頁
2025-01-14 14:17本頁面
【正文】 1） 根據(jù)失效模型的估計，假設(shè) F0(x)的函數(shù)形式2） 估計 F0(x)中的各參數(shù)值3） 對總體的分布函數(shù) F(x)作出假設(shè)： H0: F(x)=F0(x)4） 將區(qū)間（ ∞ ， ∞ ）根據(jù)具體情況分為 k個不 相交的區(qū)間5） 統(tǒng)計各區(qū)間的實際頻數(shù) mi6） 計算各區(qū)間的理論概率 pi檢驗步驟 ：7） 計算稱各區(qū)間的理論頻數(shù) npi8） 計算統(tǒng)計量 χ 29） 給定置信概率（顯著性水平）為 α10） 查上側(cè)分位數(shù)11） 確定否定域，作出拒絕或接受的判斷 例 : 220個產(chǎn)品的失效時間記錄如下所示 .試檢驗該產(chǎn)品的壽命是否服從指數(shù)分布 .時間t/h0100100200200300300400400500500600600700700800800900失效數(shù) /個39 50 35 32 28 18 12 4 2解 : 假設(shè)服從指數(shù)分布 ,參數(shù) λ 未知 ,其估計值 :假設(shè) :其中計算 :取顯著水平 α =,r=km1=6,查表 :由于 : 故拒絕原假設(shè) . KS檢驗 法 (亦稱 d檢驗法 )比 X方檢驗法精確 ,而且還適合 子樣容量較小的情況 。其 基本思想為 ： 構(gòu)造統(tǒng)計量可以證明隨機變量 z的分布函數(shù) 為χ 2檢驗法相同，對于給定的置信度 1α ， KS檢驗法的否定域為其中 ， zα 為隨機變量 z分布的上側(cè)分位數(shù)。 KS檢驗法的檢驗步驟與 χ 2檢驗法類
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