【正文】 預測 時間 范圍 目標值線 如果存在變差的特殊 原因，隨著時間的推 預測 移，過程的輸出不 穩(wěn)定。 只有過程變差的普通原因存在且不改變時，過程的輸出 才可以預測。 為了有效地使用過程控制的測量數(shù)據(jù)，了解變差的概念 是很重要的 變差： 過程的單個輸出之間 不可避免的差別 ；可以理解 為兩個產品之間的差別。 鏈 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點 。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 提供核心競爭力 (產品開發(fā)競爭力 ,品牌競爭力 …) 減少對常規(guī)檢驗的依賴性 ，定時的觀察以及系統(tǒng)的測量方法替代了大量的檢測和驗證工作； SPC的作用 ? 有了以上的預防和控制，我們的企業(yè)當然是可以： SPC的作用 ? SPC可以： 當過程僅受隨機因素影響時，過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài) （簡稱受控狀態(tài)）；當過程中存在偶然因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控狀態(tài)）。 SPC的產生 SPC即統(tǒng)計過程控制（ Statistical Process Control）。它對產品質量影響較小，在技術上難以消除，在經濟上也不值得消除。6σ SPC的產生 *第二次世界大戰(zhàn)后期 ,美國開始將休哈特方法在軍工部門推行 . *戰(zhàn)后經濟遭受嚴重破壞的日本在 1950年通過休哈特早期的一個同事戴明 ( Deming)博士 ,將 SPC引入日本 .從 1950~1980年 ,經過 30年努力 ,日本跨居世界質量與生產率的領先地位 .美國著名質量管理專家伯格 (Roger )指出 ,日本成功的基石之一就是 SPC SPC的產生 在生產過程中，產品的加工尺寸的波動是不可避免的。 正態(tài)分布中心與規(guī)格中心重合時 u177。于是，英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計方法代替事后檢驗的質量控制方法。 ? 1924年，美國的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運用于生產過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對過程變量進行控制，為統(tǒng)計質量管理奠定了理論和方法基礎。3σ u177。 它是由人、機器、材料、方法和環(huán)境等基本因素的波動影響所致。異常波動是由偶然性原因（異常因素）造成的。 SPC主要是指應用統(tǒng)計分析技術對生產過程進行實時監(jiān)控，科學的區(qū)分出生產過程中產品質量的隨機波動與異常波動，從而 對生產過程的異常趨勢提出預警 ， 以便生產管理人員及時采取措施，消除異常，恢復過程的穩(wěn)定，從而達到提高和控制質量的目的。 由于過程波動具有統(tǒng)計規(guī)律性，當過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機分布 ；而失控時，過程分布將發(fā)生改變。 對過程作出可靠的評估； 降低成本 贏得廣泛客戶 單值（ Individual） 一個單個的單位產品或一個特性的 一次測量 ，通常用符號 X 表示。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 特殊原因： （通常也叫可查明原因）是指造成不是始終 作用于過程的變差的原因，即當它們出現(xiàn)時將造成（整 個）過程的分布改變。 時間 范圍 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ? 局部措施 （由直接相關人員來實施） ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關的人員實施 ? 通常可糾正大約 15%的過程問題（工業(yè)經驗建議） ? 對系統(tǒng)采取措施 （管理者實施） ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 過程控制和過程能力 ? 過程控制系統(tǒng)的目的就是對過程當前和將來的狀態(tài)作出預測，以便對影響過程的措施作出經濟合理的決定。 適用于產品批量大且生產正 常、穩(wěn)定的工序。 適用于產品批量大且生產正 常、穩(wěn)定的工序。 計數(shù) 不合格品數(shù)控制圖 p 較常用，計算簡潔，作業(yè)人員易 于掌握。 樣本含量可以不等。 制圖 單位缺陷數(shù)控制圖 u 計算量大，控制曲線凹凸不平。C ） 工程更改處理時間（ h） X圖 R圖 使用控制圖的準備 建立適合于實施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應的資源 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關系，分析每個階段的影響 因素。 均值和極差圖（ XR）（以此圖為例詳細講解） 1數(shù)據(jù)收集 1 子組容量 通常子組容量選擇 2~5個。 ? 3 子組數(shù)量 ? 4 事件日志 包括子組編號，作業(yè)人，檢驗員，設備號，模具號及事 件的記錄。 32 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 16 LCLx=X A2R LCLR=D3R 17 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 ? 練習： ? XXX汽車零件制造公司，針對中軸車外圓工序中軸外徑進行初始過程能力分析 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值 不恒定的證據(jù)。 3 控制分析 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 311 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) ， 應分析 。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 b 一般情況，各點與 R 的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的中間1/3的區(qū)域內，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組，如果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調查： d1 控制