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正文內(nèi)容

spc培訓(xùn)ppt(編輯修改稿)

2025-03-13 12:55 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 力已很好,應(yīng)繼續(xù)維持。Cp≥ Ⅲ 過程能力充足,表示技術(shù)管理能力較勉強(qiáng),應(yīng)設(shè)法提高為 Ⅱ 級。Cp≥ Ⅳ 過程能力不足,表示技術(shù)管理能力已很差,應(yīng)采取措施立即改善。Cp Ⅴ 過程能力嚴(yán)重不足,表示應(yīng)采取緊急措施和全面檢查,必要時可停工整頓。542 【例】設(shè)有某工序的上公差 TU為,下公差 TL為 ,現(xiàn)場抽查的數(shù)據(jù)如下表,其圖如下圖 1。由圖 1可見,工序失控,經(jīng)過執(zhí)行 20字方針后,重新做圖得到休整后的圖 2。由圖2可見,工序已經(jīng)達(dá)到穩(wěn)態(tài)。故現(xiàn)在可對過程能力進(jìn)行評價。543Cp 計 算 數(shù) 據(jù) 子組序號 直徑 平均值 極差 RX1 X2 X3 X41 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 544圖 1545圖 2546解:于是,過程能力指數(shù)為:過程能力不夠充分,從圖 2發(fā)現(xiàn)分布中心μ= M=( TU+TL) /2=偏離,應(yīng)進(jìn)行調(diào)整。調(diào)整后, Cp值會有所提高。547(二)單側(cè)規(guī)范情況的過程能力指數(shù)1. 只有上限要求,而對下限沒有要求: 只適用于的范圍 :2. 只有下限要求,而對上限沒有要求: 只適用于的范圍 : 548 二、 有偏離情況的過程能力指數(shù) CPK (一)定義分布中心 μ 與公差中心 M的偏離 ε=∣Mμ∣, 以及 μ 與 M的偏離度 K為: 過程能力指數(shù)可修正為 (適用于偏離量 ε 不太大, K1的場合):549產(chǎn)品質(zhì)量分布的均值 μ 與公差中心 M不重合的情況TLM μT/2 TUPU ε550 (二)過程能力指數(shù) CP,偏離度 K和不合格品率 p之間的關(guān)系 551(五 )過程性能指數(shù) —— 長期過程能力指數(shù) Pp , PpkC系列過程能力指數(shù)Cp-無偏移短期過程能力指數(shù)Cpu-無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù)Cpl-無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù)Cpk-有偏移短期過程能力指數(shù)P系列過程性能指數(shù)Pp-無偏移過程性能指數(shù)Ppu-無偏移上單側(cè)過程性能指數(shù)Ppl-無偏移下單側(cè)過程性能指數(shù)Ppk-有偏移過程性能指數(shù)552 Ppk= min(Ppu,PpL)=( 1- K) Pp 短期過程能力指數(shù)與過程性能指數(shù)符號 名稱 計算公式Cp 無偏移短期過程能力指數(shù)Cpu 無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù)CpL 無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù)CpK 有偏移短期過程能力指數(shù)Pp 無偏移過程性能指數(shù)PpU 無偏移上單側(cè)過程性能指數(shù)PpL 無偏移下單側(cè)過程性能指數(shù)PpK 有偏移過程性能指數(shù)553 第四節(jié)第四節(jié) 常規(guī)控制圖分析和應(yīng)用常規(guī)控制圖分析和應(yīng)用一、合理子組原則 ■ 合理子組 (rational subgroup)原則 ? 組內(nèi)差異只由偶因造成組內(nèi)差異只由偶因造成 ? 組間差異主要是由異因造成組間差異主要是由異因造成 554 ( 1) 圖的控制線若 μ、 σ已知:若 μ、 σ未知: R控制圖的控制線555μ、 σ未知時,估計值可通過預(yù)備數(shù)據(jù)求得:所以:組號 觀測值 樣本均值 樣本極差 i Xi1 Xi2 Xi3 Xi4 Xi5 Ri i=1,m556557從 3σ方式,若 μR、 σR已知,有: 若 μR、 σR未知, ( 2) R圖的控制線558由數(shù)理統(tǒng)計可以導(dǎo)出:所以,559圖 :s圖: S圖560圖 :R圖: 561X圖 :Rs圖:(符號 “”表示取 LCL=0作為 Rs的自然下界)。XRs圖562 先作的圖 R、 s、 Rs中,上、下控制限系數(shù)分別為 D D3 ; B4 、 B3 ; D D3 后作的 中,控制限系數(shù)分別為 A2; A3 ; X圖中控制限系數(shù)為 n=2時的 A3值; Me圖中控制限系數(shù)為 A4。563為平均樣本不合格品率。 P圖564nP圖 565, Ci、 ni分別為第 i個樣本的單位不合格數(shù)、樣本大小, u圖566 平均樣本不合格數(shù) C圖5671.計量值控制圖( 1) 控制圖用于控制對象為長度、重量、強(qiáng)度、純度、時間、收率和生產(chǎn)量等計量值的場合。但此圖只適用于 n10的情況。( 2) 控制圖用標(biāo)準(zhǔn)差 s控制總體參數(shù) σ的變化,當(dāng)樣本量n10時, R圖的效率降低,用 s圖代替 R圖。568( 3) 圖 用中位數(shù)圖代替均值圖 ,多用于需要把測定數(shù)據(jù)直接記入控制圖的場合。它受異常數(shù)據(jù)的影響較少。( 4) 圖
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