【正文】 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點離過程均值太近） 均值失控的過程（點離控制限太近） ? e1 一點遠離中心線并超過 3σ ? e2 連續(xù) 7點位于中心線一側(cè) ? e3 連續(xù) 6點上升或下降 ? e4 連續(xù) 14點圍繞中心線交替上下變化 ? e5 2/3的點距中心線的距離超過 2σ ? e6 4/5的點距中心線的距離超過 1σ ? e7 連續(xù) 15個點排列在中心線 1σ范圍內(nèi) ? e8 連續(xù) 8個點距中心線的距離大于 1σ 35 識別并標注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 33 重新計算控制限（極差圖） a 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應重新計算控制限，以排除失控 時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差 R和控制限，并畫下來，使所有點均處于受控狀態(tài)。 b 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗員或量具 ） c 有一點位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點時描錯 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： ? 連續(xù) 7點在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 6點連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設備工作不正常或固定松動 ） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設置為 X 圖刻度值的 2倍。如果預期的過程變化相對小，則應該有較大的子組容量。樣本含量較大。 只用特殊原因被查出且采取措施，否則它們將繼續(xù)不可 預測的影響過程的輸出。 更好地理解和實施質(zhì)量體系 二、 SPC常用術(shù)語解釋 名稱 解釋 平均值（ X） 一組測量值的 均值 極差（ R） 一個子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ（ Sigma） 用于代表標準差的希臘字母 標準差(Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ或字母 s（用于樣本標準差）表示。 SPC的產(chǎn)生 ? 過程能力原理 統(tǒng)計過程控制（ SPC）是一種 借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程控制工具。 3σ 原理 若質(zhì)量特性值 X服從正態(tài)分布 ,那么 ,在 177。正常波動是系統(tǒng)原因（不可避免因素）造成的。 為過程提供一個早期報警系統(tǒng) ，及時監(jiān)控過程的情況以防止廢品的發(fā)生 ； 但僅有口號是不夠的，首先我們需要認識統(tǒng)計過程控制系統(tǒng)的要素 預防與檢驗 制程控制系統(tǒng) 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 過程的呼聲 人 設備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲 我們工作的方式 /資源的融合 統(tǒng)計方法 顧客 識別不斷變化的需求量和期望 過程： 所謂過程指的是共同作用，以產(chǎn)生輸出的供應商、生產(chǎn)者、人、設備、輸入材料、方法和環(huán)境，以及使用輸出的客戶的集合，如上圖。 適用于產(chǎn)品批量大且生產(chǎn)正 常、穩(wěn)定的工序。 ＾ 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關(guān)心的是不合格品率？ 否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否恒定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 ? ? 各控制限畫成紅線。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：零件來自幾組軸中，抽樣時，每個子組包含每根軸上的零件來測取數(shù)據(jù)）。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 ? Ppk 過程性能指數(shù)：是指考慮過程有特殊原因引起的偏差時，樣本數(shù)據(jù)的過程性能。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 341 超出控制限的點： a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點時描錯 a2 過程已更改，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 b 一般情況，各點與 R 的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 16 LCLx=X A2R LCLR=D3R 17