spc培訓(xùn)ppt-wenkub
2023-03-14 12:55:27 本頁面
【正文】 σ=yx513μ μ+3σμ3σ % %%514（ 3）常規(guī)控制圖的形成CLUCLLCL8 9 10 11μ ＋ 3σμμ － 3σ515（二）控制圖原理的第一種解釋 (三 )cause)，是過程固有的，始終存在，對(duì)質(zhì)量的影響微小，但難以除去。n 偶然波動(dòng)：偶因引起質(zhì)量的波動(dòng) 根據(jù)這正常波動(dòng)，應(yīng)用統(tǒng)計(jì)學(xué)原理設(shè)計(jì)出控制圖相應(yīng)的控制界限，當(dāng)異常波動(dòng)發(fā)生時(shí)，點(diǎn)子就會(huì)落在界外。518四、控制圖的作用 狀態(tài)（穩(wěn)態(tài)）統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) (statestate)，即過程中只有偶因而無異因產(chǎn)生的變異的狀態(tài)。（不合格率）③ 在統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下，過程的變異最小。(1)alarm)。II523圖 213 控制圖的兩種錯(cuò)誤 加以應(yīng)用時(shí)需要經(jīng)過下列兩個(gè)步驟：(1)具體化。527 據(jù)使用的目的不同，控制圖分為：分析用與控制用控制圖。 ? 判異準(zhǔn)則 ? 判穩(wěn)準(zhǔn)則 ? 進(jìn)入日常管理后，關(guān)鍵是保持所確定的狀態(tài)。533 使用者信心 升升 ?α= % ?β 升 ? 點(diǎn)出界就判異 ?? β 增大時(shí)，追加準(zhǔn)則，即界內(nèi)點(diǎn)排列不隨機(jī)判異 2. 80年代起出現(xiàn)經(jīng)濟(jì)質(zhì)量控制 （ EQC）學(xué)派 思想： 從兩種錯(cuò)誤造成的總損失最小出發(fā)來設(shè)計(jì)控制圖與抽樣方案。界內(nèi)點(diǎn)排列不隨機(jī)判異。準(zhǔn)則 1： 一個(gè)點(diǎn)在 A區(qū)之外UCLLCLCLA B CCB A UCLLCLCLA B CCB A 準(zhǔn)則 2：連續(xù) 9個(gè)點(diǎn)在中心線同一側(cè)UCLLCLCLA B CCB A 準(zhǔn)則 3：連續(xù) 6個(gè)點(diǎn)遞增或遞減UCLLCLCLA B CCB A 準(zhǔn)則 4：連續(xù) 14個(gè)點(diǎn)上下交替返回目錄538判 準(zhǔn) UCLLCLCLA B CCB A 準(zhǔn)則 5:連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在同側(cè) B區(qū)以外UCLLCLCLA B CCB A 準(zhǔn)則 6:連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)在同側(cè) C區(qū)以外UCLLCLCLA B CCB A 準(zhǔn)則 7：連續(xù) 15個(gè)點(diǎn)在 C區(qū)內(nèi)UCLLCLCLA B CCB A 準(zhǔn)則 8：連續(xù) 8個(gè)點(diǎn)都不在 C區(qū)內(nèi)返回目錄539第三節(jié)第三節(jié) 過程能力與過程能力指數(shù)過程能力與過程能力指數(shù) 540 一、過程能力指數(shù)一、過程能力指數(shù) Cp（一）雙側(cè)規(guī)范情況的過程能力指數(shù)（一）雙側(cè)規(guī)范情況的過程能力指數(shù) T: 技術(shù)公差幅度 ,TU,TL分別為上 ,下規(guī)范界限 σ: 質(zhì)量特性分布的總體標(biāo)準(zhǔn)差 可用 來估計(jì) ,可用下面值估計(jì) : :平均樣本標(biāo)準(zhǔn)差 , :平均樣本極差 c4， d2可查表 .541過程能力指數(shù)過程能力指數(shù) Cp值的評(píng)價(jià)參考值的評(píng)價(jià)參考 Cp Ⅴ 過程能力嚴(yán)重不足，表示應(yīng)采取緊急措施和全面檢查，必要時(shí)可停工整頓。故現(xiàn)在可對(duì)過程能力進(jìn)行評(píng)價(jià)。解：547（二）單側(cè)規(guī)范情況的過程能力指數(shù)1. 只有上限要求，而對(duì)下限沒有要求： 只適用于的范圍 :2. 只有下限要求，而對(duì)上限沒有要求： 只適用于的范圍 : 548 二、 有偏離情況的過程能力指數(shù) CPK （一）定義分布中心 μ 與公差中心 M的偏離 ε=∣Mμ∣, 以及 μ 與 M的偏離度 K為： 過程能力指數(shù)可修正為 （適用于偏離量 ε 不太大， K1的場合）：549產(chǎn)品質(zhì)量分布的均值 μ 與公差中心 M不重合的情況TLM μT/2 TUPU ε550 （二）過程能力指數(shù) CP,偏離度 K和不合格品率 p之間的關(guān)系 551(五 )過程性能指數(shù) —— 長期過程能力指數(shù) Pp ， PpkC系列過程能力指數(shù)Cp－無偏移短期過程能力指數(shù)Cpu－無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù)Cpl－無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù)Cpk－有偏移短期過程能力指數(shù)P系列過程性能指數(shù)Pp－無偏移過程性能指數(shù)Ppu－無偏移上單側(cè)過程性能指數(shù)Ppl－無偏移下單側(cè)過程性能指數(shù)Ppk－有偏移過程性能指數(shù)552 Ppk＝ min(Ppu,PpL)＝（ 1－ K） Pp 短期過程能力指數(shù)與過程性能指數(shù)符號(hào) 名稱 計(jì)算公式Cp 無偏移短期過程能力指數(shù)Cpu 無偏移上單側(cè)短期過程能力指數(shù)CpL 無偏移下單側(cè)短期過程能力指數(shù)CpK 有偏移短期過程能力指數(shù)Pp 無偏移過程性能指數(shù)PpU 無偏移上單側(cè)過程性能指數(shù)PpL 無偏移下單側(cè)過程性能指數(shù)PpK 有偏移過程性能指數(shù)553 第四節(jié)第四節(jié) 常規(guī)控制圖分析和應(yīng)用常規(guī)控制圖分析和應(yīng)用 未知時(shí)，估計(jì)值可通過預(yù)備數(shù)據(jù)求得：圖560561X圖 :Rs圖：（符號(hào) “”表示取 LCL=0作為 Rs的自然下界）。563為平均樣本不合格品率。圖564nP控制圖用于控制對(duì)象為長度、重量、強(qiáng)度、純度、時(shí)間、收率和生產(chǎn)量等計(jì)量值的場合。 （ 4） 圖570控制圖數(shù)據(jù)列表圖 214 上下控制界線均呈現(xiàn)凹凸?fàn)畹?p圖 571（ 2） np圖但當(dāng)樣本大小 n變化時(shí)，
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